超外差与外差结合式抗光学混叠激光测距装置与方法制造方法及图纸

超外差与外差结合式抗光学混叠激光测距装置与方法属于相位激光测距技术，所述测距装置包括测尺生成单元、激光移频单元、扩束准直镜组、测量光路及电路单元；其测距方法包括步骤如下：步骤一、开启频率基准激光器、半导体激光器和稳频He-Ne激光器；步骤二、一束作为参考激光束，另一束作为测量激光；步骤三、以作为精测尺；步骤四、以作为粗测尺；步骤五、移动测量角椎棱镜至目标端，分别得到精测尺与粗测尺的相位差Φ1和Φ2，最后通过公式得到被测距离值；本发明专利技术解决了超长波长和超短波长的不能同步产生，激光测尺不可直接溯源和非线性周期误差和频率混叠的问题，具有测量效率高、精度高、稳定性和实时性强的特点。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种超外差与外差结合式抗光学混叠激光测距装置，其特征在于：所述装置由测尺生成单元（1）、激光移频单元（2）、抗混叠测量光路（3）和相位测量单元（4）组成，其中测尺生成单元（1）发出的激光输出到激光移频单元（2）的输入端，激光移频单元（2）的输出参考激光光束（25）和测量激光光束（26）输出到抗混叠测量光路（3），抗混叠测量光路（3）的输出信号I3，I4，I5，I6分别输入到相位测量单元（4）；所述测尺生成单元（1）的结构是：频率基准激光器（5）发射的激光束到达分光器（6）的输入端，分光器（6）的第一个输出端连接一号半导体激光器（7）输入端, 一号半导体激光器（7）输出端连接一号偏振片（8）的输...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：杨宏兴，谭久彬，胡鹏程，
申请(专利权)人：哈尔滨工业大学，
类型：发明
国别省市：黑龙江;23