高精度测试模组制造技术

本实用新型专利技术公开了一种高精度测试模组,旨在提供一种能避免对探针强度的依赖，降低对操作人员工作技能的要求及能很好地保证具有小测试点、小测试间距、大数量测试点的电子产品主板的测试的稳定性的高精度测试模组。本实用新型专利技术包括限位针板（1）、探针头部限位板（2）、第一增强板（3）、中部针板（4）、第二增强板（5）、探针尾部限位板（6）及下限位板（7），所述探针头部限位板（2）、所述第一增强板（3）、所述中部针板（4）、所述第二增强板（5）及所述探针尾部限位板（6）上均设有多个通孔Ⅰ，所述上限位针板（1）上设有多个通孔Ⅱ，所述下限位板（7）上设有多个通孔Ⅲ。本实用新型专利技术应用于自动化测试设备的技术领域。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种高精度测试模组。
技术介绍
对于传统的测试模组，探针的固定是通过探针与针板过盈配合而产生的摩擦力来实现的，因此对探针的强度有比较高的要求，所以无法做到更小的尺寸,也无法实现更高精度的测试(测试点间距小于0.8mm)。并且探针的对位精度都是放在针板上面，通过针板的精度和探针本身的强度来保证，无法保证小测试点(直径0.3mm-0.4mm)的精确对位。当然探针的固定也可以采用其他方式，比如公开号为102062791A的中国专利，其公开了一种探针座，包括有一座体、一绝缘上盖、一绝缘下盖、及多支探针。其中,多支探针分别容设于座体的多个贯通孔内,且绝缘上盖、及绝缘下盖分别组设于座体的上、下表面。而多支探针分别透过其径向扩大的肩部,而卡止限位于绝缘上盖的上穿孔与绝缘下盖的下穿孔之间。对于上述探针，由于其设有肩部，必然探针的整体结构的尺寸会变大，同样无法实现更高精度的测试(测试点间距小于0.8mm)，而且对位精度是依靠贯通孔的加工精度和探针肩部本身的强度来保证的，在实际操作过程中发现，要想同时保证贯通孔的加工精度和探针肩部本身的强度的难度是非常大的，因此无法保证小测试点（0.3mm-0.4mm）大数量探针（超过200Pcs）的精确对位。采用传统的探针固定方式，探针在安装过程中受力较大，对探针本身的强度和作业人员的技能要求很高。特别是针对小尺寸的探针(直径0.8mm以内)，在安装过程中极易损坏探针，并且探针是过盈配合在针板中的，损坏的探针很难取出来。即使能够取出损坏的探针，对针板上的探针安装孔的精度也会有比较大损害。<br>常规的探针对位精度的是通过针板针孔的加工精度和探针本身的强度来实现的。载板只是起到放置被测产品和保护探针的作用。在结构设计上来看，存在基准不一致的问题。同样也无法保证小测试点（直径0.3mm-0.4mm）大数量探针（一块针板探针数量超过200Pcs）的精确对位。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供一种能避免对探针强度的依赖，降低对操作人员工作技能的要求及能很好地保证具有小测试点（测试点直径0.3mm-0.4mm）、小测试间距（测试点间距小于0.8mm）、大数量测试点（一块针板探针数量超过200Pcs）的电子产品主板的测试的稳定性的高精度测试模组。本技术所采用的技术方案是：本技术包括由上至下依次固定设置的上限位针板、探针头部限位板、第一增强板、中部针板、第二增强板、探针尾部限位板及下限位板，所述探针头部限位板、所述第一增强板、所述中部针板、所述第二增强板及所述探针尾部限位板上均设有多个与探针主体间隙配合的通孔Ⅰ，所述上限位针板上设有多个与探针头间隙配合的通孔Ⅱ，所述下限位板上设有多个与探针尾间隙配合的通孔Ⅲ，所述通孔Ⅱ和所述通孔Ⅲ的孔径均小于所述通孔Ⅰ的孔径。所述第一增强板和所述第二增强板均设为中空，形成空腔，工作时，探针穿过中空部分，所述第一增强板和所述第二增强板的外围被所述中部针板和所述探针头部限位板或所述探针尾部限位板紧压。所述通孔Ⅱ的下部同轴设有与所述探针主体间隙配合的所述通孔Ⅰ。所述高精度测试模组还包括设置在所述上限位针板上方的载板，所述载板设置有多个与探针相适配的导针孔。所述导针孔由上导向孔和下导向孔组成，所述上导向孔的孔径小于所述下导向孔的孔径，且所述上导向孔与所述下导向孔之间通过导向斜面过渡。所述导针孔为锥形孔，所述导针孔的孔径由上至下逐渐变大。所述探针头部限位板上设置有若干个导柱，所述载板上设有与所述导柱相适配的导柱孔，所述载板与所述导柱滑动配合。本技术的有益效果是：由于本技术包括由上至下依次固定设置的上限位针板、探针头部限位板、第一增强板、中部针板、第二增强板、探针尾部限位板及下限位板，所述探针头部限位板、所述第一增强板、所述中部针板、所述第二增强板及所述探针尾部限位板上均设有多个与探针主体间隙配合的通孔Ⅰ，所述上限位针板上设有多个与探针头间隙配合的通孔Ⅱ，所述下限位板上设有多个与探针尾间隙配合的通孔Ⅲ，所述通孔Ⅱ和所述通孔Ⅲ的孔径均小于所述通孔Ⅰ的孔径，所以，上述的间隙配合能很好的回避了采用探针与针板过盈配合的方式，从而避免了对探针强度的依赖。在安装的过程中只要取下所述上限位针板探针可以轻松的取下和放入，降低对操作人员工作技能的要求，采用本技术的结构可以不考虑探针的强度，从而可以安装更小的探针，能很好地保证具有小测试点（测试点直径0.3mm-0.4mm）、小测试间距（测试点间距小于0.8mm）、大数量测试点（一块针板探针数量超过200Pcs）的电子产品主板的测试的稳定性。附图说明图1是本技术的整体结构示意图；图2是图1的D-D方向的剖视图；图3是图2的A处的放大结构示意图；图4是本技术的另一结构示意图；图5是图4的B处的放大结构示意图；图6是图4的B处的另一放大结构示意图。具体实施方式如图1至图4所示，在本实施例中，本技术包括由上至下依次固定设置的上限位针板1、探针头部限位板2、第一增强板3、中部针板4、第二增强板5、探针尾部限位板6及下限位板7，所述探针头部限位板2、所述第一增强板3、所述中部针板4、所述第二增强板5及所述探针尾部限位板6上均设有多个与探针主体8间隙配合的通孔Ⅰ，所述上限位针板1上设有多个与探针头9间隙配合的通孔Ⅱ，所述下限位板7上设有多个与探针尾10间隙配合的通孔Ⅲ，所述通孔Ⅱ和所述通孔Ⅲ的孔径均小于所述通孔Ⅰ的孔径。所述第一增强板3和所述第二增强板5均设为中空，形成空腔，工作时，探针穿过中空部分，所述第一增强板3和所述第二增强板5的外围被所述中部针板4和所述探针头部限位板2或所述探针尾部限位板6紧压。所述通孔Ⅱ的下部同轴设有与所述探针主体8间隙配合的所述通孔Ⅰ。所述高精度测试模组还包括设置在所述上限位针板1上方的载板11，所述载板11设置有多个与探针相适配的导针孔12。如图5所示，所述导针孔12由上导向孔13和下导向孔14组成，所述上导向孔13的孔径小于所述下导向孔14的孔径，且所述上导向孔13与所述下导向孔14之间通过导向斜面15过渡。如图6所示，所述导针孔12也可以为锥形孔，所述导针孔12的孔径由上至下逐渐变大。所述探针头部限位板2上设置有若干个导柱16，所述载板11上设有与所述导柱16相适配的导柱孔17，所述载板11与所述导柱16滑动配合。在本实施例中，探针由探针主体8、设置在所述探针主体8两端的探针头9和探针尾10及设置所述探针主体8的弹簧组成，所述上限位针板1用于防止探针向上跳出，所述探针头部限位板2可以限制小范围控制探针的平面运动、所述第一增强板3和所述第二增强板5均用于增加机构的高度和强度，所述中部针板4用于防止探针在安装时变形，所述探针尾部限位板6用于限制探针的尾部，所述下限位板7用于防止探针向下运动。每层板上的孔和探针之间都是有间隙的，取下所述上限位针板1，探针可以轻松的取下和放入。各层之间相互配合本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种高精度测试模组，其特征在于：所述高精度测试模组包括由上至下依次固定设置的上限位针板（1）、探针头部限位板（2）、第一增强板（3）、中部针板（4）、第二增强板（5）、探针尾部限位板（6）及下限位板（7），所述探针头部限位板（2）、所述第一增强板（3）、所述中部针板（4）、所述第二增强板（5）及所述探针尾部限位板（6）上均设有多个与探针主体（8）间隙配合的通孔Ⅰ，所述上限位针板（1）上设有多个与探针头（9）间隙配合的通孔Ⅱ，所述下限位板（7）上设有多个与探针尾（10）间隙配合的通孔Ⅲ，所述通孔Ⅱ和所述通孔Ⅲ的孔径均小于所述通孔Ⅰ的孔径。

【技术特征摘要】
1.一种高精度测试模组，其特征在于：所述高精度测试模组包括由上至下依次固定设置的上限位针板（1）、探针头部限位板（2）、第一增强板（3）、中部针板（4）、第二增强板（5）、探针尾部限位板（6）及下限位板（7），所述探针头部限位板（2）、所述第一增强板（3）、所述中部针板（4）、所述第二增强板（5）及所述探针尾部限位板（6）上均设有多个与探针主体（8）间隙配合的通孔Ⅰ，所述上限位针板（1）上设有多个与探针头（9）间隙配合的通孔Ⅱ，所述下限位板（7）上设有多个与探针尾（10）间隙配合的通孔Ⅲ，所述通孔Ⅱ和所述通孔Ⅲ的孔径均小于所述通孔Ⅰ的孔径。
2.根据权利要求1所述的高精度测试模组，其特征在于：所述第一增强板（3）和所述第二增强板（5）均设为中空，形成空腔，工作时，探针穿过中空部分，所述第一增强板（3）和所述第二增强板（5）的外围被所述中部针板（4）和所述探针头部限位板（2）或所述探针尾部限位板（6）紧压。
3.根据权利要求1所述的高精度测试模组，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：卢国强，
申请(专利权)人：珠海市运泰利自动化设备有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44