本实用新型涉及芯片制造用测试设备技术领域，具体涉及一种基于ATE系统的通用MCU测试板卡，其包括主控器、PMU测量单元、数字通道和DPS供电模块；所述PMU测量单元和所述数字通道通过模拟开关切换接入待测IC的GPIO；所述DPS供电模块...

本实用新型涉及芯片制造用测试设备技术领域，具体涉及一种MCU待机功耗测试装置，包括MCU和电源组合电路、外围电路、跳线、PCB板和外壳，每个所述外围电路均通过一组跳线连接至所述MCU和电源组合电路；所述电源组合电路包括连接在一起的MCU...

本实用新型涉及芯片制造用测试设备技术领域，具体涉及一种基于开尔文连接的PMU测量单元，V_DAC的负极接地、正极连接至运算放大器的同向输入引脚，运算放大器的输出引脚与功率放大器的输信号输入端连接，功率放大器的

本实用新型涉及芯片制造用测试设备技术领域，具体涉及一种条件可变的MCU功耗测试系统，其包括上位机、主控MCU、DPS模块和温控箱，所述上位机通过USART与所述主控MCU连接；所述主控MCU自带的DAC输出给所述DPS模块设置输出电压V...

本发明涉及鱼塘增氧技术领域，尤其涉及鱼塘增氧机远程控制方法，解决了现有技术中人工手动控制鱼塘增氧机作业，不及时不准确，影响鱼塘管理的问题。鱼塘增氧机远程控制方法，包括：水体含氧量传感器，所述水体含氧量传感器设置在鱼塘水体内；增氧机，所述...

本实用新型提供了一种微控制器FSMC复用功能的验证电路，包括CPU、外部锁存器芯片及FSMC存储器相接构成，所述CPU与所述外部锁存器芯片之间的NADV端口通过由N

本发明揭示了一种基于ATE校准MCU内部时钟源的方法，待测的MCU连接载入ATE，包括步骤：S1、由ATE生成、输出激励信号pattern01，并通过SWD协议写入MCU的内部时钟源中；S2、启动MCU运行，通过ATE的频率测量单元检测...

本发明揭示了一种小封装芯片的ADC数据采集模块和方法，包括与模拟输入端相连的采样单元和经过数字化转换输出的数据存储单元，待采集芯片的MCU的ADC通道与外部芯片模组相连，通过所述外部芯片模组采集数据并经过计算获得目标电压。本发明的技术方...

本实用新型揭示了一种芯片不良检测定位设备，与微控制单元芯片相适配、用于实现微控制单元芯片的全脚位检测，设备由相匹配的夹具板及检测板构成；夹具板与微控制单元芯片相对应，夹具板上设置有脚位连接端口以及与脚位连接端口逐一匹配对应的排针；检测板...

本实用新型揭示了一种实时时钟的中断测试电路，通过处理器连接实时时钟芯片控制启闭中断信号，并由处理器通过GPIO输出中断脉冲，其特征在于：该GPIO的输出端与输入电压VDD之间接设有LED与电阻R1串联的支路；且在所述处理器与输入电压VD...

本实用新型揭示了一种基于同颗芯片的ADC测试电路，其特征在于：基于芯片内ADC模块、DAC模块及模块间的逻辑操控回路相接构成，其中逻辑操控回路为包含电阻R1~电阻Rn的串联电路，其中n的取值对应大于ADC模块的通道数量，DAC模块的两条...

本实用新型揭示了一种规模化芯片自动测试装置，具有营造芯片运行环境的控温箱及穿接于控温箱内外、连接电源与测试板的供电线路，其特征在于：该装置设有在控温箱内与所有待测芯片相连的总线，且总线通过线缆连至控温箱外的上位机，形成上位机与各待测芯片...