【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种反射率测量装置，其特征在于：包括入射光路、出射光路以及光学探头，所述入射光路包括依次连接的电源、光源、第一耦合器以及第一传导光纤，所述出射光路包括依次连接的第二传导光纤、第二耦合器、探测器以及信号处理电路，所述光学探头的一端与待测的汽液两相流接触，所述第一传导光纤的输出端以及第二传导光纤的输入端均与光学探头的另一端连接，所述光学探头为光学反射率探头。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：赵卫，张文松，朱香平，代丽辉，
申请(专利权)人：中国科学院西安光学精密机械研究所，
类型：实用新型
国别省市：
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