原子谱线调光分析仪制造技术

技术编号:10394157 阅读:163 留言:0更新日期:2014-09-05 19:53
原子谱线调光分析仪,其特征在于,主要包括:宽波谱光束产生装置,波谱频段调控装置,波谱偏振谐波装置,样品导入装置,样品高能解离装置,光谱偏振滤光装置,光束谱线共振检测装置,光束波段信号分析装置,信号显示与记录装置;其中,宽波谱光束产生装置含有高温离子光束发射电极,该电极材料为六硅氧化镨锕合金,波谱频段调控装置含有十五棱椎型滤光透镜,该透镜表面覆盖有厚度为9.67um的八苯胺膦葵三溴钆鎶纳米复合滤光膜;波谱偏振谐波装置含有九孔衍射透光板,双凹透镜,偏振反射透镜,其中,九孔衍射透光板含有九个直径为0.89um的衍射圆孔,圆孔的排列方式为正九边形;双凹透镜表面镀有两层厚度均为0.78um的六嘧啶九啶酮三苯酯氯化锘钇纳米复合透光膜。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】原子谱线调光分析仪,其特征在于,主要包括:宽波谱光束产生装置,波谱频段调控装置,波谱偏振谐波装置,样品导入装置,样品高能解离装置,光谱偏振滤光装置,光束谱线共振检测装置,光束波段信号分析装置,信号显示与记录装置;其中,宽波谱光束产生装置含有高温离子光束发射电极,该电极材料为六硅氧化镨锕合金,波谱频段调控装置含有十五棱椎型滤光透镜,该透镜表面覆盖有厚度为9.67um的八苯胺膦葵三溴钆鎶纳米复合滤光膜;波谱偏振谐波装置含有九孔衍射透光板,双凹透镜,偏振反射透镜,其中,九孔衍射透光板含有九个直径为0.89um的衍射圆孔,圆孔的排列方式为正九边形;双凹透镜表面镀有两层厚度均为0.78um的六嘧啶九啶酮三苯酯氯化锘钇纳米复合透光膜。【专利说明】原子谱线调光分析仪
本专利技术涉及谱线调光分析领域,尤其涉及原子谱线调光分析仪。
技术介绍
原子谱线调光分析技术,主要通过共振谱线、非共振谱线和敏化谱线三类,其中以共振原子谱线最强,在分析中应用最广。共振谱线是所发射的谱线和吸收的辐射波长相同。只有当基态是单一态,不存在中间能级,才能产生共振谱线。非共振谱线通过激发态原子发射的谱线波长和吸收的辐射波长不相同。非共振谱线为直跃线谱线、阶跃线谱线和反斯托克斯谱线,直跃线谱线通过激发态原子由高能级跃迁到高于基态的亚稳能级所产生的谱线,阶跃线谱线是激发态原子先以非辐射方式去活化损失部分能量,回到较低的激发态,再以辐射方式去活化跃迁到基态所发射的谱线,直跃线和阶跃线谱线的波长都是比吸收辐射的波长要长。反斯托克斯谱线波长比吸收光辐射的波长要短,敏化原子谱线是激发态原子通过碰撞将激发能转移给另一个原子使其激发,后者再以辐射方式去活化而发射的谱线。但是,现有的原子谱线调光分析技术存在光束强度不稳定,波谱范围精确度不高,二次电子发射干扰严重等问题,因此,需要对现有技术加以改进。
技术实现思路
为了克服现有装置的不足之处,本专利技术采用的技术方案如下:原子谱线调光分析仪,其特征在于,主要包括:1-宽波谱光束产生装置,2-波谱频段调控装置,3-波谱偏振谐波装置,4-样品导入装置,5-样品高能解离装置,6—光谱偏振滤光装置,7-光束谱线共振检测装置,8—光束波段信号分析装置,9一信号显示与记录装置;其中,宽波谱光束产生装置(I)含有高温离子光束发射电极,该电极材料为六硅氧化镨锕合金,波谱频段调控装置(2)含有十五棱椎型滤光透镜,该透镜表面覆盖有厚度为9.67um的八苯胺膦葵三溴钆錡纳米复合滤光膜;波谱偏振谐波装置(3)含有九孔衍射透光板,双凹透镜,偏振反射透镜,其中,九孔衍射透光板含有九个直径为0.89um的衍射圆孔,这九个圆孔的排列方式为正九边形;双凹透镜表面镀有两层厚度均为0.78um的六嘧啶九啶酮三苯酯氯化锘钇纳米复合透光膜。宽波谱光束产生装置(I)主要用于光束波谱范围的调节以及光束强度的合理控制,为原子谱线调光分析提供合适波段范围的光束,波谱频段调控装置(2)主要用于光束波谱频段的调节,对不同波段范围的多重光谱予以叠加和二次分离,波谱偏振谐波装置(3)主要用于光束的波谱偏振处理以及光谱波段的谐波分离与筛选,防止波段基线漂移以及多重光束叠加引起的谱线重叠,避免对后续光谱分析造成不利影响;样品导入装置(4)主要用于分析样品的导入以及样品的初步预处理实现,实现干扰元素的初步分离,消除基体干扰;样品高能解离装置(5)主要用于分析样品的分子断裂以及高温热裂解处理,实现原子谱线调光分析的多频段光谱生成,便于提高分析灵敏度和光束谱带范围;光谱偏振滤光装置(6)主要用于光谱的频段偏振处理以及色谱波段的筛选与隔离分析,便于谱线分析线与测试线的区分;光束谱线共振检测装置(7)主要用于衍射波谱的共振滤波以及波谱振荡范围的调光分析与控制,有利于实现干扰谱线的消除;光束波段信号分析装置(8)主要用于光束波段的谱线分析和样品解离的光谱衍射波段隔离校正,有利于减少波长差,降低波谱不规则散射干扰;信号显示与记录装置(9)主要用于原子谱线调光分析的信号显示与记录。本专利技术与现有技术相比具有的有益效果是:(I)通过波谱频段调控装置进行光束波谱频段的调节,对不同波段范围的多重光谱予以叠加和二次分离;(2)通过波谱偏振谐波装置实现光束的波谱偏振处理以及光谱波段的谐波分离与筛选,防止波段基线漂移以及多重光束叠加引起的谱线重叠,避免对后续光谱分析造成不利影响;(3)通过光谱偏振滤光装置用于光谱的频段偏振处理以及色谱波段的筛选与隔离分析,便于谱线分析线与测试线的区分。【专利附图】【附图说明】图1是原子谱线调光分析仪的示意图如图1所示,本专利技术所述的原子谱线调光分析仪,主要包括:1-宽波谱光束产生装置,2-波谱频段调控装置,3-波谱偏振谐波装置,4-样品导入装置,5-样品高能解离装置,6—光谱偏振滤光装置,7-光束谱线共振检测装置,8—光束波段信号分析装置,9一信号显示与记录装置;下面结合附图对本专利技术的【具体实施方式】作进一步详细的描述。【具体实施方式】首先,通过宽波谱光束产生装置(I)进行光束波谱范围的调节以及光束强度的合理控制,为原子谱线调光分析提供合适波段范围的光束,结合波谱频段调控装置(2)实现光束波谱频段的调节,对不同波段范围的多重光谱予以叠加和二次分离,采用波谱偏振谐波装置(3)进行光束的波谱偏振处理以及光谱波段的谐波分离与筛选,防止波段基线漂移以及多重光束叠加引起的谱线重叠,避免对后续光谱分析造成不利影响;借助于样品导入装置(4)用于分析样品的导入以及样品的初步预处理实现,实现干扰元素的初步分离,消除基体干扰;通过样品高能解离装置(5)实现分析样品的分子断裂以及高温热裂解处理,实现原子谱线调光分析的多频段光谱生成,便于提高分析灵敏度和光束谱带范围;结合光谱偏振滤光装置(6)进行光谱的频段偏振处理以及色谱波段的筛选与隔离分析,便于谱线分析线与测试线的区分,借助于光束谱线共振检测装置(7)实现衍射波谱的共振滤波以及波谱振荡范围的调光分析与控制,有利于实现干扰谱线的消除;采用光束波段信号分析装置(8)用于光束波段的谱线分析和样品解离的光谱衍射波段隔离校正,有利于减少波长差,降低波谱不规则散射干扰;最后,通过信号显示与记录装置(9)实现原子谱线调光分析的信号显示与记录。【权利要求】1.原子谱线调光分析仪,其特征在于,主要包括: 1-宽波谱光束产生装置,2--波谱频段调控装置,3-波谱偏振谐波装置, 4-样品导入装置,5-样品高能解离装置,6—光谱偏振滤光装置, 7-光束谱线共振检测装置,8—光束波段信号分析装置,9一信号显示与记录装置; 其中, 宽波谱光束产生装置(I)含有高温离子光束发射电极,该电极材料为六硅氧化镨锕合金, 波谱频段调控装置(2)含有十五棱椎型滤光透镜,该透镜表面覆盖有厚度为9.67um的八苯胺膦葵三溴钆錡纳米复合滤光膜; 波谱偏振谐波装置(3)含有九孔衍射透光板,双凹透镜,偏振反射透镜,其中,九孔衍射透光板含有九个直径为0.89um的衍射圆孔,这九个圆孔的排列方式为正九边形;双凹透镜表面镀有两层厚度均为0 .78um的六嘧啶九啶酮三苯酯氯化锘钇纳米复合透光膜。【文档编号】G01N21/25GK104020112SQ20141本文档来自技高网
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【技术保护点】
原子谱线调光分析仪,其特征在于,主要包括:1‑‑宽波谱光束产生装置,2‑‑波谱频段调控装置,3‑‑波谱偏振谐波装置,4‑‑样品导入装置,5‑‑样品高能解离装置,6‑‑光谱偏振滤光装置,7‑‑光束谱线共振检测装置,8‑‑光束波段信号分析装置,9‑‑信号显示与记录装置;其中,宽波谱光束产生装置(1)含有高温离子光束发射电极,该电极材料为六硅氧化镨锕合金,波谱频段调控装置(2)含有十五棱椎型滤光透镜,该透镜表面覆盖有厚度为9.67um的八苯胺膦葵三溴钆鎶纳米复合滤光膜;波谱偏振谐波装置(3)含有九孔衍射透光板,双凹透镜,偏振反射透镜,其中,九孔衍射透光板含有九个直径为0.89um的衍射圆孔,这九个圆孔的排列方式为正九边形;双凹透镜表面镀有两层厚度均为0.78um的六嘧啶九啶酮三苯酯氯化锘钇纳米复合透光膜。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:储冬红彭飞郭楚媛郭睦庚严方园其他发明人请求不公开姓名
申请(专利权)人:成都中远千叶科技有限公司
类型:发明
国别省市:四川;51

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