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本发明公开了一种多测头集成测量方法及系统，属于测量技术领域。该方法包括：通过运行与标准待测物指标相同的陶瓷量块，获取标定文件，确定当前设备的测量误差，该标定文件用于描述当前设备的误差；利用多个测头对待测物进行测量，获取待测物的多个测量数据，...
该专利属于苏州天准精密技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州天准精密技术有限公司授权不得商用。

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