【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公布了一种利用X射线荧光光谱分析地质中次量元素的方法，属于化学分析
。通过利用熔融法将地质样品和标准品制备成玻璃片，然后利用标准品制定校准曲线，最后利用X-荧光光谱仪分析样品中Nb、Zr、Pb、Sr、Rb、Ga、As、V、Cr、Sc的含量。该方法具有制样简单、操作方便、测量结果准确等优点。【专利说明】-种利用χ_焚光光谱分析地质样品中次量兀素的方法
本专利技术属于化学分析
，具体涉及一种利用X-荧光光谱分析地质样品中 次量元素的方法。
技术介绍
粉末压片法处理地质样品，获得样品粉末并用于X-荧光光谱分析，是现有技术分 析中常见的处理地质样品的方式。然而，在粉末样品中不同颗粒的化学组成可能是不一致 的，颗粒的分布也不可能是完全均匀的，从而导致矿物效应影响测量的荧光强度。除了矿物 效应以外，颗粒度的影响也不可忽略。颗粒使X射线的有效激发面积小于同一材料块样的 表面积，可能导致所测得的荧光强度小于理论强度。特别是波长较长的谱线，这种效应的影 响更加明显。所以，粉末压片法制备地质样品用于X-荧光光谱分析...
【技术保护点】
一种利用X射线荧光光谱分析地质中次量元素的方法，其特征在于，包括如下步骤：(1)样品的制备：将样品在100～130℃条件下烘2～3h，然后将标样或待测样品、混合熔剂以及NH4NO3混合，放置在铂金‑金合金钳锅中，搅拌均匀，再向其中滴加脱模剂，置于熔样机上，在750～800℃中放置3～5min，然后升温至1100～1200℃，熔融6min，再摇动3min，静置1min后倒入模具内浇铸成玻璃熔片；(2)标准曲线的制定：按照步骤的方法制备标准品，然后利用能量色散X‑射线荧光光谱仪分析，制定校准曲线；(3)测量条件：样品中的各种物质测量条件如下：Nb、Zr：选择Kα线，管压100k...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：万光会，肖延安，
申请(专利权)人：无锡英普林纳米科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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