本发明公开了一种芯片自主设计的鉴定方法和装置，该方法包括根据提供的电子版图选定芯片的鉴定层次，在鉴定层次对应的电子版图中选取坐标原点和特征属性图案，记录特征属性图案中特征点到坐标原点的相对坐标；对芯片开封去层，将鉴定层次裸露出来；利用场...