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本发明提供一种元器件FMEA分析层次划分方法与系统，根据元器件的失效部位，将元器件分解为具有独立的失效机理的功能单元，根据元器件失效信息和预设层次划分需求，确定由最低功能单元组合而成最低分析层级，确定最低分析层级的失效影响，待分析最低分析层...
该专利属于工业和信息化部电子第五研究所所有，仅供学习研究参考，未经过工业和信息化部电子第五研究所授权不得商用。

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