检测LED串中LED短路或LED串之间匹配性的方法和系统技术方案

技术编号:10458415 阅读:130 留言:0更新日期:2014-09-24 14:28
本发明专利技术公开了检测多个LED串的LED短路或检测多个LED串之间的匹配性的方法和系统,其中所述多个LED串的一端连接到相同的电源输出端,另一端分别连接到相应的开关。根据本发明专利技术,首先获得在电源输出端输出第一电压时,各个LED串的第一电流。然后计算各个LED串的第一电流中最小电流与其他电流的每一个之间的差异。接下来将所述差异与一个比较阈值进行比较。最后将差异大于所述比较阈值的那些其他电流相对应的LED串确定为有LED短路或与最小电流相对应的LED串不匹配。根据本发明专利技术,能降低控制芯片管脚的数目以及面积。

【技术实现步骤摘要】
检测LED串中LED短路或LED串之间匹配性的方法和系统
本专利技术的实施方式涉及LED驱动领域,具体涉及检测多个LED串的LED短路或检测多个LED串之间的匹配性的方法和系统。
技术介绍
发光二极管(LightEmittingDiode,简称为LED)被广泛采用于多种环境中,例如建筑照明、汽车头尾灯、包括个人计算机和高清电视机在内的液晶显示设备的背光以及闪光灯等。与如白炽灯和荧光灯之类的常规光源相比较,LED具有效率高、方向性良好、色彩稳定性良好、可靠性高、寿命长,体积小、以及环境安全等显著优点。一般地,将多个LED串成一个LED串,并且在很多环境中,例如在包括个人计算机和高清电视机在内的液晶显示设备的背光以及闪光灯中,并联地使用多个LED串。在LED的使用过程中,每个LED串中的相应LED可能会短路。因此,能够及时、正确、方便地检测出LED串中LED的短路,是非常渴望的。图1是根据现有技术的检测LED短路的示意图。为了简单起见,只示出了一个LED串101。在该现有技术中,直接检测作为控制LED串101的导通或关闭的开关102的MOSFET的漏极上的电压,将其与一个比较阈值相比较。如果漏极上的电压比比较阈值要高,表示LED串101中有LED短路;如果漏极上的电压比比较阈值要低,表示LED串101中没有LED短路。然而,MOSFET漏极是个高压管脚,有时候它的电压将会到达100V。因此,在控制芯片103中集成用于检测LED串中LED短路的单元,会显著扩大芯片面积。另外,由于存在多个LED串,并且需要对每个LED串进行其LED是否短路的检测,因此通过检测MOSFET漏极上的电压,来检测相应LED串中是否有LED短路,会增加控制芯片103的管脚的数目。另外,由于LED之间制造上的差异,因此对于相同的电流,LED串之间的电压降也具有相当大的差异。换句话说,对于相同的电源输出,LED串之间的电流可能具有相当大的差异。这对于LED串中是否有LED短路的检测而言,会产生错误的结果,因此最好在将LED串用于具体环境之前,对各LED串进行匹配性检测,将相互之间匹配的即相互之间电压降的差别小于一个比较阈值的LED串用于同一个具体环境。
技术实现思路
本说明书旨在提供一种检测多个LED串的LED短路或检测多个LED串之间的匹配性的方法和系统,能够解决如上所述的相关技术中存在的问题。根据本专利技术的一方面,提出了一种检测多个LED串的LED短路或检测多个LED串之间的匹配性的系统,其中所述多个LED串的一端连接到相同的电源输出端,另一端分别连接到相应的开关,所述系统包括:多个第一电流获得单元,用于获得在电源输出端输出第一电压时,各个LED串的第一电流;计算单元,用于计算各个LED串的第一电流中最小电流与其他电流的每一个之间的差异;比较单元,用于将所述差异与一个比较阈值进行比较;以及确定单元,用于将差异大于所述比较阈值的那些其他电流相对应的LED串确定为有LED短路或与最小电流相对应的LED串不匹配。根据本专利技术的又一方面,提出了一种检测多个LED串的LED短路或检测多个LED串之间的匹配性的系统,其中所述多个LED串的一端连接到相同的电源输出端,另一端分别连接到相应的开关,所述系统包括:多个第一电流获得单元,用于获得在电源输出端输出第一电压时,各个LED串的第一电流;改变单元,用于改变所述电源输出端的输出到第二电压;多个第二电流获得单元,用于获得在电源输出端输出第二电压时,各个LED串的第二电流;确定单元,用于根据获得的各个LED串的第一电流和第二电流,确定各个LED串中是否有LED短路或各个LED串是否匹配。根据本专利技术的又一个方面,提供了一种检测多个LED串的LED短路或检测多个LED串之间的匹配性的方法,其中所述多个LED串的一端连接到相同的电源输出端,另一端分别连接到相应的开关,所述方法包括:获得在电源输出端输出第一电压时,各个LED串的第一电流;计算各个LED串的第一电流中最小电流与其他电流的每一个之间的差异;将所述差异与一个比较阈值进行比较;以及将差异大于所述比较阈值的那些其他电流相对应的LED串确定为有LED短路或与最小电流相对应的LED串不匹配。根据本专利技术的另一方面,提出了一种检测多个LED串的LED短路或检测多个LED串之间的匹配性的方法,其中所述多个LED串的一端连接到相同的电源输出端,另一端分别连接到相应的开关,所述方法包括:获得在电源输出端输出第一电压时,各个LED串的第一电流;改变所述电源输出端的输出到第二电压;获得在电源输出端输出第二电压时,各个LED串的第二电流;根据获得的各个LED串的第一电流和第二电流,确定各个LED串中是否有LED短路或各个LED串是否匹配。根据本专利技术的又一方面,提出了一种检测多个LED串的LED短路或检测多个LED串之间的匹配性的系统,其中所述多个LED串的一端连接到相同的电源输出端,另一端分别连接到相应的开关,所述系统包括:多个第一电压获得单元,用于获得在各个LED串都处于相同的电流时,相应开关的控制端的第一电压;计算单元,用于计算相应开关的控制端的第一电压中最大电压与其他电压的每一个之间的差异;比较单元,用于将所述差异与一个比较阈值进行比较;以及确定单元,用于将差异大于所述比较阈值的那些其他电压相对应的LED串确定为有LED短路或与最大电压相对应的LED串不匹配。根据本专利技术的又一方面,提出了一种检测多个LED串的LED短路或检测多个LED串之间的匹配性的系统,其中所述多个LED串的一端连接到相同的电源输出端,另一端分别连接到相应的开关,所述系统包括:多个第一电压获得单元,用于获得在各个LED串都处于相同的电流,并且电源输出端输出第一电压时,相应开关的控制端的第一电压;改变单元,用于改变所述电源输出端的输出到第二电压;多个第二电压获得单元,用于获得在所述电源输出端输出第二电压时,相应开关的控制端的第二电压;以及确定单元,用于根据获得的相应开关的控制端的第一电压和第二电压,确定各个LED串中是否有LED短路或各个LED串是否匹配。根据本专利技术的又一方面,提出了一种检测多个LED串的LED短路或检测多个LED串之间的匹配性的方法,其中所述多个LED串的一端连接到相同的电源输出端,另一端分别连接到相应的开关,所述方法包括:获得在各个LED串都处于相同的电流时,相应开关的控制端的第一电压;计算相应开关的控制端的第一电压中最大电压与其他电压的每一个之间的差异;将所述差异与一个比较阈值进行比较;以及将差异大于所述比较阈值的那些其他电压相对应的LED串确定为有LED短路或与最大电压相对应的LED串不匹配。根据本专利技术的又一方面,提出了一种检测多个LED串的LED短路或检测多个LED串之间的匹配性的方法,其中所述多个LED串的一端连接到相同的电源输出端,另一端分别连接到相应的开关,所述方法包括:获得在各个LED串都处于相同的电流,并且电源输出端输出第一电压时,相应开关的控制端的第一电压;改变所述电源输出端的输出到第二电压;获得在所述电源输出端输出第二电压时,相应开关的控制端的第二电压;以及根据获得的相应开关的控制端的第一电压和第二电压,确定各个LED串中是否有LED短路或各个LED串是否匹本文档来自技高网
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检测LED串中LED短路或LED串之间匹配性的方法和系统

【技术保护点】
一种检测多个LED串的LED短路或检测多个LED串之间的匹配性的系统,其中所述多个LED串的一端连接到相同的电源输出端,另一端分别连接到相应的开关,所述系统包括:多个第一电流获得单元,用于获得在电源输出端输出第一电压时,各个LED串的第一电流;计算单元,用于计算各个LED串的第一电流中最小电流与其他电流的每一个之间的差异;比较单元,用于将所述差异与一个比较阈值进行比较;以及确定单元,用于将差异大于所述比较阈值的那些其他电流相对应的LED串确定为有LED短路或与最小电流相对应的LED串不匹配。

【技术特征摘要】
1.一种检测多个LED串的LED短路或检测多个LED串之间的匹配性的系统,其中所述多个LED串的一端连接到相同的电源输出端,每个LED串的另一端各自连接到一个相应开关,其中所述相应开关是MOSFET/双极型晶体管,并且所述多个LED串的相应另一端分别连接到相应开关的相应漏极/集电极,所述相应开关的相应源极/发射极分别连接相应电阻后接地,所述系统包括:多个第一电流获得单元,用于获得在电源输出端输出第一电压时,各个LED串的第一电流,其中每个所述第一电流获得单元基于相应开关的相应源极/发射极上的电压获得相应LED串的第一电流;计算单元,用于计算各个LED串的第一电流中最小电流与其他电流的每一个之间的差异;比较单元,用于将所述差异与一个比较阈值进行比较;以及确定单元,用于将差异大于所述比较阈值的那些其他电流相对应的LED串确定为有LED短路或与最小电流相对应的LED串不匹配。2.根据权利要求1所述的系统,其中每个所述第一电流获得单元包括:第一电流数模转换器、第一运算放大器和第二运算放大器,所述第二运算放大器的两个输入端分别连接到相应开关的源极/发射极和所述第一电流数模转换器的输出端,所述第二运算放大器的输出端连接到所述相应开关的栅极/基极,所述第一运算放大器的两个输入端分别连接到所述相应开关的栅极/基极和一个偏压阈值电压,所述第一运算放大器的输出端连接到所述第一电流数模转换器的控制端,所述第一电流获得单元通过递增所述第一电流数模转换器的输出值,在所述开关的栅极/基极电压未超过所述偏压阈值电压的情况下,将所述第一电流数模转换器的最大输出值作为相应LED串的第一电流。3.根据权利要求1所述的系统,其中每个LED串中LED的数目相同。4.根据权利要求1所述的系统,其中所述比较阈值的大小与所要检测的短路的LED的数目相对应或与不匹配标准相对应。5.一种检测多个LED串的LED短路或检测多个LED串之间的匹配性的系统,其中所述多个LED串的一端连接到相同的电源输出端,另一端分别连接到相应的开关,所述系统包括:多个第一电流获得单元,用于获得在电源输出端输出第一电压时,各个LED串的第一电流;改变单元,用于改变所述电源输出端的输出到第二电压;多个第二电流获得单元,用于获得在电源输出端输出第二电压时,各个LED串的第二电流;确定单元,用于根据获得的各个LED串的第一电流和第二电流,确定各个LED串中是否有LED短路或各个LED串是否匹配。6.根据权利要求5所述的系统,其中,相应开关是MOSFET/双极型晶体管,所述另一端分别连接到相应MOSFET的漏极/双极型晶体管的集电极。7.根据权利要求6所述的系统,其中所述多个第一电流获得单元和多个第二电流获得单元通过在相应MOSFET的栅极/双极型晶体管的基极处于一个偏压下,来获得各个LED串的第一电流和第二电流。8.根据权利要求7所述的系统,其中,在获得各个LED串的第一电流和第二电流的过程中,所述偏压保持不变,通过采样相应MOSFET的源极/双极型晶体管的发射极的电压,来获得各个LED串的第一电流和第二电流。9.根据权利要求8所述的系统,还包括:模数转换器,用于对所述采样的电压进行模数转换。10.根据权利要求7所述的系统,其中在获得各个LED串的第一电流和第二电流的过程中,所述偏压受控地变化,其中通过设置各个LED串的电流,所述偏压发生变化,其中各个LED串的第一电流和第二电流为满足所述偏压在一个偏压阈值之下或两个偏压阈值之间的设置电流中的最大电流。11.根据权利要求5所述的系统,其中,所述第二电压可以高于所述第一电压,也可以低于所述第一电压,在所述第二电压高于所述第一电压的情况下,确定单元将具有比各个LED串的第二电流中的最小电流还要大的第一电流的LED串确定为有LED短路或不匹配,在所述第二电压低于所述第一电压的情况下,确定单元将具有比各个LED串的第一电流中的最小电流还要大的第二电流的LED串确定为有LED短路或不匹配。12.根据权利要求5所述的系统,其中每个LED串中LED的数目相同。13.根据权利要求5所述的系统,其中所述多个第一电流获得单元与所述多个第二电流获得单元是相同的单元。14.一种检测多个LED串的LED短路或检测多个LED串之间的匹配性的方法,其中所述多个LED串的一端连接到相同的电源输出端,每个LED串的另一端各自连接到一个相应开关,其中所述相应开关是MOSFET/双极型晶体管,并且所述多个LED串的相应另一端分别连接到相应开关的相应漏极/集电极,所述相应开关的相应源极/发射极分别连接相应电阻后接地,所述方法包括:使用多个第一电流获得单元,获得在电源输出端输出第一电压时,各个LED串的第一电流,其中每个所述第一电流获得单元基于相应开关的相应源极/发射极上的电压获得相应LED串的第一电流;计算各个LED串的第一电流中最小电流与其他电流的每一个之间的差异;将所述差异与一个比较阈值进行比较;以及将差异大于所述比较阈值的那些其他电流相对应的LED串确定为有LED短路或与最小电流相对应的LED串不匹配。15.根据权利要求14所述的方法,其中每个所述第一电流获得单元包括:第一电流数模转换器、第一运算放大器和第二运算放大器,所述第二运算放大器的两个输入端分别连接到相应开关的源极/发射极和所述第一电流数模转换器的输出端,所述第二运算放大器的输出端连接到所述相应开关的栅极/基极,所述第一运算放大器的两个输入端分别连接到所述相应开关的栅极/基极和一个偏压阈值电压,所述第一运算放大器的输出端连接到所述第一电流数模转换器的控制端,所述第一电流获得单元通过递增所述第一电流数模转换器的输出值,在所述开关的栅极/基极电压未超过所述偏压阈值电压的情况下,将所述第一电流数模转换器的最大输出值作为相应LED串的第一电流。16.根据权利要求14所述的方法,其中每个LED串中LED的数目相同。17.根据权利要求14所述的方法,其中所述比较阈值的大小与所要检测的短路的LED的数目相对应或与不匹配标准相对应。18.一种检测多个LED串的LED短路或检测多个LED串之间的匹配性的方法,其中所述多个LED串的一端连接到相同的电源输出端,另一端分别连接到相应的开关,所述方法包括:获得在电源输出端输出第一电压时,各个LED串的第一电流;改变所述电源输出端的输出到第二电压;获得在电源输出端输出第二电压时,各个LED串的第二电流;根据获得的各个LED串的第一电流和第二电流,确定各个LED串中是否有LED短路或各个LED串是否匹配。19.根据权利要求18所述的方法,其中,相应开关是MOSFET/双极型晶体管,所述另一端分别连接到相应MOSFET的漏极/双极型晶体管的集电极。20.根据权利要求19所述的方法,其中通过在相应MOSFET的栅极/双极型晶体管的基极处于一个偏压下,来获得各个LED串的第一电流和第二电流。21.根据权利要求20所述的方法,其中,在获得各个LED串的第一电流和第二电流的过程中,所述偏压保持不变,通过采样相应MOSFET的源极/双极型晶体管的发射极的电压,来获得各个LED串的第一电流和第二电流。22.根据权利要求21所述的方法,还包括...

【专利技术属性】
技术研发人员:王乃龙阳冠欧王煜文
申请(专利权)人:艾尔瓦特集成电路科技天津有限公司
类型:发明
国别省市:天津;12

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