本技术涉及电子芯片测试技术领域，特别涉及一种测试结构及测试装置，包括第一测试片和第二测试片；所述第一测试片包括第一主体部以及设置于所述第一主体部一端端部的第一接触部；所述第二测试片包括第二主体部以及设置于所述第二主体部一端端部的第二接触...

本技术涉及电子芯片测试技术领域，特别涉及一种测试弹片及测试装置，包括测试结构、连接结构和固定结构，所述测试结构、连接结构和固定结构沿第一方向依次连接；以及所述测试结构包括接触部和抵持部，所述接触部和抵持部沿第二方向设置，所述接触部和抵持...

本发明涉及电子芯片测试技术领域，特别涉及一种测试弹片及测试装置，包括测试结构、连接结构和固定结构，所述测试结构、连接结构和固定结构沿第一方向依次连接；以及所述测试结构包括接触部和抵持部，所述接触部和抵持部沿第二方向设置，所述接触部和抵持...

本实用新型涉及电子芯片测试技术领域，特别涉及一种快速夹芯片测试装置，包括：测试座以及设置于所述测试座上的测试结构，所述测试结构包括至少一组相对设置的两个测试片，两个所述测试片之间形成有供电子芯片的管脚插入的测试通道，两个所述测试片相背离...

本实用新型涉及电子芯片测试技术领域，特别涉及一种翻盖式芯片测试装置，包括：测试座以及相对设置于所述测试座上的两个测试片，两个所述测试片之间形成有供电子芯片的管脚插入的测试通道，两个所述测试片相背离的一侧设置有凸起部；浮动板，设置于所述测...

本实用新型涉及电子芯片测试技术领域，特别涉及一种芯片测试装置，包括：基座，设置有定位槽；支撑座，可沿竖直方向活动设置于所述定位槽内，所述支撑座与所述基座之间设置有第一弹性件；测试结构，分别沿第一方向设置于所述支撑座的相对两侧，用于与电子...

本实用新型涉及电子芯片测试技术领域，特别涉及一种测试结构及测试装置，一种测试结构，包括：至少一组测试片组，所述测试片组包括两个测试片，每一个所述测试片包括主体部以及所述主体部设有的测试部，其中，两个所述测试片的主体部分别沿竖直方向相间隔...

本实用新型涉及电子芯片测试技术领域，特别涉及一种测试结构及测试装置，包括：至少一组测试片组，所述测试片组包括两个测试片，每一个所述测试片包括测试部，两个所述测试片的测试部分别沿水平方向并列且相互独立设置，并且两个所述测试部相背离的一侧分...

本实用新型涉及电子芯片测试技术领域，特别涉及一种芯片测试装置，包括：基座，设置有第一容置部，所述第一容置部的相对两侧还分别设置有第二容置部；支撑座，沿竖直方向活动设置于所述第一容置部内，且所述支撑座与所述基座之间设置弹性件，所述支撑座具...