检测显示面板缺陷的方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种检测显示面板缺陷的方法及装置，该方法包括：将显示面板上的至少一个电性测试端子电连接至第一检测端子上，将显示面板上的另外的至少一个电性测试端子电连接至第二检测端子上；向所述第一检测端子与第二检测端子之间提供预设的电压；检测通过所述第一检测端子和第二检测端子的电流是否在预定时间内的大小均小于预设的电流阈值，若否则判定该显示面板上存在缺陷。本发明专利技术可以实现对显示面板中进行性缺陷或不良的有效检出和拦截。

【技术实现步骤摘要】
检测显示面板缺陷的方法及装置
本专利技术涉及显示器制造领域，具体涉及一种检测显示面板缺陷的方法及装置。
技术介绍
在显示面板的制造过程所产生的缺陷或不良为进行性缺陷或不良，例如由静电释 放（Electro-Static discharge，ESD)效应所导致的静电击穿，或者或意外划伤所导致的局 部短路等等。由于此类缺陷或不良在形成初期不会对显示面板的功能造成很大影响，同时， 通过对此类不良品的分析发现，大多数有缺陷的显示面板在线路中短路的缺陷点并不能明 显地通过显微镜或其他视觉检测装置观察到，因而在生成厂商出货检查及客户系统组装检 查过程中均不容易将该类缺陷或不良进行有效地检出。对于该类缺陷或不良，如何能够有 效的检测和拦截，逐渐成为显示面板厂商热点关注的问题。
技术实现思路
针对现有技术中的缺陷，本专利技术提供一种检测显示面板缺陷的方法及装置，可以 实现对显示面板中进行性缺陷或不良的有效检出和拦截。 第一方面，本专利技术提供了一种检测显示面板缺陷的方法，包括： 将显示面板上的至少一个电性测试端子电连接至第一检测端子上，将显示面板上 的另外的至少一个电性测试端子电连接至第二检测端子上； 向所述第一检测端子与第二检测端子之间提供预设的电压； 检测通过所述第一检测端子和第二检测端子的电流是否在预定时间内的大小均 小于预设的电流阈值，若否则判定该显示面板上存在缺陷。 可选地，所述向所述第一检测端子与第二检测端子之间提供预设的电压，包括： 将所述第一检测端子电连接至预定电阻的第一端，将所述第二检测端子电连接至 预定恒压源的第二端，所述预定电阻的第二端与所述预定恒压源的第一端相连。 可选地，所述检测通过所述第一检测端子和第二检测端子的电流是否在预定时间 内的大小均小于预设的电流阈值，若否则判定该显示面板上存在缺陷，包括： 测量所述预定电阻两端的电压，判断该电压在预定时间内的大小是否均小于所述 电流阈值与所述预定电阻的电阻值的乘积，若否则判定该显示面板上存在缺陷。 可选地，所述检测通过所述第一检测端子和第二检测端子的电流是否在预定时间 内的大小均小于预设的电流阈值，若否则判定该显示面板上存在缺陷，包括： 将所述第一检测端子电连接至一锁存器的输入端，该锁存器用于在输入端电压大 于等于所述电流阈值与所述预定电阻的电阻值的乘积后保持高电平的输出； 判断在预定时间内该锁存器的输出是否均保持为低电平，若否则判定该显示面板 上存在缺陷。 可选地，所述将显示面板上的至少一个电性测试端子电连接至第一检测端子上， 将显示面板上的另外的至少一个电性测试端子电连接至第二检测端子上，包括： 控制位于每个所述电性测试端子与所述第一检测端子或所述第二检测端子之间 的开关元件的导通或断开，使得显示面板上的至少一个电性测试端子电连接至第一检测端 子上，显示面板上的另外的至少一个电性测试端子电连接至第二检测端子上。 第二方面，本专利技术还提供了一种检测显示面板缺陷的装置，包括： 第一检测端子和第二检测端子，用于电连接显示面板上的电性测试端子，在所述 电性测试端子电连接所述第一检测端子或所述第二检测端子后所述第一检测端子和所述 第二检测端子上均电连接有至少一个所述电性测试端子； 电压提供单元，用于在所述电性测试端子电连接所述第一检测端子或所述第二检 测端子后，向所述第一检测端子与第二检测端子之间提供预设的电压； 检测单元，用于在电压提供单元向所述第一检测端子与第二检测端子之间提供预 设的电压后，检测通过所述第一检测端子和第二检测端子的电流是否在预定时间内的大小 均小于预设的电流阈值，若否则判定该显示面板上存在缺陷。 可选地，所述电压提供单元包括预定电阻和预定恒压源，所述预定电阻的第二端 与所述预定恒压源的第一端相连；所述第一检测端子与预定电阻的第一端相连，所述第二 检测端子与预定恒压源的第二端相连。 可选地，所述检测单元包括：电压测量模块，用于测量所述预定电阻两端的电压， 并将测量结果传至判断模块；判断模块，用于判断电压测量模块测量的电压在预定时间内 的大小是否均小于所述电流阈值与所述预定电阻的电阻值的乘积，若否则判定该显示面板 上存在缺陷。 可选地，所述检测单元包括：输入端与所述第一检测端子相连的锁存器，用于在输 入端电压大于等于所述电流阈值与所述预定电阻的电阻值的乘积后保持高电平的输出；判 断模块，用于判断在预定时间内该锁存器的输出是否均保持为低电平，若否则判定该显示 面板上存在缺陷。 可选地，所述第一检测端子与所述电性测试端子之间、以及第二检测端子与所述 电性测试端子之间还包括开关电路，所述开关电路包括：设置在所述电性测试端子与所述 第一检测端子或第二检测端子之间的开关元件。 可选地，该装置还包括用于连接所述电性测试端子的探针，所述第一检测端子和 第二检测端子用于通过所述探针电连接显示面板上的电性测试端子。 由上述技术方案可知，本专利技术通过在显示面板上的两个电性测试端子 (Electrical Test Pad,ET Pad)之间施加电压的方式，对分别与这两个电性测试端子连接 的电路部分之间可能存在的缺陷点进行老化，此时可能存在的缺陷点将会熔断形成开路， 在此期间电流会有一个突然增大的过程，因此通过判断该电流是否在预定时间内的大小均 小于预设的电流阈值即可得知这两个电路部分之间是否存在缺陷点。通过分析测试发现， 这一手段可以有效地检测出此类进行性缺陷或不良，因此，本专利技术可以实现对显示面板中 进行性缺陷或不良的有效检出和拦截。 【附图说明】 为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现 有技术描述中所需要使用的附图作一简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发 明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根 据这些附图获得其他的附图。 图1是本专利技术一个实施例中一种检测显示面板缺陷的方法的流程示意图； 图2是本专利技术一个实施例中一种检测显示面板缺陷的装置的外观结构示意图； 图3是本专利技术一个实施例中四个电性测试端子PI、P2、P3、P4之间的电阻分布情 况的示意图； 图4是本专利技术一个实施例中一种检测显示面板缺陷的装置的内部电路结构示意 图； 图5是本专利技术一个实施例中一种检测显示面板缺陷的装置的等效检测电路图； 图6是本专利技术一个实施例中一种检测显示面板缺陷的装置的等效检测电路图； 图7是本专利技术一个实施例中一种检测显示面板缺陷的装置的等效检测电路图； 图8是本专利技术一个实施例中对应于一种检测显示面板缺陷的装置的显示面板缺 陷检测方法流程示意图。 【具体实施方式】 为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例 中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是 本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员 在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。 在本专利技术的描述中需要说明的是，术语上、下等指示的方位或本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测显示面板缺陷的方法，其特征在于，包括：将显示面板上的至少一个电性测试端子电连接至第一检测端子上，将显示面板上的另外的至少一个电性测试端子电连接至第二检测端子上；向所述第一检测端子与第二检测端子之间提供预设的电压；检测通过所述第一检测端子和第二检测端子的电流是否在预定时间内的大小均小于预设的电流阈值，若否则判定该显示面板上存在缺陷。

【技术特征摘要】
1. 一种检测显示面板缺陷的方法，其特征在于，包括： 将显示面板上的至少一个电性测试端子电连接至第一检测端子上，将显示面板上的另 外的至少一个电性测试端子电连接至第二检测端子上； 向所述第一检测端子与第二检测端子之间提供预设的电压； 检测通过所述第一检测端子和第二检测端子的电流是否在预定时间内的大小均小于 预设的电流阈值，若否则判定该显示面板上存在缺陷。2. 根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述向所述第一检测端子与第二检测端 子之间提供预设的电压，包括： 将所述第一检测端子电连接至预定电阻的第一端，将所述第二检测端子电连接至预定 恒压源的第二端，所述预定电阻的第二端与所述预定恒压源的第一端相连。3. 根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述检测通过所述第一检测端子和第二 检测端子的电流是否在预定时间内的大小均小于预设的电流阈值，若否则判定该显示面板 上存在缺陷，包括： 测量所述预定电阻两端的电压，判断该电压在预定时间内的大小是否均小于所述电流 阈值与所述预定电阻的电阻值的乘积，若否则判定该显示面板上存在缺陷。4. 根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述检测通过所述第一检测端子和第二 检测端子的电流是否在预定时间内的大小均小于预设的电流阈值，若否则判定该显示面板 上存在缺陷，包括： 将所述第一检测端子电连接至一锁存器的输入端，该锁存器用于在输入端电压大于等 于所述电流阈值与所述预定电阻的电阻值的乘积后保持高电平的输出； 判断在预定时间内该锁存器的输出是否均保持为低电平，若否则判定该显示面板上存 在缺陷。5. 根据权利要求1至4中任意一项所述的方法，其特征在于，所述将显示面板上的至少 一个电性测试端子电连接至第一检测端子上，将显示面板上的另外的至少一个电性测试端 子电连接至第二检测端子上，包括： 控制位于每个所述电性测试端子与所述第一检测端子或所述第二检测端子之间的开 关元件的导通或断开，使得显示面板上的至少一个电性测试端子电连接至第一检测端子 上，显示面板上的另外的至少一个电性测试端子电连接至第二检测端子上。6. -种检测显示面板缺陷的装置，...

【专利技术属性】
技术研发人员：张郑欣，徐帅，马经山，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，北京京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11