一种多测头集成测量方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种多测头集成测量方法及系统，属于测量技术领域。该方法包括：通过运行与标准待测物指标相同的陶瓷量块，获取标定文件，确定当前设备的测量误差，该标定文件用于描述当前设备的误差；利用多个测头对待测物进行测量，获取待测物的多个测量数据，并保存至预设的目标文件；根据该当前设备的测量误差、实际待测物的多个测量数据以及待测物的标准指标，确定该待测物是否为良品。本发明专利技术通过使用陶瓷量块对设备进行自动的精度校验，并将设备误差计入系统，在系统运行进行实际测量时自动进行误差补偿，将高效率的自动化与高精度的测量结合，使高精度测量应用到了自动化生产当中，既保证了测量的精度，同时也保证了生产的效率。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了一种多测头集成测量方法及系统，属于测量
。该方法包括：通过运行与标准待测物指标相同的陶瓷量块，获取标定文件，确定当前设备的测量误差，该标定文件用于描述当前设备的误差；利用多个测头对待测物进行测量，获取待测物的多个测量数据，并保存至预设的目标文件；根据该当前设备的测量误差、实际待测物的多个测量数据以及待测物的标准指标，确定该待测物是否为良品。本专利技术通过使用陶瓷量块对设备进行自动的精度校验，并将设备误差计入系统，在系统运行进行实际测量时自动进行误差补偿，将高效率的自动化与高精度的测量结合，使高精度测量应用到了自动化生产当中，既保证了测量的精度，同时也保证了生产的效率。【专利说明】一种多测头集成测量方法及系统
本专利技术涉及测量
，特别涉及一种多测头集成测量方法及系统。
技术介绍
随着手机等电子产品的高速发展，更高精度和集成度也是未来电子产品发展的必然趋势，在这种大背景下，对电子产品的元件的测量也提出了更高的要求，其中，对工件的测量产生多测量项目、高效率、自动化等测量需求。 目前已有测量系统往往存在测量项目单一，效率相对低下，且难以应对自动化测量的多变性。
技术实现思路
为了解决现有技术的问题，本专利技术实施例提供了一种多测头集成测量方法就系统。所述技术方案如下: 一方面，提供了一种多测头集成测量方法，所述方法包括: 通过运行与标准待测物指标相同的陶瓷量块，获取标定文件，确定当前设备的测量误差，所述标定文件用于描述当前设备的误差； 利用多个测头对待测物进行测量，获取待测物的多个测量数据，并保存至预设的目标文件； 根据所述当前设备的测量误差、实际待测物的多个测量数据以及待测物的标准指标，确定所述待测物是否为良品。 可选地，根据所述当前设备的测量误差、实际待测物的多个测量数据以及待测物的标准指标，确定所述待测物是否为良品，包括: 利用所述当前设备的测量误差，对所述实际待测物的多个测量数据进行补偿，获取所述实际待测物的真实测量数据； 将所述实际待测物的真实测量数据与待测物的标准指标进行比较； 当所述实际待测物的真实测量数据与待测物的标准指标之间的差值大于预设值时，认为所述实际待测物不是良品； 当所述实际待测物的真实测量数据与待测物的标准指标之间的差值小于预设值时，认为所述实际待测物是良品。 可选地，通过运行与标准待测物指标相同的陶瓷量块，获取标定文件，确定当前设备的测量误差，所述标定文件用于描述当前设备的误差包括: 运行所述陶瓷量块，对所述陶瓷量块进行测量，获取所述陶瓷量块的测量数据； 比较所述陶瓷量块的测量数据与所述陶瓷量块的实际数据，确定当前设备的测量误差。 可选地，根据所述当前设备的测量误差、实际待测物的多个测量数据以及待测物的标准指标，确定所述待测物是否为良品之后，所述方法还包括: 记录实际待测物的测量数据。 可选地，所述方法还包括: 当添加测头时，根据接口开发相应组件，并将所述添加测头的测量数据按照接口规定的格式进行打包。 另一方面，提供了一种多测头集成测量系统，所述系统包括: 数据组件接口、界面控件接口、业务逻辑接口、配置文件系统、数据补偿接口、数据上传接口以及数据保存接口 ；其中， 所述数据组件接口用于利用多个测头对待测物进行测量，获取待测物的多个测量数据，并保存至预设的目标文件； 所述界面控件接口用于获取当前设备中界面的输入数据； 所述业务逻辑接口用于获取配置的逻辑； 所述配置文件系统用于将配置好的测量逻辑应用于所有的测量组件，使其联动，达到自动化测量的目的； 所述数据补偿接口用于通过运行与标准待测物指标相同的陶瓷量块，获取标定文件，确定当前设备的测量误差，所述标定文件用于描述当前设备的误差，将自动标定得到的设备的误差与实际测量结果进行运算，以得到待测物体数据指标的真实值； 所述数据上传接口用于将数据上传至用户的指定服务器或者数据库； 所述数据保存接口用于保存测量得到的数据，数据可以用来进行自动标定、自动校验、或将生产线上的所有测量物体的测量结果存档或进行分析。 可选地，所述系统支持开放的数据接口，可以将测量数据保存为预设数据格式或常见数据格式。 本专利技术实施例提供的技术方案带来的有益效果是: 通过使用陶瓷量块在系统中自动运行后，将测量数据进行分析，对设备进行自动的精度校验，并将设备误差计入系统，在系统运行进行实际测量时自动进行误差补偿，将高效率的自动化与高精度的测量结合，使高精度测量应用到了自动化生产当中，既保证了测量的精度，同时也保证了生产的效率。 【专利附图】【附图说明】 为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。 图1是本专利技术实施例提供的多测头集成测量方法流程图； 图2是本专利技术实施例提供的多测头集成测量方法流程图； 图3是本专利技术实施例提供的自动标定方法流程图； 图4是本专利技术实施例提供的自动校验方法流程图； 图5是本专利技术实施例提供的多测头集成测量方法流程图； 图6是本专利技术实施例提供的多测头集成测量装置结构示意图。 【具体实施方式】 为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本专利技术实施方式作进一步地详细描述。 图1是本专利技术实施例提供的多测头集成测量方法流程图。参见图1，该实施例包括: 101、通过运行与标准待测物指标相同的陶瓷量块，获取标定文件，确定当前设备的测量误差，该标定文件用于描述当前设备的误差； 102、利用多个测头对待测物进行测量，获取待测物的多个测量数据，并保存至预设的目标文件； 103、根据该当前设备的测量误差、实际待测物的多个测量数据以及待测物的标准指标，确定该待测物是否为良品。 本专利技术实施例提供的方法，通过使用陶瓷量块在系统中自动运行后，将测量数据进行分析，对设备进行自动的精度校验，并将设备误差计入系统，在系统运行进行实际测量时自动进行误差补偿，将高效率的自动化与高精度的测量结合，使高精度测量应用到了自动化生产当中，既保证了测量的精度，同时也保证了生产的效率。 可选地，根据该当前设备的测量误差、实际待测物的多个测量数据以及待测物的标准指标，确定该待测物是否为良品，包括: 利用该当前设备的测量误差，对该实际待测物的多个测量数据进行补偿，获取该实际待测物的真实测量数据； 将该实际待测物的真实测量数据与待测物的标准指标进行比较； 当该实际待测物的真实测量数据与待测物的标准指标之间的差值大于预设值时，认为该实际待测物不是良品； 当该实际待测物的真实测量数据与待测物的标准指标之间的差值小于预设值时，认为该实际待测物是良品。 可选地，通过运行与标准待测物指标相同的陶瓷量块，获取标定文件，确定当前设备的测量误差，该标定文件用于描述当前设备的误差包括: 运行该陶瓷量块，对该陶瓷量块进行测量，获取该陶瓷量块的测量数据； 比较该陶瓷量块的测量数据与该陶瓷量块的实际数据，确定当前设备的测量误差。 可选地，根据本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种多测头集成测量方法，其特征在于，所述方法包括：通过运行与标准待测物指标相同的陶瓷量块，获取标定文件，确定当前设备的测量误差，所述标定文件用于描述当前设备的误差；利用多个测头对待测物进行测量，获取待测物的多个测量数据，并保存至预设的目标文件；根据所述当前设备的测量误差、实际待测物的多个测量数据以及待测物的标准指标，确定所述待测物是否为良品。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：闫永亮，
申请(专利权)人：苏州天准精密技术有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32