本发明涉及自动光学检测技术领域，具体公开了一种用于高密度元件的光学检测与标定方法及系统。所述方法首先依次对每个DLP投影仪进行标定，通过烧录特定图案建立测量基准；随后，控制所有已标定的DLP投影仪从不同方位向被测元件表面投射正弦结构光条...