位置检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种构成为达成使用了闭环控制的自动对焦机构和抖动校正机构且共用自动对焦用磁体和抖动校正用磁体从而谋求小型化的位置检测装置。位置检测装置包括：自动对焦机构，其用于使透镜沿透镜(1)的光轴(Z轴)移动；以及抖动校正机构，其用于使透镜沿与光轴正交的方向移动。另外，永磁体(2)固定于透镜(1)，永磁体(2)随着透镜(1)的移动而移动，利用位置传感器(4、6)检测其移动量。应用于自动对焦机构的自动对焦用的永磁体(2)和应用于抖动校正机构的抖动校正用的永磁体(2)设于透镜(1)附近且共用。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】位置检测装置
本专利技术涉及一种位置检测装置，更详细而言，涉及一种这样的位置检测装置，其包括:用于自动对焦(AF)的位置传感器，其检测透镜在光轴方向上的位置；用于抖动校正 (OIS)的位置传感器，其检测透镜在与光轴方向垂直的平面内的位置；以及AF兼OIS用磁体，且由AF和OIS共用磁体而谋求小型化的位置检测装置。
技术介绍
近年来，使用移动电话用的小型相机拍摄静止图像的机会持续增加。相伴于此，一直以来提案有各种即使在拍摄静止图像时存在抖动(振动)也能够防止成像面上的图像模糊而能够进行清晰的拍摄的光学式抖动校正(0IS ；Optical Image Stabilizer/以下称为“抖动校正”)装置。作为这种抖动校正方式，公知有传感器位移式、透镜位移式等光学方式，通过使用软件进行图像处理来进行抖动校正的软件方式。 传感器位移式构成为利用驱动器使成像元件(CCD传感器、CMOS传感器)能够以标准位置为中心地移动。另外，透镜位移式具有能够在与光轴垂直的平面内移动调整透镜的构造。此外，软件方式例如从检测单元的检测结果中去除干扰成分，通过利用该去除了干扰成分的检测信号计算校正由成像装置的抖动引起的图像晃动所需的具体信息，使得在成像装置静止而没有抖动的状态下拍摄的图像也静止。另外，还提案有通过使对透镜和成像元件进行保持的透镜模块(或相机模块)自身摆动来校正抖动的抖动校正装置。 例如，专利文献I所述的装置为通过校正在利用移动电话用的小型相机拍摄静止图像时产生的抖动而能够拍摄没有图像模糊的图像的抖动校正装置，在自动对焦(AF ；AutoFocus)用相机驱动装置上设置抖动校正装置，共同使用永磁体，从而削减部件个数，其结果，做到了减小(降低)抖动校正装置的尺寸(主要为高度)。另外，在该专利文献I中，公开了用于检测自动对焦用透镜驱动装置的位置的位置检测单元、即四根霍尔元件沿透镜模块的各边配置。 专利文献1:日本特开2011-65140号公报 然而，在上述的软件方式中，相比于光学式，存在画质较差的问题，由于成像时间还包含软件的处理时间，因此存在成像时间较长的缺点。 另外，上述的专利文献I的装置包括自动对焦机构和抖动校正机构，在由自动对焦机构和抖动校正机构共同使用永磁体这一点与本专利技术是共通的，但专利文献I中的自动对焦机构为开环控制，因此，为了固定透镜位置，必须持续向线圈供给电流，而存在耗电量较大的问题。而且，由于存在弹簧的减幅，因此存在如下问题，即，到透镜位置确定为止需要花费时间，对焦搜索所需时间较长。
技术实现思路
专利技术要解决的问题 另外，对在自动对焦机构使用闭环控制的情况下的、用于让自动对焦机构和相机抖动校正机构共用磁体的构造没有任何说明。 本专利技术即是鉴于这样的问题而做成的，其目的在于提供一种能够对自动对焦和抖动校正进行闭环控制，且能够小型化的位置检测装置。 用于解决问题的方案 本专利技术即是为了达成上述目的而做成的，为一种位置检测装置，其检测透镜在与该透镜的光轴方向垂直的平面内的位置从而检测用于抖动校正的位置，检测上述透镜在上述光轴方向上的位置从而检测用于自动对焦的位置，该位置检测装置的特征在于，包括:磁体，其随着上述透镜在上述光轴方向和与上述光轴垂直的平面内方向上移动而移动；第I位置传感器，其用于自动对焦，其检测随着该磁体在上述光轴方向上的移动而变化的磁场，从而检测上述透镜在上述光轴方向上的位置；以及第2位置传感器，其用于抖动校正，其检测随着上述磁体在与上述光轴方向垂直的平面内的移动而变化的磁场，从而检测上述透镜在与上述光轴方向垂直的平面内的位置。 另外，其特征在于，该位置检测装置包括:自动对焦线圈，其设于上述磁体的附近，用于使上述透镜沿光轴方向移动；以及抖动校正用线圈，其设于上述磁体的附近，用于使上述透镜沿与光轴方向垂直的方向移动。 另外，其特征在于，上述第I位置传感器为第I霍尔元件，上述第2位置传感器为第2霍尔元件，上述第I霍尔元件配置为该第I霍尔元件的感磁面的法线方向与上述光轴垂直或平行，上述第2霍尔元件配置为该第2霍尔元件的感磁面的法线方向与上述光轴垂直或平行。 另外，其特征在于，该位置检测装置包括磁轭，该磁轭用于形成来自上述磁体的磁通量的磁路。 另外，其特征在于，该位置检测装置包括:自动对焦机构，其用于控制上述透镜在上述光轴方向上的位置；以及抖动校正机构，其用于控制上述透镜在与上述光轴方向垂直的平面内的位置，上述自动对焦机构根据上述第I位置传感器的输出检测上述透镜在上述光轴方向上的位置，将该检测的结果反馈到控制透镜位置的透镜位置控制部，从而控制上述透镜在上述光轴方向上的位置，上述抖动校正机构根据上述第2位置传感器的输出检测上述透镜在与上述光轴方向垂直的平面内的位置，将该检测的结果反馈到控制透镜位置的透镜位置控制部，从而控制上述透镜在与上述光轴方向垂直的平面内的位置。 另外，其特征在于，上述自动对焦机构根据用于上述抖动校正的第2位置传感器的输出来控制上述透镜的位置。 另外，其特征在于，上述抖动校正机构根据用于上述自动对焦的上述第I位置传感器的输出来控制上述透镜的位置。 另外，其特征在于，该位置检测装置包括:驱动体，其保持上述透镜；支柱，其成为用于供给电流的端子和/或输入或输出信号的端子；以及多个弹性构件，其分别连接于上述驱动体和上述端子的多个支柱，上述多个弹性构件连接于上述第I位置传感器、上述第2位置传感器、上述自动对焦线圈以及上述抖动校正用线圈中的至少一者。 另外，其特征在于，上述弹性构件由导电性构件构成。 另外，其特征在于，上述弹性构件为字母S状的弹簧或环状的板簧。 另外，其特征在于，该位置检测装置包括相机模块，该相机模块用于收纳上述透镜、上述磁体、上述第I位置传感器以及上述第2位置传感器。 另外，其特征在于，上述第I位置传感器和/或上述第2位置传感器配置于上述相机模块内的四角中的任意角。 另外，其特征在于，该位置检测装置包括第3位置传感器，该第3位置传感器与上述第2位置传感器不同，是用于抖动校正，其检测上述透镜在与上述光轴方向垂直的平面内的位置，上述第2位置传感器和/或上述第3位置传感器配置于上述相机模块内的四角的任意角。 另外，其特征在于，上述第2位置传感器检测上述透镜在与上述光轴正交的第I方向上的位置，上述第3位置传感器检测上述透镜在与上述光轴以及上述第I方向正交的第2方向上的位置。 另外，其特征在于，上述第I方向为与上述相机模块的边的方向不同的方向。 另外，其特征在于，上述第I方向为与上述相机模块的边的方向成45度的角度的方向。 另外，其特征在于，上述第2方向为与上述相机模块的边的方向不同的方向。 另外，其特征在于，上述第2方向为与上述相机模块的边的方向成45度的角度的方向。 另外，其特征在于，该位置检测装置包括透镜位置检测部，该透镜位置检测部根据上述第2位置传感器和上述第3位置传感器的输出来检测上述透镜的位置，将上述第I方向设为A轴，将使该A轴以光轴为中心旋转规定角度而成的轴设为X轴，将上述第2方向设为B轴，将使该B轴以光轴为中心向与该A轴旋转方向相同的方向旋转上述规定角度而成的轴设为Y轴，上述透镜位置检本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种位置检测装置，其检测透镜在与该透镜的光轴方向垂直的平面内的位置从而检测用于抖动校正的位置，检测上述透镜在上述光轴方向上的位置从而检测用于自动对焦的位置，该位置检测装置的特征在于，包括：磁体，其随着上述透镜在上述光轴方向和与上述光轴垂直的平面内方向上移动而移动；第1位置传感器，其用于自动对焦，其检测随着该磁体在上述光轴方向上的移动而变化的磁场，从而检测上述透镜在上述光轴方向上的位置；以及第2位置传感器，其用于抖动校正，其检测随着上述磁体在与上述光轴方向垂直的平面内的移动而变化的磁场，从而检测上述透镜在与上述光轴方向垂直的平面内的位置。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2012.06.07 JP 2012-130057;2012.09.11 JP 2012-199521.一种位置检测装置，其检测透镜在与该透镜的光轴方向垂直的平面内的位置从而检测用于抖动校正的位置，检测上述透镜在上述光轴方向上的位置从而检测用于自动对焦的位置，该位置检测装置的特征在于， 包括: 磁体，其随着上述透镜在上述光轴方向和与上述光轴垂直的平面内方向上移动而移 动； 第I位置传感器，其用于自动对焦，其检测随着该磁体在上述光轴方向上的移动而变化的磁场，从而检测上述透镜在上述光轴方向上的位置；以及 第2位置传感器，其用于抖动校正，其检测随着上述磁体在与上述光轴方向垂直的平面内的移动而变化的磁场，从而检测上述透镜在与上述光轴方向垂直的平面内的位置。2.根据权利要求1所述的位置检测装置，其特征在于， 该位置检测装置包括:自动对焦线圈，其设于上述磁体的附近，用于使上述透镜沿光轴方向移动；以及抖动校正用线圈，其设于上述磁体的附近，用于使上述透镜沿与光轴方向垂直的方向移动。3.根据权利要求1或2所述的位置检测装置，其特征在于， 上述第I位置传感器为第I霍尔元件，上述第2位置传感器为第2霍尔元件， 上述第I霍尔元件配置为该第I霍尔元件的感磁面的法线方向与上述光轴垂直或平行， 上述第2霍尔元件配置为该第2霍尔元件的感磁面的法线方向与上述光轴垂直或平行。4.根据权利要求1~3中任一项所述的位置检测装置，其特征在于， 该位置检测装置包括磁轭，该磁轭用于形成来自上述磁体的磁通量的磁路。5.根据权利要求1~4中任一项所述的位置检测装置，其特征在于， 该位置检测装置包括:自动对焦机构，其用于控制上述透镜在上述光轴方向上的位置；以及抖动校正机构，其用于控制上述透镜在与上述光轴方向垂直的平面内的位置， 上述自动对焦机构根据上述第I位置传感器的输出检测上述透镜在上述光轴方向上的位置，将该检测的结果反馈到控制透镜位置的透镜位置控制部，从而控制上述透镜在上述光轴方向上的位置， 上述抖动校正机构根据上述第2位置传感器的输出检测上述透镜在与上述光轴方向垂直的平面内的位置，将该检测的结果反馈到控制透镜位置的透镜位置控制部，从而控制上述透镜在与上述光轴方向垂直的平面内的位置。6.根据权利要求5所述的位置检测装置，其特征在于， 上述自动对焦机构根据用于上述抖动校正的第2位置传感器的输出来控制上述透镜的位置。7.根据权利要求5所述的位置检测装置，其特征在于， 上述抖动校正机构根据用于上述自动对焦的上述第I位置传感器的输出来控制上述透镜的位置。8.根据权利要求2所述的位置检测装置，其特征在于， 该位置检测装置包括:驱动体，其保持上述透镜；支柱，其成为用于供给电流的端子和/或输入或输出信号的端子；以及多个弹性构件，其分别连接于上述驱动体和上述端子的多个支柱， 上述多个弹性构件连接于上述第I位置传感器、上述第2位置传感器、上述自动对焦线圈以及上述抖动校正用线圈中的至少一者。9.根据权利要求8所述的位置检测装置，其特征在于， 上述弹性构件由导电性构件构成。10.根据权利要求8或9所述的位置检测装置，其特征在于， 上述弹性构件为字母S状的弹簧或环状的板簧。11.根据权利要求1~10中任一项所述的位置检测装置，其特征在于， 该位置检测装置包括相...

【专利技术属性】
技术研发人员：笠松新，
申请(专利权)人：旭化成微电子株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP