一种用于X荧光光谱仪测试样品的防护装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种用于X荧光光谱仪测试样品的防护装置，包括一半封闭式真空腔，所述半封闭式真空腔上方设置有一样品室盖板，所述样品室盖板上设置有一样品测试保护杯，所述样品测试保护杯包括内层杯体与外层杯体，所述外层杯体与内层杯体在底部连接为一体，四周为中空结构，所述样品测试保护杯还包括上卡环与下卡环，所述下卡环与所述内层杯体之间卡设有一下测试膜，所述上卡环与所述外层杯体之间卡设有一上测试膜。本实用新型专利技术结构简单，可以在不用充氦气的情况下，安全、方便、快捷地实现对液体和粉末类样品在真空环境下的测试，样品不会溢出或飞溅，不会对样品室和探测器等部件造成损坏和污染。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
一种用于X荧光光谱仪测试样品的防护装置
本技术涉及一种用于X荧光光谱仪测试样品的防护装置，尤其涉及一种用于下照式X荧光光谱仪在真空环境下测试粉末及液体类样品的安全防护装置。
技术介绍
X荧光光谱仪是一种依靠X射线照射样品从而激发出样品中所含元素的特征如X射线的强度或波长，来分析样品的成分的技术的设备。因其分析快速和无损这两个特点，在材料成分分析领域得到广泛的应用，诸如目前在欧盟RoHS指令和无卤指令等限制物质的测试和控制、合金材料分析、贵金属纯度分析等用途，其应用领域主要在电子电器、金属合金、珠宝首饰、石油、建材、地矿等行业。由于X荧光光谱仪是全谱测试，如要精确分析材料中的轻元素含量，大多需将样品置于真空环境下测试，即将样品置于一个密封的样品室内，然后将样品室内的空气抽出。对于固态样品而言，这很容易实现，但对于粉末和液体类样品来说，目前大多采用充氦气的方法测量，既将氦气充满到样品室内，但此种方法有以下缺点:1.使用成本高:以目前各厂家设计的较小的样品室体积为3L计算，每测试I个样品所需氦气的成本为:10元，如测试100个样品，则需要花费1000元，这种成本对于企业来说无疑是着本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于X荧光光谱仪测试样品的防护装置，其特征在于，所述用于X荧光光谱仪测试样品的防护装置包括一半封闭式真空腔，所述半封闭式真空腔上方设置有一样品室盖板，所述样品室盖板上设置有一样品测试保护杯，所述样品测试保护杯包括内层杯体与外层杯体，所述外层杯体与内层杯体在底部连接为一体，四周为中空结构。

【技术特征摘要】
1.一种用于X荧光光谱仪测试样品的防护装置，其特征在于，所述用于X荧光光谱仪测试样品的防护装置包括一半封闭式真空腔，所述半封闭式真空腔上方设置有一样品室盖板，所述样品室盖板上设置有一样品测试保护杯，所述样品测试保护杯包括内层杯体与外层杯体，所述外层杯体与内层杯体在底部连接为一体，四周为中空结构。2.根据权利要求1所述的一种用于X荧光光谱仪测试样品的防护装置，其特征在于，所述内层杯体上下开口的宽度大于杯体中间开口的宽度。3.根据权利要求1所述的一种用于X荧光光谱仪测试样品的防护装置，其特征在于，所述样品测试保护杯还包括上卡环与下卡...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨振，杨剑，
申请(专利权)人：苏州三值精密仪器有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32