一种微力测量弹片高度的智能系统技术方案

一种微力测量弹片高度的智能系统，包括以下步骤：步骤1：启动系统，建立通讯；步骤2：把校高参数A设为0；步骤3：执行校高/测高主体过程；首先，程序判断校高参数A是否为0；当校高参数A=0时，程序进入步骤3-1执行高度校准程序，按通讯协议发送校准高度指令，来控制机台；当校高参数A=1时，则进入下述步骤3-2执行高度测量程序，按通讯协议发送测高指令，来控制机台；接下来，执行下述步骤3-2-1：读缓冲区数据，然后读数据存储区测量平台的零点，再画出力-位移曲线图；当机台达到设定的微力且机台回到原来的位置时，程序执行下述步骤3-2-2：计算出被测弹片的高度，然后存入数据存储区，生成文字报告。本发明专利技术测量精度高，测量数据精度有高一致性。

【技术实现步骤摘要】
一种微力测量弹片高度的智能系统
本专利技术涉及一种测量系统，尤其是涉及一种利用微力测量弹片高度的智能系统。
技术介绍
现有的测量弹片高度的非接触式系统，将弹片放在测量平台2上，在弹片和测量平台2之间存在间隙，会导致测量精度差。现有的测量弹片高度的接触式系统，用手动工具测量弹片高度，因每次测量时操作人员所用的力度不同，而造成弹片变形不一致，造成测量精度差。现有的测量弹片高度的接触式和非接触式系统，其测量过程受到操作人员经验和水平的制约，测量精度的一致性差，可重复性差，且效率低。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题在于：克服现有技术的缺陷，提出一种利用微力测量弹片高度的智能系统。具有高精度、高效率、测量精度一致性好的诸多优点。为了解决上述问题，本专利技术提出了如下技术方案：一种微力测量弹片高度的智能系统，其包括一个机台和一个测量平台，该机台包括一个测量头、一个用户操作系统以及网络通讯接口；用该智能系统测量弹片高度包括以下步骤：步骤1：启动系统，建立通讯；当首次进行测量时，程序进入下述步骤1-1：首先启动测量系统，给机台上电打开系统，然后设定测量参数，系统参数进行初始化后，启动TCP/IP通讯；接着，程序循环执行下述步骤1-2：通过网络接收数据或发送控制指令将数据存入缓冲存储区，然后返回步骤1-2的程序入口，在启动TCP/IP通讯后，软件一直通过TCP/IP接收数据；步骤2：设置校高参数A的初始值，通过TCP/IP通讯的控制指令，把校高参数A设为0；步骤3：执行校高/测高主体过程；首先，程序判断校高参数A是否为0；当校高参数A=0时，程序进入步骤3-1执行高度校准程序，按通讯协议发送校准高度指令，来控制机台；接下来，程序执行下述步骤3-1-1：读缓冲区数据，然后画出力-位移曲线图，程序判断机台是否达到设定的微力并且机台是否回到原来的位置；当机台未达到设定的微力且机台未回到原来的位置时，则重复执行步骤3-1-1；当机台达到设定的微力且机台回到原来的位置时，程序执行下述步骤3-1-2：计算出测量平台的零点，存入数据存储区，把校高参数A设为1，此时完成了测量平台高度的校准；此时，完成了步骤3-1，然后返回步骤3的程序入口，再次判断校高参数A是否为0；当校高参数A=1时，则进入下述步骤3-2执行高度测量程序，按通讯协议发送测高指令，来控制机台；接下来，执行下述步骤3-2-1：读缓冲区数据，然后读数据存储区测量平台的零点，再画出力-位移曲线图，程序判断机台是否达到设定的微力且机台是否回到原来的位置；当机台未达到设定的微力且机台未回到原来的位置时，则重复执行步骤3-2-1；当机台达到设定的微力且机台回到原来的位置时，程序执行下述步骤3-2-2：计算出被测弹片的高度，然后存入数据存储区，生成文字报告；然后，程序执行下列步骤3-2-3：判断一次校高/每次校高参数B是否为0；当一次校高/每次校高参数B=0时，每次样品测量前均需校高，则把校高参数A设置为0，完成步骤3-2，程序返回步骤3的入口，重新判断校高参数A是否为0；当一次校高/每次校高参数B=1时，同规格的样品测量前仅需进行一次测量平台的校高，程序直接返回步骤3的入口，重新判断校高参数A是否为0。上述技术方案的进一步限定在于，上述一次校高/每次校高参数B的含义是：B=0，每次样品测量前均需校高，B=1同规格的样品测量前仅需进行一次测量平台2的校高。可根据用户需求进行选择设置。与现有技术相比，本专利技术具有如下有益效果：1、高精度：本专利技术的利用微力测量弹片高度的智能系统，通过微力压弹片，可以克服弹片放在测量平台上的间隙，同时也克服了测量人员力操作过程差异而造成的测量偏差，因而测量精度高。2、测量数据的精度具有高一致性：本专利技术的利用微力测量弹片高度的智能系统，通过微力设定控制机台，同时采集到力和位移的数据，通过预先设置的微力求出对应的高度，整个测量能很高程度地排除外部因素对测量过程和测量结果的影响，使得测量数据的精度具有高一致性。3、测量过程具有高可重复性，高效率：测量过程并不过多依赖于测量人员的操作经验，降低了操作人员对测量结果的影响，使得测量过程具有更高的可重复性，同时减少了人员判断的过程，提高了效率。4、用户可根据需求，选择设定测量平台进行一次校高或每次校高，能满足多元化的客户需求。5、操作方便：测量平台具有操作系统和网络通讯，使得测量操作过程和数据传输更简单方便。附图说明图1是本专利技术测量弹片高度的流程示意图。具体实施方式本专利技术提出一种微力测量弹片高度的智能系统，其包括一个机台1和一个测量平台2。其中，该机台1包括一个测量头、一个用户操作系统以及网络通讯接口。本专利技术微力测量弹片高度的智能系统，其测量弹片高度的方法的主体部分分为两个环节：1、校准测量平台2：当机台1的测量头接触到测量平台2的力达到设定的微力时，机台1回到原来的位置，同时采集力和位移的数据，计算出测量平台2的高度，并把此高度当作待测样品高度的位移零点；2、测量弹片的高度：当机台1的测量头接触到放在测量平台2上的弹片的力达到设定的微力时，机台1回到原来的位置，同时采集力和位移的数据，计算待测样品弹片的高度。如图1所示，利用上述智能系统来测量弹片高度包括如下步骤：步骤1：启动系统，建立通讯；当首次进行测量时，程序进入下述步骤1-1：首先启动测量系统，给机台1上电打开系统，然后设定测量参数，系统参数进行初始化后，启动TCP/IP通讯；接着，程序循环执行下述步骤1-2：通过网络接收数据或发送控制指令将数据存入缓冲存储区，然后返回步骤1-2的程序入口，在启动TCP/IP通讯后，软件一直通过TCP/IP接收数据。步骤2：设置校高参数A的初始值，通过TCP/IP通讯的控制指令，把校高参数A设为0。步骤3：执行校高/测高主体过程；首先，程序判断校高参数A是否为0；当校高参数A=0（Y）时，程序进入步骤3-1执行高度校准程序，按通讯协议发送校准高度指令，来控制机台1；接下来，程序执行下述步骤3-1-1：读缓冲区数据，然后画出力-位移曲线图，程序判断机台1是否达到设定的微力并且机台1是否回到原来的位置；当机台1未达到设定的微力、机台1未回到原来的位置时，则重复执行步骤3-1-1；当机台1达到设定的微力、机台1回到原来的位置时，程序执行下述步骤3-1-2：计算出测量平台2的零点，存入数据存储区，把校高参数A设为1，此时完成了测量平台2高度的校准；此时，完成了步骤3-1，然后返回步骤3的程序入口，再次判断校高参数A是否为0；当校高参数A=1（N）时，则进入下述步骤3-2执行高度测量程序，按通讯协议发送测高指令，来控制机台1；接下来，执行下述步骤3-2-1：读缓冲区数据，然后读数据存储区测量平台2的零点，再画出力-位移曲线图，程序判断机台1是否达到设定的微力且机台1是否回到原来的位置；当机台1未达到设定的微力且机台1未回到原来的位置时，则重复执行步骤3-2-1；当机台1达到设定的微力且机台1回到原来的位置时，程序执行下述步骤3-2-2：计算出被测弹片的高度，然后存入数据存储区，生成文字报告；然后，程序执行下列步骤3-2-3：判断一次校高/每次校高参数B是否为0；当一次校高/每次校高参数B=0（Y）时，每次样品测量前均需校高，则把校本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种微力测量弹片高度的智能系统，其特征在于，其包括一个机台和一个测量平台，该机台包括一个测量头、一个用户操作系统以及网络通讯接口；用该智能系统测量弹片高度包括以下步骤：步骤1：启动系统，建立通讯；当首次进行测量时，程序进入下述步骤1‑1：首先启动测量系统，给机台上电打开系统，然后设定测量参数，系统参数进行初始化后，启动TCP/IP通讯；接着，程序循环执行下述步骤1‑2：通过网络接收数据或发送控制指令将数据存入缓冲存储区，然后返回步骤1‑2的程序入口，在启动TCP/IP通讯后，软件一直通过TCP/IP接收数据；步骤2：设置校高参数A的初始值，通过TCP/IP通讯的控制指令，把校高参数A设为0；步骤3：执行校高/测高主体过程；首先，程序判断校高参数A是否为0；当校高参数A=0时，程序进入步骤3‑1执行高度校准程序，按通讯协议发送校准高度指令，来控制机台；接下来，程序执行下述步骤3‑1‑1：读缓冲区数据，然后画出力‑位移曲线图，程序判断机台是否达到设定的微力并且机台是否回到原来的位置；当机台未达到设定的微力且机台未回到原来的位置时，则重复执行步骤3‑1‑1；当机台达到设定的微力且机台回到原来的位置时，程序执行下述步骤3‑1‑2：计算出测量平台的零点，存入数据存储区，把校高参数A设为1，此时完成了测量平台高度的校准；此时，完成了步骤3‑1，然后返回步骤3的程序入口，再次判断校高参数A是否为0；当校高参数A =1时，则进入下述步骤3‑2执行高度测量程序，按通讯协议发送测高指令，来控制机台；接下来，执行下述步骤3‑2‑1：读缓冲区数据，然后读数据存储区测量平台的零点，再画出力‑位移曲线图，程序判断机台是否达到设定的微力且机台是否回到原来的位置；当机台未达到设定的微力且机台未回到原来的位置时，则重复执行步骤3‑2‑1；当机台达到设定的微力且机台回到原来的位置时，程序执行下述步骤3‑2‑2：计算出被测弹片的高度，然后存入数据存储区，生成文字报告；然后，程序执行下列步骤3‑2‑3：判断一次校高/每次校高参数B是否为0；当一次校高/每次校高参数B=0时，每次样品测量前均需校高，则把校高参数A设置为0，完成步骤3‑2，程序返回步骤3的入口，重新判断校高参数A是否为0；当一次校高/每次校高参数B=1时，同规格的样品测量前仅需进行一次测量平台的校高，程序直接返回步骤3的入口，重新判断校高参数A是否为0。...

【技术特征摘要】
1.一种微力测量弹片高度的智能系统，其特征在于，其包括一个机台和一个测量平台，该机台包括一个测量头、一个用户操作系统以及网络通讯接口；用该智能系统测量弹片高度包括以下步骤：步骤1：启动系统，建立通讯；当首次进行测量时，程序进入下述步骤1-1：首先启动测量系统，给机台上电打开系统，然后设定测量参数，系统参数进行初始化后，启动TCP/IP通讯；接着，程序循环执行下述步骤1-2：通过网络接收数据或发送控制指令将数据存入缓冲存储区，然后返回步骤1-2的程序入口，在启动TCP/IP通讯后，软件一直通过TCP/IP接收数据；步骤2：设置校高参数A的初始值，通过TCP/IP通讯的控制指令，把校高参数A设为0；步骤3：执行校高/测高主体过程；首先，程序判断校高参数A是否为0；当校高参数A=0时，程序进入下列步骤3-1：执行高度校准程序，按通讯协议发送校准高度指令，来控制机台；接下来，程序执行下述步骤3-1-1：读缓冲区数据，然后画出力-位移曲线图，程序判断机台是否达到设定的微力并且机台是否回到原来的位置；当机台未达到设定的微力且机台未回到原来的位置时，则重复执行步骤3-1-1；当机台达到设定的微力且机台回到原来的位置时，程序执行下述步骤3-1-2：计算出测量平台的零点，存入数据存储区，把校高参数A设为1，此时完成了测量平台高度的校准；此时，完成了步骤3-1，然后返回步骤3的程序入...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘俊峰，邓巨高，刘健，
申请(专利权)人：东莞市毫克检测仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44