【技术实现步骤摘要】
具有带负电荷抗反射层的太阳电池及其制法
本专利技术涉及光伏领域,具体地涉及一种具有带负电荷抗反射层的太阳电池及其制法。
技术介绍
太阳能由于具有取之不尽、用之不竭、无污染、使用方便等优势在各种可再生能源中占突出地位。对太阳能的利用主要以光伏发电为主,即利用太阳电池将太阳能直接转化为电能。目前,市场上销售的太阳电池大部分是以P型单晶硅或多晶硅为衬底,采用P-N结结构。由于P-N结一般通过高温磷扩散来实现,因此这种太阳电池存在以下几个缺点:1)发射区重掺杂导致禁带宽度变窄效应;2)扩散过程中在硅表面引入高浓度缺陷和复合中心,产生“死层”,引起电池光谱响应降低;3)高温过程使材料少子寿命降低。Metal-Insulator-Semiconductor/InversionLayerSolarCell,中文全称为金属-绝缘体-半导体/感应反型层太阳电池,简称为MIS/IL太阳电池,这类电池的一个显著特点是避免采用高温扩散方式形成P-N结,而是依靠覆盖在半导体表面上感应层中的固定电荷(以下简称电荷),在半导体表面感应出反型层,从而形成一个同常规太阳电池P-N结功能相同的感应结,因此与常规太阳电池相比,MIS/IL太阳电池不但没有前面所提出的缺点,而且还由于结深较浅而具有良好的短波响应,同时还具有工艺简单、成本低等优点。感应层由绝缘层和抗反射层组成,一般采用氧化硅为绝缘层,氮化硅、氧化铝为抗反射层,其中氧化硅和氮化硅带正电荷,氧化铝带负电荷,感应层的电性决定了衬底使用哪种导电类型,如果感应层显正电性,则会吸引衬底的电子在半导体表面聚集,在半导体表面感应出N型层,因此衬底 ...
【技术保护点】
一种太阳电池,其特征在于,所述太阳电池包括:N型半导体衬底;上电极,所述上电极位于所述N型半导体衬底的正表面上;感应层,所述感应层包括带固定负电荷的抗反射层,所述抗反射层包括带固定负电荷的掺杂态氮化硅层,所述抗反射层位于所述上电极中;且所述抗反射层中固定负电荷的密度为1012~1013cm‑2。
【技术特征摘要】
1.一种太阳电池,其特征在于,所述太阳电池包括:N型半导体衬底;上电极,所述上电极位于所述N型半导体衬底的正表面上;感应层,所述感应层包括带固定负电荷的抗反射层,所述抗反射层包括带固定负电荷的掺杂态氮化硅层,所述抗反射层位于所述上电极中;并且,所述感应层是指能够在半导体近表面感应出反型层的薄膜;且所述抗反射层中固定负电荷的密度为1012~1013cm-2。2.根据权利要求1所述的太阳电池,其特征在于,所述的掺杂态氮化硅层包括:作为主体成分的氮化硅和任选的掺杂元素。3.根据权利要求1所述的太阳电池,其特征在于,所述N型半导体衬底包括选自下组的N型半导体材料:单晶硅、非晶硅、多晶硅、锗、III-VI族化合物、II-VII族化合物,或其组合。4.根据权利要求1所述的太阳电池,其特征在于,所述N型半导体衬底的电阻率为0.1~10Ω·cm。5.根据权利要求1所述的太阳电池,其特征在于,所述上电极为透明电极结构或密栅结构。6.根据权利要求1所述的太阳电池,其特征在于,所述上电极包括:铝、镍、铬、金、钛、钯、银,或其组合。7.根据权利要求1所述的太阳电池,其特征在于,所述掺杂态氮化硅层中的掺杂元素包括:磷、砷、锑、氧、硫、硒、碲,或其组合。8.根据权利要求2所述的太阳电池,其特征在于,所述掺杂态氮化硅中掺杂元素的含量为0.01~35%,按所述掺杂态氮化硅层的总原子数量计。9.根据权利要求1所述的太阳电池,其特征在于,所述掺杂态氮化硅层的厚度为10~200nm。10.根据权利要求1所述的太阳电池,其特征在于,所述抗反射层还包括一复合介质膜层。11.根据权利要求1所述的太阳电池,其特征在于,所述掺杂态氮化硅层的含量为50~99.9wt%,以所述抗反射层的总重量计。12.根据权利要求1至11中任一项所述的太阳电池,其特征在于,所述感应层还包括绝缘层,所述的绝缘层位于上电极和衬底之间。13.根据权利要求12所述的太阳电池,其特征在于,所述绝缘层包括氮化硅和/或氮氧化硅。14.根据权利要求12所述的太阳电池,其特征在于,所述绝缘层的厚度为1~20nm。15.根据权利要求1所述的太阳电池,其特征在于,所述太阳电池还包括选自下组的任选一种结构:MIS/IL电池结构;MIS电池结构;MS电池结构。16.根据权利要求12所述的太阳电池,其特征在于,所述太阳电池还包括选自下组的一种或多种层:反型层,所述反型层位于所述绝缘层和衬底之间;背电极,所述背电极位于所述衬底下方。17.根据权利要求16所述的太阳电池,其特征在于,所述背电极包括选自下组的金属:铝、镍、金、钛、钯、银,或其组合。18.一种如权利要求1所述太阳电池的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:i)提供N型半导体衬底;ii)在所述N型半导体衬底的正表面上生成上电极;iii)在所述N型半导体衬底的正表面上生成感应层,所述感应层包括带固定负电荷的抗反射层,所述抗反射层包括带固定负电荷的掺杂态氮化硅层,该抗反射层位于所述上电极中,且所述抗反射层中所述固定负电荷的密度为1012~1013cm。19.根据权利要求18所述的制备方法,其特征在于,所述步骤iii包括:利用气相沉积法在所述上电极中生成抗反射层。20.根据权利要求18所述的制备方法,其特征在于,所述步骤ii)包括:通过掩膜板和光刻技术在所述N型半导体衬底的正表面上生成密栅结构的上电极。21.根据权利要求19所述的制备方法,其特征在于,...
【专利技术属性】
技术研发人员:叶继春,潘淼,高平奇,韩灿,
申请(专利权)人:中国科学院宁波材料技术与工程研究所,
类型:发明
国别省市:浙江;33
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