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本发明公开了可以实现基于声光调制的光学器件透反射率的测量系统，主要解决现有系统测量精度不够高的问题。整个系统包括连续激光器、光路控制室、光电放大模块、反馈控制模块、测量转台和参数测量模块；激光器输出功率待稳定的激光，通过光路控制室后垂直照射...
该专利属于西安电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安电子科技大学授权不得商用。

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