本发明公开了器件性能确定模型的构建方法、装置、设备、介质及产品，涉及半导体器件建模技术领域。该方法包括：分别响应于在交互界面对初始模型的输入层和输出层的配置操作，在交互界面的模型展示区域中展示输入层和输出层；响应于在交互界面对初始模型的...

本发明公开了一种GaN器件AC仿真方法、装置、设备以及存储介质，所述方法包括：根据目标GaN器件的栅极仿真电压、漏极仿真电压和源极仿真电压，以及转换系数和训练好的电荷确定模型，确定第一等效电容、第二等效电容和第三等效电容；根据栅极仿真电...

本发明实施例公开了一种集成电路数字后端物理优化方法、设备、介质及产品。该方法包括：对待优化电路图进行预处理得到电路图中的管脚节点及节点间的互连线；根据管脚节点及互连线进行电路图的布线估计；根据电路图预处理结果及布线估计结果，确定电路图中...