单一波长光源测量不同波长相位延迟器件的方法及其系统技术方案

本发明专利技术公开了一种利用单一波长光源测量不同波长相位延迟器件的方法及其系统，属于光学测量技术领域。本系统激光光源经光分束器分为两束，一束依次经过起偏器、光调制器、待测相位延迟器、相位补偿器、检偏器、光探测器后由结果显示单元显示输出结果；另一束输出至激光单色仪；本发明专利技术方法为：系统搭建后首先测量一组不同波长光源各自所对应的相位补偿器平移量；然后根据所测数据建立一拟和曲线；将待测相位延迟器加入到光路后，任选一波长激光光源，调节相位补偿器，记录补偿距离ΔＬ；最后根据拟和曲线和补充距离ΔＬ计算待测相位延迟器的相位延迟量δ↓［Ｓ］。本发明专利技术可对任意中心波长的待测相位延迟器进行直接测量，而且测量精度高、操作简单，易于产品化。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测量不同波长相位延迟器件的方法及其系统，特别是涉及一种利用单 一波长光源测量不同波长相位延迟器件的方法及其系统，属于光学测量

技术介绍
相位延迟量作为相位延迟器件的重要参数，其测量准确度直接影响到应用系统的质 量，并且随着技术的发展和研究的深入，人们对波片的加工和测量精度都提出了更高的要求，例如空间太阳望远镜(SST)的偏振测量精度已经要求能够达到10—4以上。因此，提 高相位延迟量的测量准确度对于设计和研制高精度相位延迟器件及系统具有十分重要的 意义。目前有很多测量波片相位延迟量的方法，例如分束差动测量法、光谱扫描法、光强 法、调制法等。例如采用分束差动自动测量(郝殿中，宋连科，波片相位延迟的分束差动 自动测量，光电子.激光，16(5)， 2005:601-604);采用计算波片相位延迟量来进行精密测 量的技术(徐文东，李锡善，波片相位延迟量精密测量新方法，光学学报，1994， 14(10)， 1096—1101)等现有技术存在的问题和不足是1、 采用分束差动测量法时需测量出现极值点时补偿器件的转角，再转换为相关的相 位信息，测量误差大，机构复杂，仪器本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种单一波长光源测量不同波长相位延迟器件的方法，其步骤为：　１）将激光光源发出的光分为两束，一束依次经过起偏器、光调制器、相位补偿器、检偏器、光探测器后由结果显示单元显示输出结果；另一束输出至激光单色仪用于测量光源的波长λ；　２ ）调节所述相位补偿器，记录该相位补偿器对该波长λ光源相位补偿量为２π时的平移量ΔＬ↓［２π］（λ）；　３）更换步骤１）中的激光光源，重复步骤２），得到一组不同波长光源各自所对应的平移量ΔＬ↓［２π］（λ）；　４）根据测量得到的光 源波长和平移量数据，建立一光源波长和对应平移量的拟和曲线；　５）将中心波长为λ↓［０］的待测相位...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：宋菲君，张颖，
申请(专利权)人：大恒新纪元科技股份有限公司北京光电技术研究所，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]