基于声光调制的光学器件透反射率的测量系统技术方案

本发明专利技术公开了可以实现基于声光调制的光学器件透反射率的测量系统，主要解决现有系统测量精度不够高的问题。整个系统包括连续激光器、光路控制室、光电放大模块、反馈控制模块、测量转台和参数测量模块；激光器输出功率待稳定的激光，通过光路控制室后垂直照射到探测器上产生电流信号，光电放大模块将此电流信号放大为电压信号，反馈控制模块处理该电压信号得到反馈信号，以控制声光调制驱动器调节声光调制器以稳定激光的功率，高稳定度的激光入射到待测光学器件上，通过测量待测光学器件透过或反射得到的激光功率，来计算待测光学器件的透反射率。本发明专利技术具有测量精度高和操作简单等优点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于激光测量
涉及一种通过声光调制激光光源的功率，从而使输出的激光功率稳定度高的系统，用于对光学器件的透反射率进行精准测量。
技术介绍
光学器件的透反射率是评价光学器件的一个重要参数。通常用透过光学器件后的光通量与入射光通量之比来表征物体的透过率；用物体表面所能反射的光量和它所接受的光量之比来表征物体的反射率。在实际应用的各类光学系统设计过程中，由于系统对于光学器件的透反射率要求不同，需要确定光学器件的透反射率，因此非常有必要对光学器件的透反射率进行精准的测量。通常测量光学器件透反射率的方法可分为光强测量法和双光束差动法两大类。光强测量法是通过光电探测器直接测量光源射出的光功率，再测量经过待测光学器件反射或透射后的光功率，后者与前者之比即为透射率/反射率；这种方法要求光源的光功率在两次测量时保持不变，但实际光源只能在短时间内保持稳定，因此该方法测得的透反射率波动较大。双光束差动法采用激光器提供系统测量光源，激光器输出的光束被分束镜分束为反射光和透射光，其中反射光作为参考光源，直接被参考光电探测器接收，透射光作为测量光源；测量反射率时，测量光源经待测光学器件本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于声光调制的光学器件透反射率的测量系统，其特征在于：包括连续激光器、光路控制室、测量转台、测量模块、光电放大模块和反馈控制模块，其中：连续激光器，用于输出连续的激光信号；光路控制室，用于将接收到的连续激光信号分为反射激光信号和透射激光信号，同时接收反馈控制模块输出的超声波信号，实现对连续激光信号的功率实时调节；测量转台，用于固定待测光学器件；测量模块，用于将接收到的透射激光信号，进行光电转换为测量电压信号；光电放大模块，用于将接收到的反射激光信号，进行光电转换为反馈电压信号；反馈控制模块，与光电放大模块和光路控制室相连接，将接收到的反馈电压信号进行运算处理，得到超声波信号并输出到光路控制...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：邵晓鹏，高苗，李晨旭，闫庭辉，赵大虎，温少华，
申请(专利权)人：西安电子科技大学，
类型：发明
国别省市：陕西;61