本实用新型公开了一种开放式凸轮下压机构，涉及压下机构技术领域，括操作台，所述操作台的顶部固定有闭合止位块，所述闭合止位块的一侧固定有导轨，且导轨的一侧固定有打开止位块，所述导轨的上方设置有压板支架，且压板支架的顶部通过轴承转动连接有凸轮...

本实用新型提供了一种芯片测试座及摄像头芯片测试装置，涉及芯片测试技术领域，芯片测试座包括底座、能够盖合固定在底座上的上盖、压紧件以及镜头；底座上设有用于放置芯片的芯片测试槽，上盖设有贯穿的螺纹孔，在上盖盖合固定在底座上时，螺纹孔朝向芯片...

本实用新型提供了一种涂膏工装及植球治具，涉及治具领域，所述涂膏工装包括探针和针模，所述针模上设置有穿针孔，所述穿针孔为通孔，所述探针可拆卸的插装在所述穿针孔内；还包括第一上盖和第一下盖，所述第一上盖内设置所述针模，所述第一下盖上设置有膏...

本实用新型提供了一种芯片测试治具，涉及治具领域，所述芯片测试治具包括座体和固定板；所述固定板的一侧板面上设置有主板槽，所述主板槽的槽型与线路板的外形匹配；所述座体包括上盖和下盖；所述上盖有压块，所述下盖设置有层叠布置的芯片限位框和底框，...

本实用新型涉及电器技术领域，尤其是涉及一种座头。座头包括：座头上盖和座头下盖；所述座头上盖的一端与所述座头下盖的一端铰接，所述座头下盖的另一端设置有定位槽，所述定位槽内设置有转动机构，所述座头上盖的另一端设置有卡扣，所述卡扣与所述转动机...

本实用新型提供了一种内存条芯片测试装置，涉及电子设备领域，为解决内存条芯片测试装置不便于加工生产以及稳定性差的问题。所述内存条芯片测试装置包括：针模组件、针模套框以及连接销，其中，所述针模组件设置在所述针模套框中，用于固定所述内存条芯片...

本实用新型涉及电器技术领域，尤其是涉及一种旋钮机构。本旋钮机构包括：旋钮主体和座头；所述座头上设置有用于容纳所述旋钮主体的容纳槽，所述容纳槽的内侧壁上设置有限位件，所述旋钮主体靠近所述座头的一端设置有定位块，所述定位块可转动地设置在所述...