本发明涉及老化测试技术领域，公开了一种电子元器件可靠性老化测试评估系统，所述可靠性老化测试评估系统包括参数设定模块、图像采集模块、初检模块、特征状态检测模块和可靠性检测模块；通过精准设定关键特征位置，有针对性检测关键部位；利用高清图像采...