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一种高层建筑测量控制点投射定位辅助装置及其使用方法制造方法及图纸

技术编号:10408927 阅读:449 留言:0更新日期:2014-09-10 18:10
本发明专利技术涉及一种高层建筑测量控制点投射定位辅助装置及其使用方法,由上、下盖板和激光接收靶组成,上盖板与下盖板通过连轴连接,上盖板盖于下盖板上,上盖板的上盖锁对准下底板的锁孔;下盖板内开有四个矩形洞,矩形洞的四边上设有定位调节螺杆,定位调节螺杆上设有螺栓;激光接收靶放置于下盖板与之匹配的凹槽上;下盖板的板框上设有高程点。本发明专利技术在高层建筑施工测量中,使用内控法时,当激光垂准仪进行底层控制点向上层施工层地板传递时,用于接收激光,并通过活动位于定位调节螺杆上的螺栓移动定位线,通过定位线的交点确定控制点位。该装置能够永久保存控制点位,保护投射孔,增强了施工安全性,同时该装置上设置有高程控制点,解决了施工过程中,高程控制点精度不高、控制点位不稳定问题。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术涉及,由上、下盖板和激光接收靶组成,上盖板与下盖板通过连轴连接,上盖板盖于下盖板上,上盖板的上盖锁对准下底板的锁孔;下盖板内开有四个矩形洞,矩形洞的四边上设有定位调节螺杆,定位调节螺杆上设有螺栓;激光接收靶放置于下盖板与之匹配的凹槽上;下盖板的板框上设有高程点。本专利技术在高层建筑施工测量中,使用内控法时,当激光垂准仪进行底层控制点向上层施工层地板传递时,用于接收激光,并通过活动位于定位调节螺杆上的螺栓移动定位线,通过定位线的交点确定控制点位。该装置能够永久保存控制点位,保护投射孔,增强了施工安全性,同时该装置上设置有高程控制点,解决了施工过程中,高程控制点精度不高、控制点位不稳定问题。【专利说明】
本专利技术涉及,属于建筑工程测量领域,为激光垂准仪与全站仪进行高层建筑施工测量中控制点位传递时的辅助部件。
技术介绍
高层建筑建设过程中,高程低于基坑边坡的地下层结构施工测量一般采用在基坑外部设置控制点进行直接放样,此方法称为外控法;当建筑物建设到正一层时,一般在正一层地板上设置4个高程与平面控制点,4个控制点组成高程与平面控制网,以此控制网对正一层以上建筑本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种高层建筑测量控制点投射定位辅助装置,由上盖板、下盖板和激光接收靶组成,其特征在于:上盖板包括上盖,上盖前侧设有上盖锁,另一侧设有连轴,下盖板一侧上设有连轴插孔,另一侧设有锁孔,上盖的连轴插入下盖板的连轴插孔内,当上盖板盖于下盖板上时,上盖板的上盖锁对准下底板的锁孔;下盖板内开有矩形洞,矩形洞的四个角为倒圆弧角,矩形洞的四边上设有定位调节螺杆,每一定位调节螺杆上设有第一螺栓和第二螺栓;所述激光接收靶可放置于下盖板与之匹配的凹槽上;所述下盖板的板框上设有高程点。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:邵志国韩传峰王鹏飞徐松鹤苏陈朋
申请(专利权)人:同济大学
类型:发明
国别省市:上海;31

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