本实用新型提供一种抗干扰异步修调晶圆测试用探针卡，用于对晶圆上的芯片进行测试，其中探针卡上具有分开排布的一组熔丝探针和两组测试探针，所述的一组熔丝探针排布在两组测试探针之间；采用本实用新型探针卡在测试芯片时，对于某一芯片而言，每次只会有...

本发明公开了一种ＦＰＧＡ配置文件的生成方法，包括如下步骤：（１）用软件工具建立新的设计文件；（２）手动实现至少一个可配置逻辑模块或输入输出模块的逻辑设计；（３）生成所述可配置逻辑模块或输入输出模块的位流文件；（４）用位流数据专用分析软件...

一种ＦＰＧＡ配置文件与ＣＬＢ块配置资源的映射方法，包括如下步骤：（１）通过不同配置的位流数据比较获得ＣＬＢ块配置数据块的位宽。（２）通过不同配置的位流数据比较获得ＣＬＢ块配置数据块的行数。（３）通过计算获得ＦＰＧＡ配置文件与ＣＬＢ块配置...

本发明的抗氧化修整熔丝的方法包括以下步骤：测量熔丝探针的阻抗；判断熔丝探针的阻抗是否大于上限值，如果是，清理熔丝探针，再回到上述步骤，如果否，执行下述步骤；根据公式Ｖ＝Ｒ×Ｉ设定熔丝电路的输出电压，其中，Ｖ表示熔丝电路的输出电压，Ｒ表示...

本发明的熔丝类晶圆修调参数的方法包括以下步骤：初始化变量β和ｉ，创建临时数据文件；ｉ＝ｉ＋１；判断ｉ是否小于等于Ｌ，如果为是，执行下一步骤，如果为否，结束本批次熔丝类晶圆的参数修调；测量第ｉ个集成电路参数的初始值Ｖｉｎｉｔ＿ｉ；判断所述...

本发明提出一种探针测试线路及其设计方法，所述方法包括：熔丝探针焊盘通过插件和熔丝熔断电路相连；测试外围焊盘通过插件和测试外围电路相连，所述熔丝探针焊盘位于所述测试外围焊盘内；在所述熔丝探针焊盘和所述测试外围焊盘之间用电气隔离层相隔。本发...

本发明提出一种探针接触电阻在线测量方法，包括以下步骤：探针卡连接被测芯片和测试机，探针卡上的测量探针直接与被测芯片上的焊盘相连，焊盘上连接第一电线和第二电线；增加一测试探针，测试探针和第一电线相连；在第二电线上施加电压，并测得第二电线上...

本发明公开了一种ＦＰＧＡ配置器件的ＡＴＥ测试方法，包括如下步骤：（１）依次在ＶＣＣｉｎｔ端和ＶＣＣＯ端上电；（２）进入在系统可编程状态；（３）写入时间常数；（４）进入写数据模式，写入一帧数据；（５）处理移入的数据；（６）数据写入存储单元...

本发明提供一种抗干扰异步修调晶圆测试方法，采用探针卡对晶圆上的芯 片进行测试和修整，所述探针卡上具有测试探针和熔丝探针两种探针，包括以 下步骤：步骤一、测试芯片在修整熔丝之前的初始值；步骤二、修整熔丝；步 骤三、测试修整熔丝之后的最终修...