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本发明公布了一种利用X射线荧光光谱分析地质中痕量元素的方法，属于化学分析技术领域。通过利用熔融法将地质样品和标准品制备成玻璃片，然后利用标准品制定校准曲线，最后利用X-荧光光谱仪分析样品中Sn、Cs、Pr、Sm、Tb、Dy、Ho、Tm、Lu...
该专利属于无锡英普林纳米科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过无锡英普林纳米科技有限公司授权不得商用。

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