触控装置及其量测电压动态调整方法制造方法及图纸

一种触控装置其量测电压动态调整方法。该触控装置包含一触控面板、一触控感测电路以及一处理单元。该触控感测电路，电性连接至该触控面板，用以提供一第一量测电压于该触控面板，以及感测该触控面板的电容变化，以产生一感测信号。该处理单元，电性连接至该触控感测电路，用以接收该感测信号，根据该感测信号，判断一触碰是否由一触控笔所造成，以及，若是，则致能该触控感测电路提供一第二量测电压于该触控面板，其中该第二量测电压大于该第一量测电压。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】一种触控装置其量测电压动态调整方法。该触控装置包含一触控面板、一触控感测电路以及一处理单元。该触控感测电路，电性连接至该触控面板，用以提供一第一量测电压于该触控面板，以及感测该触控面板的电容变化，以产生一感测信号。该处理单元，电性连接至该触控感测电路，用以接收该感测信号，根据该感测信号，判断一触碰是否由一触控笔所造成，以及，若是，则致能该触控感测电路提供一第二量测电压于该触控面板，其中该第二量测电压大于该第一量测电压。【专利说明】
本专利技术关于一种。特别关于一种触控装置，其根据感测信号，判断触控面板上的对象种类，以根据判断结果，动态调整量测电压。
技术介绍
近年来，触控装置(例如:个人数字助理(PDA)、平板计算机、数字摄影机、信息家电、手机等)已普遍用于日常生活中上。以使用者可透过触碰方式简易地操作触控装置。其中，触控装置的触控面板又以电容式触控面板较为广泛使用。 使用者除了可藉由手指触碰触控面板操作触控装置外，亦可藉由触控笔触碰触控面板操作触控装置。然而，由于手指与触控笔对触控面板所造成的电容变化并不相同，特别是的触控笔所造成的电容变化相对较小，因此当提供一般针对手指触碰所设计的固定量测电压于触控面板时，触控笔所产生的电容变化常因无法超过一判定触碰发生的门坎值，而造成操作上的不便。为解决此问题，部份厂商即提供较高的固定量测电压于触控面板，此举虽可以有效地提高的触控笔所产生的电容变化，但将使得触控装置较为耗电。 综上所述，如何在使用触控笔操作触控装置的情况下，提供适当的量测电压，以使得触控装置可准确地因应触控笔所产生的电容变化而判定触碰的发生，同时亦避免过于耗电，乃是现今业界仍需努力解决的问题。
技术实现思路
本专利技术的一目的在于提供一种动态调整量测电压的机制，其藉由判断触控面板是否被一触控笔所触碰，以动态调整量测电压，使得触控装置可准确地因应触控笔所产生的电容变化而判定触碰的发生，同时亦避免过于耗电。 为达上述的目的，本专利技术公开一种触控装置。该触控装置包含一触控面板、一触控感测电路以及一处理单元。该触控感测电路，电性连接至该触控面板，用以提供一第一量测电压于该触控面板，以及感测该触控面板的电容变化，以产生一感测信号。该处理单元，电性连接至该触控感测电路，用以接收该感测信号，根据该感测信号，判断一触碰是否由一触控笔所造成，以及，若是，则致能该触控感测电路提供一第二量测电压于该触控面板，其中该第二量测电压大于该第一量测电压。 此外，本专利技术更揭露一种用于一触控装置的量测电压动态调整方法。该量测电压动态调整方法包含下列步骤:(a)致能一触控感测电路，提供一第一量测电压于一触控面板；(b)自该触控感测电路接收一感测信号；(c)根据该感测信号，判断一触碰是否由一触控笔所造成；以及(d)若是，则致能该触控感测电路，提供一第二量测电压于该触控面板，其中该第二量测电压大于该第一量测电压。 在参阅附图及随后描述的实施方式后，所属
普通技术人员便可了解本专利技术的其它目的、优点以及本专利技术的技术手段及实施例。 【专利附图】【附图说明】 图1是根据本专利技术的触控装置I的示意图。 图2A是描绘触碰区域Al、第一位置P1、第二位置P2与位置差值PV间的关系。 图2B是描绘最大感测信号SM、比例感测信号SP、感测信号差值SV，与位置差值PV间的关系。 图3是本专利技术第二实施例的量测电压动态调整方法的流程图。 【具体实施方式】 需说明的是，以下实施例是用以举例说明本专利技术的
技术实现思路
，并非用以限制本专利技术的范围。再者，以下实施例及附图中，与本专利技术无关的组件已省略而未绘示，且附图中各组件间的尺寸关系仅为求容易了解，非用以限制实际比例。 图1是描绘本专利技术第一实施例的触控装置1，其可为一手机、一个人数字助理、一平板计算机、一外接式触控板或任何具有触控功能的装置。触控装置I包含一触控面板11、一触控感测电路13以及一处理单元15。需注意者，基于说明简化的原则，触控装置I的其它组件，例如通讯模块、输入模块、供电模块及与本专利技术较不相关的组件，皆于图中省略而未绘示。 触控感测电路13电性连接至触控面板11及处理单元15。触控感测电路13提供一第一量测电压Vl于触控面板11，以及感测触控面板11的电容变化，以产生一感测信号102。在本专利技术中，感测信号102的大小可代表因触碰触控面板11所造成的电容值的改变量。 处理单元15接收感测信号102，并根据感测信号102，判断触控面板11上的一触碰对象是否为触控笔，即判断触控面板11的电容变化是否由触控笔所造成。当判断触碰对象为触控笔，处理单元15致能触控感测电路13提供一第二量测电压V2于触控面板11。 具体而言，第二量测电压V2大于第一量测电压VI。当处理单元15根据感测信号102，判断使用者使用触碰笔操作触控装置I时，则致能触控感测电路13提供第二量测电压V2于触控面板11。如此一来，当提供第二量测电压V2于触控面板11时，处理单元15可以准确地判定触控笔所造成的触碰，藉此降低噪声对位置判断的影响。 以下举例说明，处理单元15如何判断触控面板11的电容变化是否由触控笔所造成。然而，本专利技术的判断方式并非局限于此，所属
普通技术人员可轻易了解判断触控面板11的电容变化是否由触控笔所造成的方式可有相当多种变化及替代方式，故在此不加以赘述。 如图2A所示，处理单元15根据感测信号102 (即根据电容值的改变量)，可得到触控面板11上的一触碰区域Al。详言的，处理单元15是判断对应触控面板11上的多个连续的位置的感测信号102皆大于一门坎值，而得到触碰区域Al。触碰区域Al代表一导电物体触碰触控面板11时，电容值发生变化的区域。随后，处理单元15撷取对应触碰区域Al的感测信号102中的一最大感测信号SM，及对应最大感测信号的一第一位置P1。然后，处理单元15将最大感测信号乘上一预设比例(例如:60%)来做为一默认值SP，根据设定值SP可以在触碰区域Al中进一步获得如虚线所示的一判断区域A2。其中，在判断区域A2内的感测信号大于或等于设定值SP。接着，比较判断区域A2边界上的各位置到第一位置Pl的距离，将判断区域A2边界上最接近第一位置Pl的位置决定为一第二位置P2。 请再参考图2B，当决定好第一位置Pl及第二位置P2后，处理单元15计算触碰区域Al的最大感测信号SM与比例感测信号SP间的一感测信号差值SV，及第一位置Pl与第二位置P2间的一位置差值PV。最后，处理单元15根据触碰区域Al的感测信号差值SV与位置差值PV的一比值R，判断触碰区域Al上的触碰是否由触控笔所造成。详言之，比值R可为SV/PV，由于触控笔相较于手指接触到触控面板11的区域较小，故当比例R大于一默认值时，处理单元15即可判断触碰区域Al的电容变化是由触控笔所造成。反之，当比例R小于该默认值时，处理单元15可判断触碰区域Al的电容变化是由手指所造成。 须说明的是，处理单元15根据感测信号102得到多个触碰区域，且针对各触碰区域的触碰判断皆可使用前述判断触碰区域Al的触碰是否由触控笔所造成的方式来进行。当任一触碰区域的触碰是由触控笔所造成时，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种触控装置，包含：一触控面板；一触控感测电路，电性连接至该触控面板，用以提供一第一量测电压于该触控面板，以及感测该触控面板的电容变化，以产生一感测信号；以及一处理单元，电性连接至该触控感测电路，接收该感测信号，根据该感测信号，判断一触碰是否由一触控笔所造成，以及，若是，则致能该触控感测电路提供一第二量测电压于该触控面板，其中该第二量测电压大于该第一量测电压。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：叶仪晧，黄柏瑄，杨学伟，简永烈，
申请(专利权)人：义隆电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71