【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术提供一种元器件FMEA分析层次划分方法与系统，根据元器件的失效部位，将元器件分解为具有独立的失效机理的功能单元，根据元器件失效信息和预设层次划分需求，确定由最低功能单元组合而成最低分析层级，确定最低分析层级的失效影响，待分析最低分析层级的上一分析层级失效影响时，将最低分析层级的失效模式作为失效影响，进行失效影响分析，依次类推，确定对整个元器件的失效影响，根据对整个元器件的失效影响，对元器件进行可靠性分析。整个过程，将元器件划分为可分析的功能单元，以便从功能单元的失效机理出发对元器件开展FMEA分析，有利于掌握元器件内部失效的薄弱环节，真实、准确获得元器件的失效影响，对元器件进行准确的可靠性分析。【专利说明】元器件FMEA分析层次划分方法与系统
本专利技术涉及元器件失效分析
，特别是涉及元器件FMEA分析层次划分方法与系统。
技术介绍
系统在应用FMEA (Failure Mode and Effect Analysis,故障模式及影响分析)之前，要将系统按等级分解成更基本的要素。然后，分析从最底层要素开始。较...
【技术保护点】
一种元器件FMEA分析层次划分方法，其特征在于，包括步骤：根据所述元器件的失效部位，将所述元器件分解为一个或者多个功能单元，其中，所述功能单元具有独立的失效机理；获取元器件失效信息，根据所述元器件失效信息和预设层次划分需求，确定最低分析层级，其中，所述最低分析层级包括所述元器件失效信息完整的一个或者多个所述功能单元；查找最低分析层级中每个功能单元的独立失效机理，并分析每种失效机理对应的失效影响，确定最低分析层级的失效影响；待分析所述最低分析层级的上一分析层级失效影响时，将最低分析层级的失效模式作为失效影响，对所述最低分析层级的上一分析层级进行失效影响分析，依次类推，直至对元...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：陈媛，来萍，黄云，何小琦，
申请(专利权)人：工业和信息化部电子第五研究所，
类型：发明
国别省市：广东;44
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