针脚弯曲检测方法技术

本发明专利技术揭露一种针脚弯曲检测方法，应用至插槽。插槽包含多个针脚。针脚弯曲检测方法包含：产生关于插槽的二值化影像，其中二值化影像具有针脚矩阵图案；基于针脚矩阵图案的轮廓特征产生多个参考线；基于参考线于二值化影像上计算多组参考点，其中多组参考点分别对应针脚；判断每一组参考点的灰阶值是否为255；以及若否，则判定插槽为严重不合格。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术揭露一种，应用至插槽。插槽包含多个针脚。包含：产生关于插槽的二值化影像，其中二值化影像具有针脚矩阵图案；基于针脚矩阵图案的轮廓特征产生多个参考线；基于参考线于二值化影像上计算多组参考点，其中多组参考点分别对应针脚；判断每一组参考点的灰阶值是否为255;以及若否，则判定插槽为严重不合格。【专利说明】
本专利技术是有关于一种，特别是有关于一种应用于中央处理器 (Central Processing Unit, CPU)的插槽的。
技术介绍
现行主流的中央处理器（Central Processing Unit, CPU)的插槽可区分为 1366/1567/2011针脚等。由于这些插槽的针脚数量非常多，因此经常会出现针脚偏移、异物 入侵、针脚毁损等情况出现。目前在检测插槽的针脚所采用的方式，是利用人工目视方式进 行检查，但此方式并不可靠，常常会造成后续中央处理器测试时容易出现品质问题。 -般来说，针脚与针脚之间的间距约为40mils(约1. 016mm)左右。而在针脚常出 现的角度歪斜或阴影、下压或上翘等多种不良情况之中，有些偏移仅4?5mils，以上述人 工目视方式难以验出。 再者，单一插槽少则包含一千多个针脚，多则包含两千多个针脚，若以述人工目视 方式进行检查，不仅时间缓慢，并且容易出现误判为通过检测的不良品。 另外，目前虽有已知自动光学检测（Α0Ι)设备可用以检测插槽，但其成本费用相 当高（超过百万元）。在检测过程中，已知自动光学检测设备必须在检测完一个插槽之后， 才能再移动到另一个插槽进行检测，造成待测的插槽数量越多，其所需的检测时间就越长 的问题。不仅如此，已知自动光学检测设备所需的治具空间较大。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种。 本专利技术提供一种，其是应用至插槽。插槽包含多个针脚。针脚弯 曲检测方法包含：产生关于插槽的二值化影像，其中二值化影像具有针脚矩阵图案；基于 针脚矩阵图案的轮廓特征产生多个参考线；基于参考线于二值化影像上计算多组参考点， 其中多组参考点分别对应针脚；判断每一组参考点的灰阶值是否为255 ;以及若否，则判定 插槽为严重不合格。 于本专利技术的一实施例中，上述产生关于插槽的二值化影像的步骤包含：拍摄插槽 的彩色影像；转换彩色影像为灰阶影像；以及转换灰阶影像为二值化影像。 于本专利技术的一实施例中，上述转换灰阶影像为二值化影像的步骤包含：划分灰阶 影像为多个影像区块；定义多个灰阶临界（threshold)值分别对应影像区块；以及使影像 区块分别根据灰阶临界值进行二值化，进而获得二值化影像。 于本专利技术的一实施例中，上述的灰阶临界值的范围为130?150。 于本专利技术的一实施例中，上述基于针脚矩阵图案的轮廓特征产生多个参考线的步 骤包含：基于参考线旋转二值化影像，致使针脚矩阵图案转正。 于本专利技术的一实施例中，上述的每一针脚包含针尖以及针体。每一组参考点包含 第一参考点以及多个第二参考点。第一参考点与对应的针脚的针尖对应，并且第二参考点 与对应的针脚的针体对应。 于本专利技术的一实施例中，上述若判断每一组参考点的灰阶值是否为255的步骤的 判断结果为是，则还包含：分别基于第一参考点撷取多个像素矩阵，其中 每一像素矩阵具有针尖图案；判断每一像素矩阵中的针尖图案与任一相邻的像素矩阵中的 针尖图案的形状相似度是否大于预定比值；以及若否，则判定插槽为轻微不合格。 于本专利技术的一实施例中，上述的预定比值为70%?80%。 于本专利技术的一实施例中，上述的每一第一参考点位于对应的像素矩阵的中心。 于本专利技术的一实施例中，上述的针脚矩阵图案的轮廓特征为针脚矩阵图案的边 界。 综上所述，本专利技术所提供的首先是对插槽进行影像拍摄以及 影像处理，进而获得插槽的二值化影像。接着，是在二值化影像上计算 出正常针脚位置所对应的参考点。最后，再判断参考点的灰阶值是否为 255 (亦即，白色），若否，则代表参考点所对应的针脚发生偏移现象。借此，本专利技术的针脚弯 曲检测方法可检测出人工目视难以观察到的小幅度偏移现象（例如，角度歪斜或阴影、下 压或上翘等），进而减少误判缺失的发生。并且，本专利技术的可采用全自动 光学辨识技术，进而大幅减少检测时间。再者，本专利技术的仅须成本低廉的 光学治具结合程式应用，可取代已知自动光学检测设备动辄百万元以上的建置费用。 【专利附图】【附图说明】 图1为绘示本专利技术一实施方式的的流程图； 图2为绘示图1中的的细部流程图； 图3为绘示插槽的二值化影像的示意图； 图4为绘示图3中的二值化影像的另一示意图，其中参考线以白色线条表示； 图5为绘示图3中的二值化影像的局部放大图； 图6A为绘示像素矩阵的示意图； 图6B为绘示另一相邻像素矩阵的示意图。 【具体实施方式】 以下将以附图揭露本专利技术的多个实施例，为明确说明起见，许多实务上的细节将 在以下叙述中一并说明。然而，应了解到，这些实务上的细节不应用以限制本专利技术。也就是 说，在本专利技术部分实施例中，这些实务上的细节是非必要的。此外，为简化附图起见，一些已 知惯用的结构与元件在附图中将以简单示意的方式绘示。 请参照图1、图2以及图3。图1为绘示本专利技术一实施方式的的 流程图。图2为绘示图1中的的细部流程图。图3为绘示插槽的二值化 影像1的示意图。 如图1、图2与图3所示，于本实施方式中，包含步骤S100至步 骤 S104。 步骤S100 :拍摄插槽的彩色影像。 步骤S102 :转换彩色影像为灰阶影像。 步骤S104 :转换灰阶影像为二值化影像1。 借此，即可产生关于插槽的二值化影像1 (如图3所示）。其中，二值化影像1具 有针脚矩阵图案（array pattern) 2。针脚矩阵图案2是由多个针脚图案20所构成。针脚 矩阵图案2的灰阶值为255 (亦即，白色），而针脚矩阵图案2以外的区域的灰阶值为0 (亦 即，黑色）。 于产生上述二值化影像1的实际过程中，可采用高解析度显微镜（例如，解析度为 1280xl024pixel)，并开发专用治具、图形应用界面及演算法来实施上述目的。专用治具可 包含光罩以及自动调光设备以自动调整光源，使得光源能沿着插槽的针脚方向顺向打光， 进而获得品质较佳的彩色影像。 然而，现实中所拍摄的彩色影像往往会受限于环境因素（例如，光源数量、光源架 设位置、插槽种类、针脚形状等），造成彩色影像上各区域的明暗分布不均。若在上述灰阶影 像转换成二值化影像1时，仅单纯以固定的灰阶临界（threshold)值进行影像的二值化处 理，则可能会造成二值化影像1上的针脚矩阵图案2各区域大小不一，并造成后续发生误判 情事。 因此，为了解决上述问题，于本实施方式中，的步骤S104包含 步骤S104a至步骤S104c，如图2所示。 步骤S104a :划分灰阶影像为多个影像区块。 步骤S104b :定义多个灰阶临界值分别对应影像区块。 步骤S104c :使影像区块分别根据灰阶临界值进行二值化，进而获得二值化影像 1〇 由此可知，根据本专利技术的，可使灰阶影像中比较暗的影像区块 中以比较本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种针脚弯曲检测方法，其特征在于，应用至一插槽，该插槽包含多个针脚，该针脚弯曲检测方法包含：产生关于该插槽的一二值化影像，其中该二值化影像具有一针脚矩阵图案；基于该针脚矩阵图案的轮廓特征产生多个参考线；基于该些参考线于该二值化影像上计算多组参考点，其中该些组参考点分别对应该些针脚；判断每一该些组参考点的灰阶值是否为255；以及若否，则判定该插槽为严重不合格。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：吴文棋，宋建福，
申请(专利权)人：英业达科技有限公司，英业达股份有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31