本发明提供一种适用边缘设备的图片识别架构和设备，包括MTCNN模型，所述MTCNN模型包括P‑Net网络、R‑Net网络和O‑Net网络，所述P‑Net网络、R‑Net网络和O‑Net网络内通过GhostNet网络替换卷积计算，以节省参...

本发明提供一种可降低单粒子故障影响的图片识别架构，包括，步骤一，确定关键神经元，通过对抗样本进行梯度攻击以确定图片识别架构中所有关键神经元；步骤二，确定关键路径，图片识别架构的每层均添加mack参数，以获取每层内单个路径的mack输出，...

本发明提供一种基于交换机的pattern文件多路同步下发方法，包括获取主机端PC1网口的MAC信息、获取PC2网口的MAC信息、pattern信息和pattern信息的类型信息，生成N个均以PC2网口的MAC信息为目的地址字段、PC1网...

本发明提供一种老练测试一体机用的pattern文件快速下发方法，包括PC端转换并编译pattern总文件，以获取向量信息和标号信息；获取pattern子文件的文件信息、TimeSet信息、PinList信息，将文件信息、TimeSet信...

本发明提供一种基于交换机的pattern文件多路同步下发方法，包括获取主机端PC1网口的MAC信息、获取PC2网口的MAC信息、pattern信息和pattern信息的类型信息，生成N个均以PC2网口的MAC信息为目的地址字段、PC1网...

本发明提供一种自动测试霍尔开关器件动作延迟时间的方法和系统，包括步骤一，磁场发生器流通第一电流，以产生磁场强度变化一个单位所需时间远小于霍尔器件延迟的第一变化磁场，高频采样设备采集霍尔器件动作时的电流值并定义成电流阈值；步骤二，第二电流...

本发明提供ADC测试系统的自动配置相干采样频率采样方法，包括如下步骤：S1：为模拟输入信号预制一原始输入频率，将原始输入频率输入至上位机进行测试得到FFT数据以及中心频率；S2：二分频处理后得到当前输入频率；S3：再次进行数据采样得到与...

本发明提供一种高速高精度的数据传输系统和方法，包括有接收高速的串行数据并转换成低速的并行数据，依据并行数据其每路数据到达采样口时间获取每路数据的延时值，依据延时值调整每路数据的输出延时，接收端同步接收并行数据。本发明能够使控制模块高速高...

本发明提供一种SRAM单粒子翻转故障模拟测试系统和方法，包括有用于配置若干组写入SRAM内的准确数据集的信息配置模块和用于往SRAM内写入、擦除和读取随机棋盘格的信息读写模块，所述准确数据集内数据依据SRAM内地址成棋盘格排列，所述信息...

本发明提供运放测试系统管脚识别自学习方法，包括选取测试芯片其一管脚为当前测试管脚，其余管脚为当前待测管脚，输入第一测试指令，输出电压满足第一判定条件时，标记最低参考电位管脚和未知管脚；输入第二测试指令，输出电压满足第二判定条件时，标记电...

本实用新型提供一种电源测试的瞬态负载生成电路，包括有U3运放，所述U3运放的OUT端口与连接有INN端口之间串接有增益电路；所述增益电路包括有栅极与U3运放的OUT端口连接的Q7mos管，所述Q7mos管的源极与U3运放的INN端口之间...

一种ADC器件及DAC器件验证方法，包括：步骤S1，采集ADC芯片的数据信号及时钟信号进行缓存处理，经过跨时钟域处理后，写入随机存储器，读出随机存储器的数据信号进行分析处理，完成ADC各项性能指标的计算，及频域与参数实时图形化显示；步骤...

本发明提供集成电路芯片OS测试机，包括背板，背板通过连接器连接有母板，母板包括FPGA主控单元、PMU测量单元以及呈树形结构排布的若干通道切换组，每组通道切换组均包括一继电器开关以及四条独立通道，每条独立通道与另一通道切换组的继电器开关...

本发明提供一种FPGA的测试系统及方法，包括有待测FPGA和CPU主控，所述CPU主控通过主以太网模块与PC端连接，所述PC端将若干用于测试FPGA内单一功能模块的测试程序传输至CPU主控，所述CPU主控连接有用于存储测试程序的DDR存...

本发明提供电源测试系统，包括验证母板和验证子板，验证母板包括FPGA主控模块和继电器阵列，FPGA主控模块用于接收来自上位机的直流信号，通过FPGA主控模块向继电器阵列输出控制信号以控制相应通路控制电路选通，从而实现相应测试电路的接通，...

本发明提供一种适用于不同通信端口的检测脉冲调制和使用方法，包括有获取用于改变波频率和形状的命令集，并控制发生器输出的主频波；命令集内包括有用于定时划分主频段的时段值和顺序设置的若干用于改变发生器输出波形的波形变换指令，依据时段值对发生器...

本发明提供一种检测机用调制波的读取方法，包括S1：获取激励波信号的传输周期和测试设备的基准周期，依据传输周期和基准周期获取循环值和补偿时间；S2：测试设备间隔循环值个基准周期并延迟补偿时间后读取一次信号，叠加补偿时间生成总延时；S3：判...

一种串口芯片测试系统的验证电路，包括测试电路，所述测试电路包括测试芯片、开关电路及标准芯片；所述测试芯片连接所述开关电路的输入端，所述开关电路的输出端连接所述标准芯片，将所述测试芯片及所述标准芯片设置成一发一收状态，与所述标准芯片数据进...

一种串口芯片测试系统的应用电路，包括连接电路、扩展电路及测试电路；所述连接电路分别与所述扩展电路及所述测试电路连接，所述扩展电路芯片型号为PCA9506BS，通过所述扩展电路切换所述测试电路的测试通道且增加测试通道传输测试参数；所述测试...

一种总线板级协议验证电路，包括测试母板、子板接口电路，所述测试母板包括NI板卡电路及继电器控制电路，NI机箱与所述测试母板电性连接，所述NI机箱将所述测试母板的信号进行传输控制；所述NI板卡电路及所述继电器控制电路均与所述子板接口电路连...