本发明涉及基于光传感器的盲文计算机点字输入系统和方法。该方法包括：步骤９１，使用者将点字笔插入当前盲符点位对应的点字孔并遮挡住Ｘ轴方向和Ｙ轴方向的光线；步骤９２，依据Ｘ轴方向的光接收器和Ｙ轴方向的光接收器接收的光线获取当前盲符点的坐标并...

本发明提供一种实现网络查询缓存的系统，包括：查询绑定器，用于绑定与查询请求实例相关的虚拟视图元信息到系统内存中，并从下层至上层依次设置虚拟视图的写操作时间标志；查询解析器，用于根据查询请求实例的有效性将虚拟视图解析成查询树；查询描述符管...

本发明提出一种满足ｓｙｓｔｅｍＣ语法的先进先出队列组，包括多个先进先出队列单元，所述先进先出队列单元向对应的事件处理单元组输出数据写入事件信号和数据读出事件信号，并且包括按照ＳｙｓｔｅｍＣ语法的ｓｃ＿ｆｉｆｏ（ｎａｍｅ，ｓｉｚｅ）、ｓｃ...

本发明公开了一种业务级服务信息管理方法和装置及系统。该方法包括：建立领域语义规范；基于领域语义规范构建业务级服务模型；按照业务级服务模型，构建业务级服务。该业务级服务信息管理装置，包括：业务规范管理模块，用于导入和管理领域语义规范；业务...

本发明公开了一种个性化服务推荐系统和方法。该方法包括：用户信息收集器监控在终端上进行的各种操作信息，并进行预处理后，存入用户信息数据库，若用户信息数据库发生更新，则启动用户行为分析器进行分析；用户行为分析器扫描用户信息数据库，提取新的用...

本发明涉及一种盲文计算机点字输入系统及方法。该方法包括：使用者利用点字笔和盲文点字输入导板在盲文点字输入主板上点字，点字笔中的微型按钮开关闭合，形成一个盲符点上的开关回路，以便盲文点字输入主板得到该盲符点的盲点符位置信息；盲文点字输入主...

本发明提供一种多处理器系统，用于解决多处理器中存在的目录访问冲突，包括：至少两个包含有一级缓存的处理器核，与所述处理器核连接的访存失效队列，至少两个二级缓存，与所述二级缓存连接的目录访问管理队列，所述的访存失效队列与所述的目录访问管理队...

本发明公开一种机群文件系统的元数据的管理方法，其中，所述文件系统划分为多个元数据分区，每个所述元数据分区划分为多个维护元数据单元信息的元数据块，所述方法包括：客户端解析所产生的元数据请求，获取所述元数据所属的元数据分区，向所述元数据分区...

本发明提供一种分类目录自动构建方法，包括：从现有数据中查找与用户提交的查询词有关的概念术语，得到与所述查询词相关的概念术语集合；计算所述概念术语集合中各个概念术语间的相关度；根据所述概念术语间的相关度，对所述概念术语集合中的概念术语做分...

本发明公开了一种机群容错系统、装置及方法。该系统包括远程检查点服务器，用于响应来自故障结点的远程检查点请求，执行检查点操作；结点故障检测模块，用于监测本地结点的操作系统和指定进程的运行状态，触发远程检查点；通信系统检查点模块，用于实现通...

一种被跟踪物体的运动部分之间相对位置获取的方法，发射器发射信号，接收器接收该信号并生成位置数据和方向数据，然后将该位置数据和方向数据传送出去，数据处理系统获取该接收器位置信息并进一步处理该数据，获取接收器之间的、与发射器位置无关的位置数...

本发明公开了一种变换线性调频尺度成像算法因子的可复用计算装置，包括：输入接口模块１、预计算模块２、线相关量计算模块３、点相关量计算模块４、输出接口模块５和控制模块６。本发明还公开了一种应用于变换线性调频尺度成像算法因子的可复用计算装置的...

本发明公开了一种无线传感器网络的节点定位方法，包括下列步骤：步骤Ａ，为无线传感器网络各局部构建局部相对坐标系；步骤Ｂ，将各个局部相对坐标进行融合，得到所有节点的全局相对坐标，并使用位置信息已知的信标节点，把全局相对坐标转换成全局绝对坐标...

本发明公开了一种无线传感器网络的目标跟踪方法，包括下列步骤：步骤Ａ，利用历史目标状态信息和当前时刻观测数据，进行重要性采样，获得粒子状态估计信息，计算得到轨迹存活指数和剩余测量值；步骤Ｂ，根据轨迹存活指数决定是否终止该轨迹，并更新轨迹集...

一种新的可变双观测点的时延测试方法，建立了可变双观测点的时延测试模型。被测电路的完全时延测试集是由通路集的一个最大线性无关组中每条通路的波形敏化测试图形构成的。对每一个测试，按照可变双观测点的时延测试模型工作的测试仪需要在电路的原始输出...

一种快速的集成电路测试流程优化方法，通过对测试项目重排序，减少了失效芯片的测试时间。包括步骤：Ｓ１０：确定验证分析阶段测试向量和测试流程；Ｓ２０：确定的测试向量和测试流程对芯片进行验证分析并得到原始的通过／失效测试信息表；Ｓ３０：调用转...

本发明涉及大规模集成电路测试技术领域的一种应用于系统级芯片测试中的芯核并行包装电路和方法。芯核并行包装电路由三个部分组成：外部扫描链、多输入特征移位寄存器、控制电路。并行包装电路利用测试向量中不确定位比较多特点，通过测试向量切片重叠来减...

本发明提供一种片上多核处理器的测试电路及其可测试性设计方法，其中测试电路包括：测试外壳寄存器链、待测芯核连接电路、片上数据通路连接电路以及控制逻辑电路；所述待测芯核连接电路是连接在所述测试外壳寄存器链与待测芯核之间的互连电路，所述片上数...

本发明公开了一种可诊断扫描链故障的电路装置及其诊断方法，该电路装置由多个诊断扫描单元组成，每个诊断扫描单元包括扫描触发器，可测试性多路选择器和锁存控制器；锁存控制器的数据输入端直接与扫描触发器的ＳＩ输入端相连，锁存控制器锁存ＳＩ信号值或...

本发明提供一种扫描链诊断向量生成方法和装置及扫描链诊断方法。所述诊断向量生成方法，包括如下步骤：确定扫描链的故障类型；根据扫描链的故障类型设定约束条件；在约束条件下，使扫描单元的逻辑状态通过组合逻辑形成的路径传播到的输出或伪输出数目最大...