本发明涉及芯片测试技术领域，具体提供一种预防探针卡烧针的测试方法及测试装置，旨在解决测试过程中探针局部电流过大的问题。为此目的，本发明的测试方法包括，读取预设的电源电流M值，在读取到M值时将其写入测试项中电源设置的钳位值，进行信号管脚开...

本实用新型涉及半导体技术领域，具体提供一种探针卡及半导体测试装置，旨在解决现有探针卡的布线转接板存在电压损耗，导致测试准确度降低的问题。为此目的，本实用新型的探针卡包括：布线转接板；第一探头，所述第一探头设置在所述布线转接板上，所述第一...

本实用新型涉及半导体技术领域，具体提供一种半导体测试装置，旨在解决现有多site同测方案中测试板受到的压力过大，导致测试区域出现凹陷、平整度变差的问题。为此目的，本实用新型的半导体测试装置包括：安装结构；测试板，测试板设置在安装结构上，...