充电构件、电子照相处理盒及电子照相设备制造技术

技术编号:10337000 阅读:127 留言:0更新日期:2014-08-20 20:01
本发明专利技术的目的是:伴随着近年来电子照相设备的高速化及电子照相设备的使用条件的苛刻化,为了维持电子照相设备的图像质量的目的,在电子照相设备的充电构件中实现高的导电性和在施加直流电压时的耐久性两者。一种充电构件,其包括导电性支承体和导电性弹性层,其中所述弹性层含有分子中具有氧化烯链的聚合物、离子导电剂和聚轮烷,和其中所述聚轮烷具有如下的结构:直链状分子贯穿具有离子性基团的环状分子的环的内部,所述直链状分子具有两个封端基团,所述封端基团位于所述直链状分子的两末端,并且所述环状分子不能从所述直链状分子脱离。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】充电构件、电子照相处理盒及电子照相设备
本专利技术涉及在电子照相设备中使用的充电构件,并涉及各自使用所述充电构件的电子照相处理盒和电子照相设备。
技术介绍
电子照相设备中要用于接触充电的充电构件一般设置有用于确保与电子照相感光构件的辊隙的导电弹性层。另外,为了使这种弹性层导电,如专利文献I中所描述,有时使用离子导电剂如季铵盐化合物。离子导电剂具有得到显示出小的电阻局部不均匀的充电构件的优势,因为离子导电剂比电子导电剂如炭黑更易于以均匀的方式分散在粘结剂树脂中。另一方面,当长期将直流电压连续施加到具有已用离子导电剂导电化的弹性层的充电构件时,由于弹性层中的离子导电剂的极化,导致弹性层的电阻可能会局部增加。当用这种充电构件对感光构件的表面充电时,在感光构件中发生充电不均匀,在某些情况下这将导致电子照相图像中浓度不均匀。因此,具有已用离子导电剂导电化的弹性层的充电构件需要具有以下特征。即使长期施加直流电压,弹性层的电阻也几乎不变。此外,近年来,对于充电构件的导电层,需要额外高的电子移动速度。这是因为与最近电子照相设备的处理速度增加相关,从充电构件向感光构件放电的周期已经开始缩短。也就是说,这是因为需要将电子在额外短的时间内供给到充电构件的表面。参考文献列表专利文献专利文献1:日本专利申请公开2001-273815
技术实现思路
专利技术要解决的问题鉴于上述情况,本专利技术旨在提供一种充电构件,其即使长期施加直流电压也几乎不显示电阻的局部变动,并且其能够充分对应处理速度的增加。本专利技术还旨在提供一种电子照相处理盒和能够稳定地形成高品质电子照相图像的电子照相设备。用于解决问题的方案根据本专利技术的一个方面,提供一种具有导电性支承体和导电性弹性层的充电构件,其中所述弹性层含有分子中具有氧化烯链的聚合物、离子导电剂和聚轮烷,所述聚轮烷具有在具有离子性基团的环状分子的开口部中以串状(skewering)包合的直链状分子,所述直链状分子具有两个封端基团,并且所述封端基团位于所述直链状分子上,以防止所述环状分子从所述直链状分子脱离。此外,根据本专利技术的另一方面,提供一种具有充电构件和电子照相感光构件的电子照相处理盒,所述盒可拆卸地安装至电子照相设备的主体。另外,根据本专利技术的又一方面,提供一种具有充电构件和配置为可通过所述充电构件充电的电子照相感光构件的电子照相设备。专利技术的效果根据本专利技术,可以得到以下充电构件。即使在长期施加直流电压之后,也抑制离子导电剂的极化,结果,几乎不发生构件的电阻的局部变动并且构件能够充分对应处理速度的增加。此外,根据本专利技术,可以得到能够稳定地形成高品质电子照相图像的电子照相处理盒和电子照相设备。【附图说明】图1A是示出本专利技术的充电辊的实例的截面的示意图。图1B是示出图1A中所示的充电辊的侧面的示意图。图2是本专利技术中要使用的聚轮烷的示意图。图3A是示出在向弹性层施加直流电压时本专利技术的弹性层的内部状态的示意图。图3B是示出当向弹性层连续施加直流电压时本专利技术的弹性层的内部状态的示意图。图4A是示出当解除向弹性层的直流电压的施加时本专利技术的弹性层的内部状态的示意图。图4B是示出当解除继续向弹性层的直流电压的施加时本专利技术的弹性层的内部状态的示意图。图5是示出本专利技术中要使用的聚轮烷的封端基团键合至粘结剂聚合物的状态的示意图。图6是示出用于测量根据本专利技术的充电构件的电阻值的测量装置的实例的示意图。图7是示出根据本专利技术的电子照相设备的实例的示意图。图8是示出根据本专利技术的处理盒的实例的示意图。【具体实施方式】〈充电构件〉本专利技术的充电构件可以采用各种形状,如辊形状、平板形状和带形状。以下,通过采用图1A和图1B中所示的充电辊作为实例来描述本专利技术的充电构件的构成。充电辊具有导电性支承体I和形成在该导电性支承体上的弹性层2。弹性层2含有分子中具有氧化烯链的聚合物、离子导电剂和聚轮烷。如图2中所示,聚轮烷由环状分子4、直链状分子5和两个封端基团6形成。直链状分子5贯穿环状分子4的环的内部,并且封端基团6存在于直链状分子5的两末端。环状分子4具有离子性基团7。此外,建立如下的结构:由于封端基团6存在于直链状分子5的两末端,使得环状分子4不能脱离直链状分子5。采用该构成抑制由于施加直流电压导致的充电构件的电阻增加。结果,充电构件和感光构件之间的放电状态的经时稳定性得到改善,并因此可以稳定地形成高品质电子照相图像。应注意,本专利技术的专利技术人推定,根据本专利技术的充电构件对由于施加直流电压而导致电阻增加的抑制效果的表现与在向充电构件施加直流电压时和在解除直流电压的施加时尚子导电剂的移动和扩散相关。当将直流电流施加到具有已用离子导电剂导电化的弹性层的常规充电构件时,电流借助于离子导电剂的离子的移动而流动。此外,当长期施加直流电压时,由于离子导电剂的极化,电流逐渐变得难以流动。另一方面,如图3A所示,根据本专利技术的聚轮烷具有如下的结构:其中直链状分子5贯穿具有离子性基团7的环状分子4的环的内部并且环状分子4不能脱离直链状分子5。因此,离子导电剂8在处于被离子性基团7捕获的状态下沿电流的方向移动。然而,离子导电剂8的移动范围被限制为由直链状分子5的长度规定的环状分子4的移动范围。因此,即使在长期施加直流电压之后,离子导电剂8的极化也被抑制。此外,当继续施加直流电压时,环状分子4移动并且最终如图3B中所示在直链状分子5的弯曲部或封端基团6处聚集,由此建立聚轮烷中的环状分子4紧密堆积的状态。即,发生环状分子的不均匀状态。接着,当在如图3B所示的状态下解除直流电流的施加时,如图4A中所示,环状分子4沿使得环状分子的不均匀状态被解除的方向移动。当该状态继续时,如图4B所示,环状分子4进一步扩散,并且伴随扩散,被捕获的离子导电剂8也移动并在弹性层中扩散。如上所述,在施加直流电流的状态下,离子导电剂8的极化被抑制。另一方面,在解除直流电流的施加的状态下,聚集的环状分子在具有高扩散性的离子导电剂8的影响下扩散。推测前述抑制充电构件的电阻由于长期施加直流电流而随时间的增加。离子导电剂8不均匀地分布在离子性基团7的周围。离子性基团7可以分为键合到环状分子4的离子和以非键合状态存在的抗衡离子。例如,当离子性基团是-COOH基时,该基团极化为-C00_离子和H+离子。这里,-C00-离子是固定到环状分子4的离子而抗衡离子是H+离子。此外,当离子导电剂8是LiClO4时,Li+离子存在于固定在环状分子4的-C00-离子周围的概率增加。当离子性基团7的离子性强时,离子导电剂8似乎进行离子交换以处于键合到环状分子4的状态。然而,即使离子导电剂8键合到环状分子4,也没有抑制导电性,因为环状分子4可以沿着直链状分子5移动。因此,电子移动速度可以几乎不降低。<聚轮烷>本文所用的术语“聚轮烷”是指下列分子。直链状分子贯穿环状分子的环的内部,并且封端基团位于通过由环状分子包合直链状分子得到的准聚轮烷的两末端(直链状分子的两末端),以防止环状分子游离。在本文中采用的术语“包合”是指直链状分子贯穿环状分子的环的内部的状态。环状分子具有离子性基团。离子性基团的种类没有特别限制,只要该离子性基团具有离子性即可。作为离子性基团的例子,可以给出-OH基、-COOM1基、-SO3M2基本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种充电构件,其包括:导电性支承体;和导电性弹性层,其中:所述弹性层包括分子中具有氧化烯链的聚合物、离子导电剂和聚轮烷;并且所述聚轮烷具有如下的结构:直链状分子贯穿具有离子性基团的环状分子的环的内部,所述直链状分子具有两个封端基团,并且所述封端基团位于所述直链状分子的两末端,以防止所述环状分子从所述直链状分子脱离。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2011.12.19 JP 2011-2776181.一种充电构件,其包括:导电性支承体;和导电性弹性层, 其中: 所述弹性层包括分子中具有氧化烯链的聚合物、离子导电剂和聚轮烷;并且 所述聚轮烷具有如下的结构:直链状分子贯穿具有离子性基团的环状分子的环的内部,所述直链状分子具有两个封端基团,并且所述封端基团位于所述直链状分子的两末端,以防止所述环状分子从所述直链状分子脱离。2.根据权利要求1所述的充电构件,其中所述离子性基团包括选自由-OH基、-COOM1基和-SO3M2基组成的组的至少一种,其中M1和M2各自独立地表示氢、锂...

【专利技术属性】
技术研发人员:宫川昇松田秀和小出聪
申请(专利权)人:佳能株式会社
类型:发明
国别省市:日本;JP

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1