磁力量测方法技术

本发明专利技术是有关于一种磁力量测方法，特别是有关一种可以克服磁场分布不均问题的磁力量测方法。此磁力量测方法可以克服测试磁场分布不均所导致的测试误差与测试失败等问题，而同时对多个待测元件(或磁力感应器)进行磁力测试，进而增加测试的产能与可靠性，并缩短测试时间与成本。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术是有关于一种，特别是有关一种可以克服磁场分布不均问题的。此可以克服测试磁场分布不均所导致的测试误差与测试失败等问题，而同时对多个待测元件(或磁力感应器)进行磁力测试，进而增加测试的产能与可靠性，并缩短测试时间与成本。【专利说明】
本专利技术涉及一种，特别是有关一种可以克服磁场分布不均的。
技术介绍
近年来，随着微机电元件系统的发展，各种具有不同功能的小型且高性能的感应器被研发出来，例如加速度感应器、压力感应器(或压力计)、磁力感应器(或磁力计)等。一般目前磁力测试方式为了保持测试磁场的均匀分布，往往仅提供一小范围的均匀测试磁场，所以每次仅能对一个磁力感应器进行测试，导致测试的产能无法提升以及测试的时间无法缩短。若要一次对多个磁力感应器进行磁力测试，则必须提供一较大的磁场进行测试，但是一般所提供的磁场并无法达到测试磁场中的每一个位置的磁场都一致的程度，亦即测试磁场并无法均匀分布，导致各个位置上的磁力感应器量测出来的磁场值与实际的磁场值之间有误差，而无法体现磁力感应器真正的质量与工作效能，因此，此一误差将会导致无法正确地判断所测试磁力感应器是否符合规格以及是否为异常品，所以不但无法提升测试的产能，更会影响测试的可靠性。因此，亟需要一种，可以克服磁场分布不均的问题而同时对多个磁力感应器进行磁力测试。
技术实现思路
本专利技术的目的在于，提供一种，可以克服测试磁场分布不均所导致的测试误差与测试失败等问题，而同时对多个待测元件(或磁力感应器)进行磁力测试，进而增加测试的产能与可靠性，并缩短测试时间与成本。本专利技术的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本专利技术提出的，其包含:(I)提供磁力量测系统，其中，该磁力量测系统具有测试板，该测试板的中间位置设置有标准件测试点，而在该测试板的其他位置设置有多个待测元件测试点；(2)借由标准件进行校验流程，而获得磁力量测系统中测试磁场的磁场特性曲线以及该测试磁场于该测试板上的磁场分布；(3)根据所获得的该测试磁场的磁场特性曲线以及该测试磁场于该测试板上的磁场分布，对每一个该待测元件测试点进行补偿；(4)测试各个待测元件测试点上的待测元件的磁场值；以及(5)确认各个待测元件测试点上的待测元件的磁场值是否符合规格。本专利技术的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。前述的，其中该磁力量测系统包含:该测试板，其中，该标准件测试点设置有标准件测试座，用以容置该标准件，每一个该待测元件测试点设置有对应的待测元件测试座，用以容置该待测元件；单轴磁力线圈，用以在该磁力量测系统中提供测试磁场进行磁力量测；以及承载机构，用以承载该测试板在该磁力量测系统中进行磁力量测、控制该测试板进行不同轴向的转动以测试该测试板上的待测元件进行不同轴向的磁力量测、以及控制该测试板在磁力量测进行运动。前述的，其中该单轴磁力线圈还包含设置于该磁力量测系统上部的上部线圈，以及设置于该磁力量测系统下部的下部线圈。前述的，其中该校验流程包含:使用标准仪器校验该标准件，以确定该标准件符合标准规格；提供电流给该磁力量测系统以产生测试磁场；以该标准件依序量测该标准测试点与各个该待测元件测试点的磁场值，以获得该测试磁场的磁场特性曲线以及该测试磁场于该测试板上的磁场分布；以及将所获得该测试磁场的磁场特性曲线以及该测试磁场于该测试板上的磁场分布记录或储存，以供待测元件进行磁力测试时使用。前述的，其中该提供电流给该磁力量测系统以产生测试磁场步骤，是提供不同的电流给该磁力量测系统以产生不同的测试磁场。前述的,其中该以该标准件依序量测该标准测试点与各个该待测元件测试点的磁场值步骤，是在不同的测试磁场中，以该标准件依序量测该标准测试点与各个该待测元件测试点的磁场值，而获得各个该测试磁场的磁场特性曲线以及其于该测试板上的磁场分布。前述的，其还包含确认磁场值步骤于步骤(4)之前实施，借由放置于标准件测试点上的该标准件量测该磁力量测系统所提供的测试磁场是否符合预定的磁场值。前述的，其中当确认该磁力量测系统所提供的测试磁场符合预定的磁场值，则进行步骤(4)。前述的，其中当确认该磁力量测系统所提供的测试磁场不符合预定的磁场值，则会对标准件进行自我检测步骤，以确定该标准件是否符合标准规格或是否有异常。前述的，其中当确定该标准件符合标准规格或是没有异常，则依据该标准件所量测的磁场值调整供给该磁力量测系统的电流，而调整该磁力量测系统的测试磁场的磁场值。前述的，其中步骤(3)是根据步骤(2)所获得的该测试磁场的磁场特性曲线以及该测试磁场于该测试板上的磁场分布，调整供给该磁力量测系统的电流，而将待测元件测试点的磁场值调整到预定磁场值。前述的，其中在该步骤(2)中，经由以该标准件在标准件量测点测得的磁场值与以该标准件在各个待测元件量测点测得的磁场值相比较，可以获得每一个待测元件量测点的补偿值(offset)。前述的，其中每一个待测元件量测点的补偿值(offset)是以该标准件在该待测元件量测点测得的磁场值减去以该标准件在标准件量测点测得的磁场值所得的差值。前述的，其中该步骤(3)预先在该磁力量测系统中设定每一个待测元件量测点量测出来得磁场值要加上该待测元件量测点量测对应的补偿值为量测的磁场值。前述的，其中该步骤(3)预先在该磁力量测系统中设定每一个待测元件量测点量测出来得磁场值的规格，需减去该待测元件量测点量测对应的补偿值为该待测元件量测点量测而得磁场值的规格。借由上述技术方案，本专利技术至少具有下列优点及有益效果:提供一种可以克服测试磁场分布不均的问题的，而同时对多个待测元件进行磁力测试，可以有效地增加测试的产能与可靠性，并缩短测试时间与成本。上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本专利技术的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。【专利附图】【附图说明】图1A、图1B、以及图1C分别为本专利技术的所使用的磁力量测系统的不同轴向转动前后的立体示意图。图2为图1A-图1C所示的磁力量测系统的测试板的平面图。图3为本专利技术的一实施例的的流程图。图4为本专利技术的一实施例的中的测试板上各个待测元件量测点所量测到的磁场值与所获得的补偿值。图5为本专利技术的一实施例的中校验流程的流程图。图6为本专利技术的另一实施例的中的流程图。图7为本专利技术的又一实施例的中的流程图。【主要元件符号说明】10:磁力量测系统12:测试板14:单轴磁力线圈14a:上部线圈14b:下部线圈16:承载机构17:标准件18:标准件测试点19:标准件测试座20a-20p:待测元件测试点21a_21p:待测元件测试座22a-22p:待测元件100-500:的各个步骤202-208:校验流程的各个步骤600-618:的各个步骤700-720:的各个步骤【具体实施方式】为更进一步阐述本专利技术为达成预定专利技术目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本专利技术提出的其【具体实施方式】、方法、步骤、特征及其功效，详细说明如后。图1A、图1B、以及图1C分别为本专利技术的所使用的磁力量测系统10的原始状态以及不同轴向转动后的立体示意图。首先，请参阅图1A，磁力量测本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种磁力量测方法，其特征在于其包含:(1)提供磁力量测系统，其中，该磁力量测系统具有测试板，该测试板的中间位置设置有标准件测试点，而在该测试板的其他位置设置有多个待测元件测试点;(2)借由标准件进行校验流程，而获得磁力量测系统中测试磁场的磁场特性曲线以及该测试磁场于该测试板上的磁场分布;(3)根据所获得的该测试磁场的磁场特性曲线以及该测试磁场于该测试板上的磁场分布，对每一个该待测元件测试点进行补偿;(4)测试各个待测元件测试点上的待测元件的磁场值;以及(5)确认各个待测元件测试点上的待测元件的磁场值是否符合规格。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：林威成，许廷宇，
申请(专利权)人：京元电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71