【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种用于通过利用光照射待测物、并且对待测物进行摄像来测量该待 测物的形状的形状测量设备。 形状测量设备
技术介绍
传统上，已知这样一种形状测量设备：该形状测量设备用于通过利用探测器扫描 工件的表面、并且获取工件各部分的位置坐标等来测量工件的表面形状。 如日本特表2009-534969所述，已知的这类形状测量设备是用于在无需使探测器 与工件表面接触的情况下来进行测量的非接触式设备。 在日本特表2009-534969所述的非接触式表面形状测量设备中，通过扫描探测器 利用线状的线激光照射工件表面、并且相对于线激光的照射方向成预定角度对该表面进行 摄像，来测量工件的表面形状。根据这类非接触式表面形状测量设备，无需担心工件表面的 损坏，而且也无需要考虑由于探测器的磨损所导致的对于测量精度的影响。 此外，在上述的形状测量设备中，需要使线激光根据工件的形状而转动。在这种情 况下，在日本特开2011-110675中，使扫描探测器整体转动，由此使线激光转动。然而，由于 使扫描探测器整体转动，因此测量速度下降。
技术实现思路
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【技术保护点】
一种形状测量设备，包括：照射部，用于利用线状的线激光来照射工件，所述照射部包括：光源，用于产生光；以及光学元件，用于使来自所述光源的光线状地散开并且生成线激光，所述光学元件被构造成能够绕线激光的光轴进行转动；以及摄像部，用于对所述工件所反射的线激光进行摄像。
【技术特征摘要】
2013.03.18 JP 2013-0545351. 一种形状测量设备，包括： 照射部，用于利用线状的线激光来照射工件，所述照射部包括： 光源，用于产生光；以及 光学元件，用于使来自所述光源的光线状地散开并且生成线激光，所述光学元件被构 造成能够绕线激光的光轴进行转动；以及 摄像部，用于对所述工件所反射的线激光进行摄像...
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