【技术实现步骤摘要】
一种波长片位相测量仪
本技术涉及一种位相测量仪，具体的是涉及一种波长片位相测量仪。
技术介绍
波长片(简称波片)在加工中，能够精确地控制其厚度是很重要的。波长片的厚度与波长片的位相角有关。若能时时测得该波长片的位相角也就能够实时控制该波长片的加工厚度。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种波长片位相测量仪，可在加工波长片时能够较精确地在线地控制其加工厚度，具有结构简单、操作方便等特点。为达到上述目的，本技术的技术方案是:一种波长片位相测量仪，它包括光源，在光源发射光束前进的方向上，依次置有起偏器，置放待测波长片的中心带有通光孔的第一旋转台，1/4波长片，检偏器，置放检偏器的中心带有通光孔的第二旋转台，位于第二旋转台下面的中心带有通光孔的刻度盘，位于刻度盘下面的顶面上带有通光孔的暗箱，位于暗箱内部底面上的光点屏，位于暗箱上的观察窗；所述第一旋转台上的通光孔、第二旋转台上的通光孔、刻度盘上的通光孔以及暗箱顶面上的通光孔，所有这些通光孔的中心都在同一中心线上。进一步，所述光源是激光光源。又，所述1/4波长片的晶轴与检偏器的光轴平行。如上述本技术的结构，检偏器与起偏器的偏振轴正交时，为消光位置。待测波长片置放在第一旋转台上，当旋转第一旋转台使其处于消光位置时，待测波长片的晶轴与起偏器的偏振轴平行；再将第一旋转台旋转45°角，此时离开了消光位置；旋转第二旋转台使检偏器旋转至再次消光位置。检偏器所旋转的角度从刻度盘上读出。该角度即为待测波长片的位相角。若所读出的角度 <设计角时，说明待测波长片的厚度较厚；若所读出的角度>设计角时，说明待测波长片的...
【技术保护点】
一种波长片位相测量仪，其特征在于，它包括光源，在光源发射光束前进的方向上，依次置有起偏器，置放待测波长片的中心带有通光孔的第一旋转台，1/4波长片，检偏器，置放检偏器的中心带有通光孔的第二旋转台，位于第二旋转台下面的中心带有通光孔的刻度盘，位于刻度盘下面的顶面上带有通光孔的暗箱，位于暗箱内部底面上的光点屏，位于暗箱上的观察窗；所述第一旋转台上的通光孔、第二旋转台上的通光孔、刻度盘上的通光孔以及暗箱顶面上的通光孔，所有这些通光孔的中心都在同一中心线上。
【技术特征摘要】
1.一种波长片位相测量仪，其特征在于，它包括光源，在光源发射光束前进的方向上，依次置有起偏器，置放待测波长片的中心带有通光孔的第一旋转台，1/4波长片，检偏器，置放检偏器的中心带有通光孔的第二旋转台，位于第二旋转台下面的中心带有通光孔的刻度盘，位于刻度盘下面的顶面上带有通光孔的暗箱，位于暗箱内部底面上的光点屏，位...
【专利技术属性】
技术研发人员：郑连生，
申请(专利权)人：上海联能光子技术有限公司，
类型：新型
国别省市：上海;31
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