一种检测电路和液晶显示面板及其制造方法技术

本发明专利技术涉及一种检测电路和液晶显示面板及其制造方法。该检测电路包括控制开关单元，其设置在测试信号输入端与液晶显示面板信号线之间，包括串联的第一开关晶体管和第二开关晶体管。在检测期间，所述第一开关晶体管和第二开关晶体管保持导通，使测试信号进入所述液晶显示面板信号线；检测结束后，所述第二开关晶体管保持关断，并且所述第一开关晶体管的控制端与第一端短路连接，以降低经过所述第二开关晶体管进入液晶显示面板信号线的漏电流。设置有上述检测电路的液晶显示面板能够在不影响工作的情况下有效降低面板内部信号线之间的漏电风险，确保画面显示品质。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术涉及。该检测电路包括控制开关单元，其设置在测试信号输入端与液晶显示面板信号线之间，包括串联的第一开关晶体管和第二开关晶体管。在检测期间，所述第一开关晶体管和第二开关晶体管保持导通，使测试信号进入所述液晶显示面板信号线；检测结束后，所述第二开关晶体管保持关断，并且所述第一开关晶体管的控制端与第一端短路连接，以降低经过所述第二开关晶体管进入液晶显示面板信号线的漏电流。设置有上述检测电路的液晶显示面板能够在不影响工作的情况下有效降低面板内部信号线之间的漏电风险，确保画面显示品质。【专利说明】
本专利技术涉及液晶显示面板制造工艺，特别是关于。
技术介绍
在液晶显示面板(IXD Panel)的生产过程中，需要对薄膜晶体管阵列基板进行电测(Cell Test)，测试阵列基板上控制各像素单元工作的薄膜晶体管的运行是否正常，从而捡出工作异常的阵列基板，在后续生产流程前及时排除不良产品。用于电测的检测电路通常设置于阵列基板非显示区，并具有两种常见的布线方式:环状短路布线(short ringlayout)和杆状短路布线(short bar layout)。不论是环状短路布线的检测电路还是杆状短路布线的检测电路，在检测完毕后都需要断开与阵列基板显示区信号线的电性连接，以防检测电路影响液晶显示面板的正常运行。 目前，较为普遍的电测方法有两种。一种是利用若干短路环(shortring)或者短路杆(Shorting Bar)将阵列基板上的数据线或者栅极线短路连接在一起，然后通过短路环或者短路杆向阵列基板像素单元的薄膜晶体管输入测试信号。测试完成后需要用激光切断短路环或者短路杆与数据线或者栅极线的电性连接，然后才能进行下一个流程，也即进行驱动电路模块的组装。这种方法需要增加激光切割的步骤。然而激光切割会产生许多切割微粒进而影响液晶显示面板。因此，现在常用的是另一种方法。即，在短路环或者短路杆与显示区的扫描线或数据线之间添加控制开关。在测试期间让控制开关保持导通，测试结束后让控制开关保持断路。如此一来，便可以省去激光切割的步骤，达到简化工艺降低成本的技术效果。 但是上面第二种方法在测试期间需要对控制开关的控制端施以高电平电压，在测试结束后需要对控制开关的控制端长期地施以低电平电压。对于采用薄膜晶体管作为控制开关的情况(如图1所示)，在显示面板正常工作时，薄膜晶体管的栅极需要长期处于负偏压状态，其电压特性曲线(1-V Curve)可能会发生漂移。同时，由于测试短路环或者短路杆长期处于悬空状态，其电位容易受到干扰而有较大的波动，因此薄膜晶体管的漏、源极之间的导电沟道不能完全关闭，会形成一条漏电通道，进而使不同的扫描线或者数据线之间通过检测电路形成漏电路径(图1所示的虚线)，导致不同的扫描线或者数据线的信号相互干扰，影响面板显示效果。故而，如何在不影响工作的情况下改善面板内部信号线之间的漏电现象，是一个亟待解决的技术问题。
技术实现思路
针对上述问题，本专利技术提出了一种能够在不影响工作的情况下改善面板内部信号线之间的漏电现象，从而提高画面显示质量的检测电路和液晶显示面板及其制造方法。 本专利技术提供一种检测电路，用于检测具有多条信号线的液晶显示面板，其包括: 测试信号输入端； 控制开关单元，其设置在测试信号输入端与液晶显示面板信号线之间，包括串联的第一开关晶体管和第二开关晶体管；在检测期间，第一开关晶体管和第二开关晶体管保持导通，使测试信号进入液晶显示面板信号线；检测结束后，第二开关晶体管保持关断，并且第一开关晶体管的控制端与第一端短路连接，以降低经过第二开关晶体管进入液晶显示面板信号线的漏电流。 根据本专利技术的实施例，上述第一开关晶体管的第一端电性连接测试信号输入端，第二端电性连接第二开关晶体管的第一端，第二开关晶体管的第二端电性连接液晶显示面板信号线，第一开关晶体管和第二开关晶体管的控制端分别电性连接第一控制信号输入端和第二控制信号输入端；在检测期间，第一开关晶体管和第二开关晶体管的控制端分别通过第一控制信号输入端和第二控制信号输入端接收高电平控制信号而开启；检测结束后，第二开关晶体管的控制端通过第二控制信号输入端接收低电平控制信号而关断。 根据本专利技术的实施例，上述检测电路第一开关晶体管的控制端与第一端可以通过液晶显示面板中彩色滤光基板上的配线在陈列基板与彩色滤光基板贴合后形成短路连接。 具体地，上述第一开关晶体管和第二开关晶体管可以为薄膜晶体管。 此外，检测结束后，上述测试信号输入端悬空，其电压为浮动电压。 根据本专利技术的实施例，上述信号线为液晶显示面板的陈列基板上的扫描线或者数据线。 另一方面，本专利技术还提供一种液晶显示面板，其特征在于，包括: 阵列基板，其包括: 显示区，设置有由多条信号线交错形成的多个像素区域，每一像素区域中设置有包括至少一个薄膜晶体管的像素单元，薄膜晶体管与信号线电性连接，根据信号线传来的电压信号而工作； 非显示区，设置有上述检测电路，用于检测显示区中的信号线。 根据本专利技术的实施例，上述液晶显示面板还可以包括彩色滤光基板，其上设置有能够在与阵列基板贴合后，使检测电路中第一控制开关的控制端与第一端形成短路的配线。 最后，本专利技术还提供一种液晶显示面板制造方法，包含以下步骤: 在阵列基板的显示区设置多条信号线，以交错形成多个像素区域，每一像素区域中设置有包括至少一个薄膜晶体管的像素单元，薄膜晶体管与信号线电性连接，根据信号线传来的电压信号而工作； 在阵列基板的非显示区设置上述检测电路； 利用检测电路测试显示区中的信号线。 根据本专利技术的实施例，上述液晶显示面板制造方法，还包含以下步骤: 在测试结束后，将阵列基板与彩色基板贴合，借助彩色滤光基板上的配线，使检测电路中第一控制开关的控制端与第一端形成短路连接。 与现有技术相比，本专利技术提供的检测电路及相应的液晶显示面板能够在不影响工作的情况下有效降低面板内部信号线之间的漏电风险，确保画面显示品质。本专利技术的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本专利技术而了解。 【专利附图】【附图说明】 图1是现有技术中液晶显示面板的检测电路的结构示意图； 图2是本专利技术实施例提供的液晶显示面板的检测电路的局部放大图； 图3是阵列基板与彩色滤光基板贴合后图2所示的检测电路的等效电路图； 图4是本专利技术实施例检测电路的第二薄膜晶体管与现有检测电路的薄膜晶体管在不同栅极电压下的电流对比图。 【具体实施方式】 为了在不影响工作的情况下改善面板内部信号线之间的漏电现象，本专利技术对现有技术中的液晶显示面板的检测电路做了进一步的改进。下面结合非限定性的实施例并参考附图详细地描述本专利技术的技术方案以及能够达到的技术效果。 与现有技术相同，在本实施例中，待测试的液晶显示面板包括薄膜晶体管阵列基板和彩色滤光基板。其中，薄膜晶体管阵列基板分为显示区和非显示区两大区域。薄膜晶体管阵列基板的显示区中包括由多条扫描线和数据线交错形成的多个像素区域。每一个像素区域中设置有一像素单元，每个像素单元中至少包括一个薄膜晶体管。通常，该薄膜晶体管的栅极与扫描线电性连接，源极与数据线电本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测电路，用于检测具有多条信号线的液晶显示面板，其特征在于，包括：测试信号输入端；控制开关单元，其设置在所述测试信号输入端与液晶显示面板信号线之间，包括串联的第一开关晶体管和第二开关晶体管；在检测期间，所述第一开关晶体管和第二开关晶体管保持导通，使测试信号进入所述液晶显示面板信号线；检测结束后，所述第二开关晶体管保持关断，并且所述第一开关晶体管的控制端与第一端短路连接，以降低经过所述第二开关晶体管进入所述液晶显示面板信号线的漏电流。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：杜鹏，施明宏，
申请(专利权)人：深圳市华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44