液晶显示模块检测系统及方法技术方案

本发明专利技术提供了一种液晶显示模块检测系统和方法，包括：检测模块，用于检测液晶显示模块的参数，获得检测数据，并将所述检测数据发送至控制模块；控制模块，用于接收所述检测数据，并将所述检测数据与预设标准进行比较，如果符合标准，则合格，如果不符合，则不合格，生成对应的调整信息并发送至处理模块；处理模块，用于接收所述调整信息，并根据所述调整信息对所述液晶显示模块进行调整，以使所述液晶显示模块的检测数据符合标准。由于本发明专利技术提供的系统和方法，在检测和调整的过程中，不需要人工进行操作，因此，提高了液晶显示器件的检测效率，从而提高了液晶显示器件的生产效率和生产品质。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术提供了一种液晶显示模块检测系统和方法，包括：检测模块，用于检测液晶显示模块的参数，获得检测数据，并将所述检测数据发送至控制模块；控制模块，用于接收所述检测数据，并将所述检测数据与预设标准进行比较，如果符合标准，则合格，如果不符合，则不合格，生成对应的调整信息并发送至处理模块；处理模块，用于接收所述调整信息，并根据所述调整信息对所述液晶显示模块进行调整，以使所述液晶显示模块的检测数据符合标准。由于本专利技术提供的系统和方法，在检测和调整的过程中，不需要人工进行操作，因此，提高了液晶显示器件的检测效率，从而提高了液晶显示器件的生产效率和生产品质。【专利说明】
本专利技术涉及液晶显示
，更具体地说，涉及一种。
技术介绍
随着技术的不断发展和液晶显示器件生产工艺的提高，人们对液晶显示器件显示效果的期望也越来越高。为了能够生产出高品质的液晶显示产品，液晶显示模块的各个光学参数的检测和调节也变得越来越重要。 对于液晶显示模块而言，光学参数的检测包括亮度、对比度、色度、响应时间、交叉效应等，虽然现有技术中可以通过色度仪等设备，检测液晶显示模块的光学参数，但是，在检测的过程中，需要人工对设备进行操作以及调整，因此，会导致液晶显示模块的检测效率较低，从而影响液晶显示器件的生产效率和生产品质。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供了一种，以解决现有技术中液晶显示模块的检测效率低，影响液晶显示器件的生成效率和生产品质的问题。 为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案: 一种液晶显不模块检测系统,包括: 检测模块，用于检测液晶显示模块的参数，获得检测数据，并将所述检测数据发送至控制模块； 控制模块，用于接收所述检测数据，并将所述检测数据与预设标准进行比较，如果符合标准，则合格，如果不符合，则不合格，生成对应的调整信息并发送至处理模块； 处理模块，用于接收所述调整信息，并根据所述调整信息对所述液晶显示模块进行调整，以使所述液晶显示模块的检测数据符合标准。 优选的，所述控制模块包括: 接收模块，用于接收所述检测模块发送的检测数据； 比较模块，用于将所述检测数据与预设标准进行比较，并判断所述检测数据是否符合标准； 计算模块，用于在检测数据不符合标准时，根据所述检测数据和预设标准建立反馈调整算法，并生成对应的调整信息。 优选的，所述检测模块包括一个光度仪和一个点屏检测装置。 优选的，所述光度仪，用于检测液晶显示模块的光学参数；所述点屏检测装置，用于检测液晶显示模块的显示参数。 优选的，所述控制模块与至少一个所述检测模块相连。 优选的，所述控制模块通过数据线接口与所述光度仪相连，通过串口线接口与所述点屏检测装置相连。 优选的，所述控制模块还包括: 识别模块，用于检测和识别检测模块，生成对应的检测信号并发送至所述检测模块，以使所述检测模块按照预设的组合和顺序检测液晶显示模块的各个参数。 一种液晶显示模块检测方法，包括: 检测液晶显示模块的参数，获得检测数据； 将所述检测数据与预设标准进行比较； 如果符合标准，则合格； 如果不符合，则不合格，生成对应的调整信息，并根据所述调整信息对所述液晶显示模块进行调整，以使所述液晶显示模块的检测数据符合标准。 优选的，所述检测液晶显示模块的参数的过程具体为: 按照预设的组合和顺序检测液晶显示模块的参数，并获得对应的检测数据。 优选的，所述生成对应的调整信息的过程具体为: 根据所述检测数据和预设标准建立反馈调整算法，并生成对应的调整信息。 与现有技术相比，本专利技术所提供的技术方案具有以下优点: 本专利技术所提供的，通过检测模块自动检测液晶显示模块的参数，通过控制模块对检测数据进行比较判断，以判断液晶显示模块的参数是否合格，在不合格的情况下，通过处理模块对液晶显示模块进行调整，以使该液晶显示模块的检测数据符合标准。由于本专利技术提供的系统和方法，在检测和调整的过程中，不需要人工进行操作，因此，提高了液晶显示器件的检测效率，从而提高了液晶显示器件的生产效率和生产品质。 【专利附图】【附图说明】 为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。 图1为本专利技术实施例一提供的液晶显示模块检测系统的结构图； 图2为本专利技术实施例一提供的控制模块的结构图； 图3为本专利技术实施例二提供的液晶显示模块检测方法的流程图。 【具体实施方式】 正如
技术介绍
所述，现有技术中在检测液晶显示模块的光学参数时，需要人工对设备进行操作以及调整，因此，会导致液晶显示模块的检测效率较低，从而影响液晶显示器件的生产效率和生产品质。 基于此，本专利技术提供了一种液晶显示模块检测系统，以克服现有技术存在的上述问题，包括: 检测模块，用于检测液晶显示模块的参数，获得检测数据，并将所述检测数据发送至控制模块；控制模块，用于接收所述检测数据，并将所述检测数据与预设标准进行比较，如果符合标准，则合格，如果不符合，则不合格，生成对应的调整信息并发送至处理模块；处理模块，用于接收所述调整信息，并根据所述调整信息对所述液晶显示模块进行调整，以使所述液晶显示模块的检测数据符合标准。 本专利技术还提供了一种液晶显示模块检测方法，包括: 检测液晶显示模块的参数，获得检测数据；将所述检测数据与预设标准进行比较；如果符合标准，则合格；如果不符合，则不合格，生成对应的调整信息，并根据所述调整信息对所述液晶显示模块进行调整，以使所述液晶显示模块的检测数据符合标准。 本专利技术所提供的，通过检测模块自动检测液晶显示模块的参数，通过控制模块对检测数据进行比较判断，以判断液晶显示模块的参数是否合格，在不合格的情况下，通过处理模块对液晶显示模块进行调整，以使该液晶显示模块的检测数据符合标准。由于本专利技术提供的系统和方法，在检测和调整的过程中，不需要人工进行操作，因此，提高了液晶显示器件的检测效率，从而提高了液晶显示器件的生产效率和生产品质。 以上是本专利技术的核心思想，为使本专利技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本专利技术的【具体实施方式】做详细的说明。 在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本专利技术，但是本专利技术还可以采用其他不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本专利技术内涵的情况下做类似推广，因此本专利技术不受下面公开的具体实施例的限制。 其次，本专利技术结合示意图进行详细描述，在详述本专利技术实施例时，为便于说明，表示器件结构的剖面图会不依一般比例作局部放大，而且所述示意图只是示例，其在此不应限制本专利技术保护的范围。此外，在实际制作中应包含长度、宽度及深度的三维空间尺寸。 下面通过几个实施例详细描述。 实施例一 本实施例提供了一种液晶显示模块检测系统，用于检测和调节液晶显示模块的光学参数等，本实施例中的液晶显示模块是指LCD (Liquid Crystal Display,液晶显示器)，当然，本专利技术并不仅限于此。 本实施例提本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种液晶显示模块检测系统，其特征在于，包括：检测模块，用于检测液晶显示模块的参数，获得检测数据，并将所述检测数据发送至控制模块；控制模块，用于接收所述检测数据，并将所述检测数据与预设标准进行比较，如果符合标准，则合格，如果不符合，则不合格，生成对应的调整信息并发送至处理模块；处理模块，用于接收所述调整信息，并根据所述调整信息对所述液晶显示模块进行调整，以使所述液晶显示模块的检测数据符合标准。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：吴柏建，王月文，谢雄才，李孟祥，何基强，李建华，
申请(专利权)人：信利半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44