统宝光电股份有限公司专利技术

统宝光电股份有限公司共有753项专利

  • 本发明公开了一种垂直配向型液晶显示器及电子装置。在本发明的垂直配向型(VA型)液晶显示器中,通过分别在上下两片基板的上下两电极形成狭缝部,可以防止由液晶分子的倾斜所导致的核心的移动,进而防止光学特性劣化。其中,上下两片基板夹着液晶分子;...
  • 本发明提供一种液晶显示装置、背光模块及电子装置,通过特定液晶显示装置中的棱镜片与偏光板的配置关系,实现亮度的提高,所述液晶显示装置于背光与所述背光的液晶显示装置侧的偏光板之间配置含有一或两片以上棱镜片所组成的聚光棱镜片,且邻接于所述偏光...
  • 一种液晶显示装置,用以不降低开口率及提升透射率。该液晶显示装置包括:具有像素电极的基板,具有共用电极的基板、以及两者间的液晶层,其中,当没有施加电压时,上述液晶层内的液晶分子为垂直排列,且其中,每一像素包括一个或多个次像素,而对应于上述...
  • 本发明提供穿透式或半反穿式液晶显示设备,其特征为:不使用偏光板及反射型偏光膜,为了提高穿透式或半反穿式液晶显示器中的光利用率,在与彩色滤光器相对的基板上设有一透过部,该透过部靠近液晶侧内面,设有一绕射光栅,且依液晶的折射率的关系限定光栅...
  • 本发明涉及一种显示面板及一种形成一显示面板的方法。该方法包含形成具有多个开口的阻障层。于阻障层上形成彩色滤光层,彩色滤光层具有多个单元以及多个黑色矩阵结构,该多个黑色矩阵结构介于多个单元之间。多个开口的第一宽度及多个黑色矩阵结构的第二宽...
  • 本发明提供一种液晶显示装置及电子装置,即使在显示面板施加局部的外部压力,也不容易产生图像显示不均(区块),即使产生区块也可快地消除,并且即使在高解析度的显示面板,也可提供能够确保高开口率且实现明亮、艳丽的图像显示。本发明的实施例之一的液...
  • 本发明公开了一种背光模块,其包括下盖、导光板、至少一光学膜片以及光源。下盖包括底部、多个侧边以及弹性定位构件,其中多个侧边连接于底部,并围成一空间,而弹性定位构件则连接于多个侧边,并朝该空间延伸。导光板设置在下盖内。光学膜片设置在导光板...
  • 本发明提供一种修补彩色滤光片的缺陷的方法及其装置,包括以下步骤。提供一彩色滤光片,其包括一基板,以及形成于基板上的具有突起缺陷的透光彩色层。接着,将一导热物质加热,使加热后的导热物质接触突起缺陷,以使突起缺陷经热烧解而被去除而形成一凹下...
  • 一种彩色滤光片制程,是采用压印屏蔽(imprint  mask)搭配压印方式与干式蚀刻(dry  etching)制程,可以取代传统的湿式显影制程,并达成下列优点:提高彩色单元的图形均匀度、改善彩色单元的膜厚平坦度、增加分辨率、缩短制程...
  • 一种检测电路及信号检测方法。该检测电路包括具有电流取样晶体管、电容组、放大器以及开关组的电流取样电路及检测器。电容组设置在栅极与源极之间,用以储存栅极与源极之间的压差,栅极与源极之间的压差对应于欲取样电流。放大器具有输入端以及输出端,并...
  • 一种晶体管电路,包括第一输出晶体管、第二输出晶体管、以及开关配置。第一与第二输出晶体管用来提供输出信号至晶体管电路的共同输出端。开关配置将第一输出晶体管的输出端与第二晶体管的输出端依次地耦接至共同输出端,其中,第一与第二输出晶体管受到控...
  • 一种像素测量方法。该像素测量方法适用于测量显示器中的未敷上发光元件的像素。该像素测量方法是在未敷上发光元件的像素中,在连接于发光元件的一极的电子元件的开路端,与增加的共用线(或者是显示器中原有的扫瞄线或数据线)之间形成电容。然后,经由电...
  • 一种植入有机发光二极管之前测试有机发光显示器(OLED)的多个驱动电路的方法,该有机发光显示器包含:    一写入扫描线,用以启动要测试的一驱动电路;    一数据线;    一电源线;以及    一数组基板,用以将该多个驱动电路制作于...
  • 一种老化测试系统,其与多个平面显示面板电连接,用以对这些平面显示面板进行老化测试,该老化测试系统至少包含:    一信号发生器,用以产生一电源信号及一第一控制信号;    至少一信号调节电路,其电连接于该信号发生器,用以根据一检测条件而...
  • 一种平面显示器的测试装置,它电连接至一第一驱动线、一图像信号源和一短路杆信号源,该测试装置包括:    一电连接至该第一驱动线的第一焊垫;    一电连接至该第一焊垫的探测端;以及    一开关元件,该开关元件具有一控制极端、一第一端和...
  • 一种非破坏性接触的检测方法,适于在一检测温度下检测一待测物的电气特性,其特征在于该非破坏性接触的检测方法包括以下步骤:    提供一检测设备,其包括有一导体,其中该导体在该检测温度下呈液态;以及    使用该导体接触于该待测物的表面,用...
  • 一种驱动电路的量测方法,其特征在于该驱动电路包括一扫瞄线驱动电路及一资料线驱动电路,用以驱动一显示器,该显示器包括复数条扫瞄线及复数条资料线,每一该些扫瞄线的起始端是耦接至该扫瞄线驱动电路,每一该些数据线的起始端是耦接至该资料线驱动电路...
  • 一种显示面板的高温老化测试装置,其包括热炉构件、架子构件以及可移动底座。其中,热炉构件用以提供一测试温度,而架子构件上有一侧面板,此侧面板上设置有多个测试单元,每一测试单元可连接一测试面板,且架子构件上已设置有一驱动电路及一灯具,而可移...
  • 一种基片缺陷检测装置,用于实时检测一基片的缺陷,该基片缺陷检测装置至少包括:    一图像提取装置,配置在该基片周围上方任意一位置,以提取该基片对应于该位置处的图像;以及    一图像识别系统,电连接到该图像提取装置,以判断该图像提取装...
  • 一种测量模具,适于测量一面板的尺寸,其特征在于,所述测量模具包括:一底板;以及多个框架,这些框架配置于所述底板上,其中每一框架具有一矩形开口,远离底板的矩形开口大于邻近底板的矩形开口,且远离底板的矩形开口将邻近底板的矩形开口暴露。