运放测试系统管脚识别自学习方法技术方案

本发明专利技术提供运放测试系统管脚识别自学习方法，包括选取测试芯片其一管脚为当前测试管脚，其余管脚为当前待测管脚，输入第一测试指令，输出电压满足第一判定条件时，标记最低参考电位管脚和未知管脚；输入第二测试指令，输出电压满足第二判定条件时，标记电源管脚和未知管脚；依据测试芯片的管脚排布约束条件剔除管脚并得到运算放大器功能管脚；从中选两个短接，向剩余管脚输入正弦信号，当得到波形幅值相同，相位相同时，定义输入端和输出端，然后进行反向一倍放大测试过程以得到正相输入端和反相输入端对应位置。本发明专利技术通过逻辑判断就能够自动识别测试芯片各管脚功能配置定义。够自动识别测试芯片各管脚功能配置定义。够自动识别测试芯片各管脚功能配置定义。

【技术实现步骤摘要】
运放测试系统管脚识别自学习方法


[0001]本专利技术涉及芯片测试
，具体涉及运放测试系统管脚识别自学习方法。

技术介绍

[0002]目前自动化控制发展迅速，控制芯片的功能趋于更加的复杂化和多样化，其芯片本身来实现众多的复杂功能。对芯片外部来说基本通过管脚复用的形式来实现芯片各种功能的分时复用。芯片功能和外部管脚的复用同样的越加趋于复杂化。
[0003]芯片测试方法相较于芯片具有明显滞后性，也就是说在芯片制造完成之后需要花费时间设计新的与之相适配的测试方法，从而间接增加了芯片的测试成本。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本专利技术要解决的问题是提供运放测试系统管脚识别自学习方法。
[0005]为解决上述技术问题，本专利技术采用的技术方案是：运放测试系统管脚识别自学习方法，包括如下步骤：
[0006]S1：测试芯片的各管脚一一对应有一PIN序号，选取测试芯片其一管脚为当前测试管脚，其余管脚为当前待测管脚，向测试芯片输入第一测试指令，测试并保存其输出电压，判断输出电压是否满足第一判定条件，是则将当前本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.运放测试系统管脚识别自学习方法，其特征在于，包括如下步骤：S1：测试芯片的各管脚一一对应有一PIN序号，选取测试芯片其一管脚为当前测试管脚，其余管脚为当前待测管脚，向测试芯片输入第一测试指令，测试并保存其输出电压，判断输出电压是否满足第一判定条件，是则将当前测试管脚标记为最低参考电位管脚，当前待测管脚标记为未知管脚；否则更换当前测试管脚并重复该步骤，执行S2；S2：选取其一未知管脚为当前测试管脚，其余未知管脚为当前待测管脚，向测试芯片输入第二测试指令，测试并保存其输出电压，判断输出电压是否满足第二判定条件，是则将当前测试管脚标记为电源管脚，当前待测管脚标记为未知管脚；否则更换当前测试管脚并重复该步骤，执行S3：S3：获取并根据最低参考电位管脚、电源管脚以及未知管脚的PIN序号，依据测试芯片的管脚排布约束条件得到排查序号，将与排查序号所对应的管脚从未知管脚中剔除，剩余管脚记为运算放大器功能管脚；S4：选取其二运算放大器功能管脚短接，向剩余的运算放大器功能引脚输入正弦信号，当得到其二运算放大器管脚波形幅值相同，相位相同时，将其二运算放大器管脚定义为输入端，将剩余的运算放大器功能引脚定义为输出端，然后进行反向一倍放大测试过程以得到正相输入端和反相输入端对应位置。...

【专利技术属性】
技术研发人员：张大伟，屈粮富，姚文达，
申请(专利权)人：天津普智芯网络测控技术有限公司，
类型：发明
国别省市：