本发明公开了一种电子材料与器件散粒噪声测试方法，解决现有散粒噪声测试方法准确性及可靠性差的问题。整个测试系统包括：低温装置、放大系统和数据采集与处理系统。其测试过程为：测试系统背景噪声Ｓ↓［ｃ］和被测样品电导Ｇ，确定被测样品的最小电流Ｉ...

本实用新型涉及一种线性比相仪。该比相仪的特点是采用了数字式双谐波混频器的方案。整个电路包括两输入通道，一公共振荡器，分频器、两谐波混频器和线性鉴相器。测量精度高，线性度好，且鉴相精度不受输入频率信号频率标称值高低的影响。是一种用于相位变...

本实用新型涉及一种数字逻辑状态测试和分析的仪器。该仪器采用两种终端接口，可分别与示波器或微机相连单独工作，也可同时与示波器连接一同工作；仪器内部设置有光标产生电路，可对示波器采集的数据波形产生一个垂直的光标线，该光标线的位置和数据均通过...

本发明涉及一种高精度测频方法及设备。该方法采用以相位检测为基础的多周期同步测量，其主门信号几乎严格等于被测信号和标频信号的多倍周期值，测量精度仅相关于相位检测线路的检测精度，而与两比对信号的频率值高低无关。因此较普通的多周期同步测量方法...

本发明属电子技术领域，特别是涉及半导体光敏管的动态伏安特性、光电特性的测试方法。本发明利用发光二极管产生线性扫描光强度与均匀递增阶梯光强，通过解决光功率信号的动态扫描控制及定标技术，从而实现半导体光敏管动态特性的快速、直观的定量测试，可...

本发明涉及一种工字形铁氧体废品的剔除方法。该方法采用由两端极不对称的工字形铁氧体磁芯作测量磁芯、线圈和骨架组成的测量装置。利用测量磁芯和被测磁芯间的电磁感应，改变电感线圈的Ｑ值或ΔＱ值，间接测量被测磁芯Ｑ值，从而达到从生产出的磁芯中剔除...

本发明既是一种电力电缆故障测试方法，又是一种测试仪器。它是通过采用微处理技术实现对信息的采集与处理，改变用存贮示波管记录测试的方法测试电力电缆故障，使电力电缆及通信电缆故障的测试智能化、自动化、提高了测试精度。实现本发明的关键技术是采用...

本发明涉及一种固体电介质复介电常数的测量方法。该方法主要解决现有谐振腔法和开腔法要求试样的体积较大，而微扰法又要求试样的体积远远小于谐振腔体积的缺陷。将硬件测试系统等效为多个网络元件的级联，用微波网络反演出试样的复介电常数。其方法是利用...

本发明公开一种电容型设备介质损耗在线监测系统，包括测试仪、中心计算机和电流采样电路。所述测试仪通过ＧＰＲＳ无线网络、ＧＰＲＳ服务器、Ｉｎｔｅｒｎｅｔ网络与中心计算机互连通信，接收中心计算机的采集命令并对采集信号进行滤波、量化、存储和转发...

本发明公开了一种主动反射面天线的电性能预测方法，主要解决在主动反射面天线面板调整时难以预测电性能的问题。其过程是：基于天线的基本结构参数和主动面板的划分情况，得到主动面板的初始位姿；在单块面板上选取采样结点，计算结点的相位差，合成单块面...

本发明公开了一种天线相位中心的自动测量系统。该系统包括：天线接收转台子系统、发射极化器子系统、发射接收子系统、伺服驱动数显子系统和计算机子系统，天线接收转台子系统和发射极化器子系统均与发射接收子系统、伺服驱动数显子系统和计算机子系统连接...

一种基于移动参考点的天线相位中心的测量方法，包括如下过程：（１）在测量系统上安装被测天线及源天线，调整被测天线和源天线对准，作为测量角的零点；（２）运行计算机子系统的控制及数据处理软件，控制二维平动装置的横向和纵向复位，保证方位旋转轴和...

利用小波变换提取电磁泄漏信号的电磁环境测试系统，其特征是，包括：　宽带天线，用于接收电磁环境或电子设备周围的泄漏电磁场信号，将其转变为电压信号；　频谱仪，对天线传送过来的信号进行采集、滤波、检波，将连续信号转变为数字处理信号；　带有ＧＰ...

本发明公开一种基于结构、电磁、热三场耦合的有源相控阵天线电性能预测方法，主要解决有源相控阵天线结构和热设计中机电热分离的问题。其过程是：基于有源相控阵天线结构和热设计参数，确定结构和Ｔ／Ｒ组件温度；根据温差载荷分析结果，进行天线有限元分...

本实用新型公开了一种微型ＣＯ、ＣＨ↓［４］气体报警器，采用电化学气敏元件传感器，电化学气敏元件传感器与一个电流－电压转换及放大电路相接，再接一个比较器，比较器输出信号推动一个报警芯片工作，报警芯片接有发声元件，上述元件及电路均装于一个微...

本发明涉及一种气敏传感技术领域，特别是一种制备氧化铁烟敏薄膜的方法。该方法采用金属有机化合物五羰基铁［Ｆｅ（ＣＯ）］－［５］作为反应源物质，采用常压化学气相淀积进行淀积，分别制备出掺杂和非掺杂氧化铁烟敏薄膜。该薄膜在烟雾Ⅰ级的浓度下，灵...

本发明涉及敏感技术领域，特别是一种制备酒敏薄膜的方法。该方法是用等离子增强型化学气相淀积法制备氧化铁酒敏薄膜，其关键是参加化学气相淀积反应的源物质采用了金属有机化合物五羰基铁［Ｆｅ（ＣＯ）－［５］］。用此方法制备的氧化铁酒敏薄膜，在１０...

本发明提供了一种测试应变硅锗薄膜材料杂质浓度的方法。该方法的关键是通过理论分析和模拟，创建Ｎ型和Ｐ型Ｓｉ↓［１－ｘ］Ｇｅ↓［ｘ］材料电阻率ρ与杂质浓度Ｎ↓［Ｄ］或Ｎ↓［Ａ］及Ｇｅ组分ｘ的关系曲线，进而用四探针法测试应变Ｓｉ↓［１－ｘ］Ｇ...

一种单面抛光衬底外延薄膜厚度和光学参数的测量方法，是要得出外延薄膜厚度ｄ、外延薄膜折射率ｎ和外延薄膜吸收系数α，其具体步骤如下：　　　　１）对长在单面抛光衬底上的外延薄膜进行透射谱的测量，得到透射谱极值数据Ｔ↓［Ｍ测］和Ｔ↓［ｍ测］，以...

本发明公开了一种火箭固体推进剂燃速测试系统，它涉及测试仪器技术领域，其目的是采用该系统以提高对固体推进剂燃速的测试精度和测试效率，实现对测试数据进行管理与数据自动处理，并实现测试过程的自动化。该系统是在现有技术的基础上采用了计算机技术，...