【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于化学分析
，具体涉及一种利用X-荧光光谱分析地质样品中 痕量元素的方法。
技术介绍
粉末压片法处理地质样品，获得样品粉末并用于X-荧光光谱分析，是现有技术分 析中常见的处理地质样品的方式。然而，在粉末样品中不同颗粒的化学组成可能是不一致 的，颗粒的分布也不可能是完全均匀的，从而导致矿物效应影响测量的荧光强度。除了矿物 效应以外，颗粒度的影响也不可忽略。颗粒使X射线的有效激发面积小于同一材料块样的 表面积，可能导致所测得的荧光强度小于理论强度。特别是波长较长的谱线，这种效应的影 响更加明显。所以，粉末压片法制备地质样品用于X-荧光光谱分析会造成很大的测量误 差。
技术实现思路
专利技术目的：本专利技术需要解决的技术问题是提供一种能够精确测量地质样品中痕量 元素方法，并提供其X-射线荧光光谱分析样品的制备方法及测量方法。 技术方案：为了解决以上技术问题本专利技术采用如下技术方案： 一种利用X射线荧光光谱分析地质中主量元素的方法，包括如下步骤： (1)样品的制备：将样品在110?130°C条件下...
【技术保护点】
一种利用X射线荧光光谱分析地质中痕量元素的方法，其特征在于，包括如下步骤：(1)样品的制备：将样品在110～130℃条件下烘2～4h，然后将标样或待测样品、混合熔剂以及NH4NO3混合，放置在铂金‑金合金钳锅中，搅拌均匀，再向其中滴加脱模剂，置于熔样机上，在700～850℃中放置5～6min，然后升温至1150～1350℃，熔融5min，再摇动3min，静置1min后倒入模具内浇铸成玻璃熔片；(2)标准曲线的制定：按照步骤的方法制备标准品，然后利用能量色散X‑射线荧光光谱仪分析，制定校准曲线；(3)测量条件：样品中的各种物质测量条件如下：Sn、Cs、Pr、Sm、Tb、Dy、...
【技术特征摘要】
1. 一种利用X射线荧光光谱分析地质中痕量元素的方法，其特征在于，包括如下步骤： (1) 样品的制备：将样品在110?130°c条件下烘2?4h，然后将标样或待测样品、混 合熔剂以及ΝΗ4Ν0 3混合，放置在钼金-金合金钳锅中，搅拌均匀，再向其中滴加脱模剂，置于 熔样机上，在700?850°C中放置5?6min，然后升温至1150?1350°C，熔融5min，再摇动 3min，静置lmin后倒入模具内浇铸成玻璃熔片； (2) 标准曲线的制定：按照步骤的方法制备标准品，然后利用能量色散X-射线荧光光 谱仪分析，制定校准曲线； (3) 测量条件：样品中的各种物质测量条件如下： Sn、Cs、Pr、Sm、Tb、Dy、Ho、Tm、Lu :选择 ...
【专利技术属性】
技术研发人员：万光会，肖延安，
申请(专利权)人：无锡英普林纳米科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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