本发明涉及芯片检测技术领域，更具体的公开了一种芯片三温自动分选测试系统，包括定位框架，所述定位框架的顶部固定连接有三温测试柜体，所述定位框架的一侧固定连接有放置箱，所述放置箱的正面固定连接有操作面板，所述放置箱正面的顶部安装有显示器，所...

本发明涉及一种芯片自动测试分选系统，属于集成电路测试技术领域。该芯片自动测试分选系统包括自动进料模块、自动出料模块、高低温箱、测试臂模块和测试系统；自动进料模块和自动出料模块分别设置于高低温箱的两侧，测试系统设置于高低温箱的下方，测试臂...