【技术实现步骤摘要】
转动光谱校正分析仪
本专利技术涉及光谱校正分析领域，尤其涉及转动光谱校正分析仪。
技术介绍
光谱校正分析主要用于分析分子能级之间跃迁形成的发射光谱和吸收光谱，包括纯转动光谱、振动转动光谱带和电子光谱带。分子的纯转动光谱由分子转动能级之间的跃迁产生，分布在远红外波段，通常主要观测吸收光谱；振动-转动光谱带由不同振动能级上的各转动能级之间跃迁产生，是一些密集的谱线，分布在近红外波段，通常也主要观测吸收光谱；电子光谱带由不同电子态上不同振动和不同转动能级之间的跃迁产生，可分成许多带，分布在可见或紫外波段，可观测发射光谱。但是由于非极性分子由于不存在电偶极矩，没有转动光谱和振动-转动光谱带，只有极性分子才有这类光谱带，因此，现有的分析装置对于非极性分子的光谱分析还存在局限性，因此，需要提出合理的技术方案对上述问题予以解决。
技术实现思路
为了克服现有装置的不足之处，本专利技术采用的技术方案如下: 转动光谱校正分析仪，包括:光源装置(I)，第一光谱分离装置(2)，第二光谱分离装置(3)，光束折光装置(4)，光束波长校正装置(5)，光束吸收校验装置(7)，信号检测装置(8)，其中，通过光源装置(I)产生符合检测分析要求的光束，光束分别进入到第一光谱分离装置(2)和第二光谱分离装置(3)，通过上述两个光谱分离装置能够得到特定光谱波长的两束光，这两束光在光束折光装置(4)中汇集，通过光束折光装置(4)中的旋转六面棱镜，第一光谱分离装置(2)和第二光谱分离装置(3)产生的特定光束进行间歇式吸收和屏蔽，通过光束波长校正装置(5)对上述光束的光...
【技术保护点】
转动光谱校正分析仪，包括：光源装置(1)，第一光谱分离装置(2)，第二光谱分离装置(3)，光束折光装置(4)，光束波长校正装置(5)，光束吸收校验装置(7)，信号检测装置(8)，其中，通过光源装置(1)产生符合检测分析要求的光束，光束分别进入到第一光谱分离装置(2)和第二光谱分离装置(3)，通过上述两个光谱分离装置能够得到特定光谱波长的两束光，这两束光在光束折光装置(4)中汇集，通过光束折光装置(4)中的旋转六面棱镜，第一光谱分离装置(2)和第二光谱分离装置(3)产生的特定光束进行间歇式吸收和屏蔽，通过光束波长校正装置(5)对上述光束的光谱波长予以校正，减小误差；通过光束吸收校验装置(7)对吸收后的衰减光束进行校正，衰减光束通过信号检测装置(8)进行光电信号的转换； 其特征在于，所述的光源装置(1)采用氢镍灯和石英低压汞灯串联组合，所述的第一光谱分离装置(2)含有凹面反射镜与棱镜，两者交替排列组合，所述的第二光谱分离装置(3)含有透镜与光栅，透镜在前，光栅在后，所述的光束折光装置(4)含有旋转六面棱镜，所述的光束波长校正装置(5)含有钼玻璃透镜和铕玻璃透镜，两者交替串联排列，所述的光束...
【技术特征摘要】
1.转动光谱校正分析仪，包括:光源装置(I)，第一光谱分离装置(2)，第二光谱分离装置(3)，光束折光装置(4)，光束波长校正装置(5)，光束吸收校验装置(7)，信号检测装置(8)，其中，通过光源装置(I)产生符合检测分析要求的光束，光束分别进入到第一光谱分离装置(2)和第二光谱分离装置(3)，通过上述两个光谱分离装置能够得到特定光谱波长的两束光，这两束光在光束折光装置(4)中汇集，通过光束折光装置(4)中的旋转六面棱镜，第一光谱分离装置(2)和第二光谱分离装置(3)产生的特定光束进行间歇式吸收和屏蔽，通过光束波长校正装置(5)对上...
【专利技术属性】
技术研发人员：储冬红，彭飞，郭睦庚，其他发明人请求不公开姓名，
申请(专利权)人：衢州普林千叶电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江;33
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