本发明涉及利用重复图像的ＦＰＤ基板及半导体晶片检查系统，更详细地说，涉及如下的利用重复图像的ＦＰＤ基板及半导体晶片检查系统：针对埋在平板显示面板内或存在于表面、或者从表面突出的微粒，通过一次扫描获取重复的２张以上的图像，从而可通过检查一...