上海安路信息科技股份有限公司专利技术

上海安路信息科技股份有限公司共有119项专利

  • 本发明公开了一种二进制多路选择器的信号处理方法、装置及多路选择器,所述方法包括:从二进制多路选择器的多个二选一多路器中任意选择一个目标多路器;对目标多路器的任意一个数据端口的子树进行翻转处理得到翻转多路器;按照翻转多路器的多个二选一多路...
  • 本发明提供一种DDR门控信号的训练系统、训练方法及介质,该训练系统包括逻辑控制模块和IO模块,IO模块连接至DDR颗粒,所述逻辑控制模块包括命令生成子模块、延迟控制子模块和采样结果判断子模块;IO模块包括延迟子模块和采样子模块;命令生成...
  • 本发明提供一种基于指令集控制的DDR训练系统、训练方法及介质,该训练系统使用多笔连续写命令扩展WDQS信号,操作灵活简单,包括:DDR训练控制模块和IO模块,DDR训练控制模块包括命令生成子模块、片选处理子模块、第一整UI延迟子模块、第...
  • 本申请涉及数字电路,公开了一种多位宽二进制多路选择器及降低其扇出的方法和系统,可以在不使用额外电路元件的前提下,降低多位宽二进制多路选择器的扇出最大值。该方法包括:建立选择端输入向量的所有取值与数据输入端口的映射关系;至少执行一次以下调...
  • 本发明公开了一种可编程逻辑器件的位流修复方法、装置及可编程逻辑器件,所述方法适用于设有CSRAM缓存、FABRIC用户逻辑电路和访问CONFIG电路的可编程逻辑器件,所述可编程逻辑器件与外接的FLASH缓存连接。本发明可以让FABRIC...
  • 本发明提供一种基于数字电路的数据激活方法及系统、计算机存储介质,包括:划分激活函数,以挑选出应用于数字电路的激活函数;对挑选出的激活函数进行图像区域划分,并生成查找表;根据量化神经网络计算地址计算参数和量化输出参数;配置激活函数;利用配...
  • 本发明提供一种基于最近邻算法的晶圆图批量分析方法,包括:获取晶圆图;基于最近邻算法构建晶圆图分析模型;利用训练集对晶圆图分析模型进行训练;利用训练后的晶圆图分析模型对晶圆图进行分析预测,以得到晶圆图的分析预测结果,所述分析预测结果包括预...
  • 本发明公开了一种可编程器件内硬核电路的线路布局确定方法及装置,所述方法包括:在可编程门阵列器件中确定可与硬核电路端口直连的第一可编程逻辑资源,并确定第一可编程逻辑资源在可编程门阵列器件的平面直角坐标系;在平面直角坐标系内查找使用率满足预...
  • 本发明提供一种DDR写均衡电路系统及其训练方法,包括标准延迟模块和可配置逻辑资源模块;所述标准延迟模块用于调整整体延迟时间的长短,所述标准延迟模块包括SDL单元和CDL单元;所述可配置逻辑资源模块用于实现对DDR接口信号的控制,以及实现...
  • 本发明公开了神经网络前处理的方法、装置及系统。接收待处理的原始输入数据,并对原始输入数据进行数据提取,获得原始输入数据对应的第一浮点系数;根据当前的移位参数,对第一浮点系数进行移位迭代处理,直到移位后的第一浮点系数大于预设阈值,获得迭代...
  • 本申请涉及芯片测试技术领域,公开了一种通用型芯片温控转接器,适用于连接芯片、PCB板和温控设备,具有良好的通用性,有利于提高芯片特性测试效率;温控转接器包括温控设备接头、卡扣接口、若干粗调连杆和细调垫片:PCB板上平放芯片的位置周围设置...
  • 本申请涉及集成电路技术领域,公开了一种FPGA内可配置SRAM的写入电路及方法,在设计成本增加较低的情况下,提高了SRAM的写可靠性,其中:配置控制模块连接数据控制器;数据控制器分别通过多对位线和负位线连接配置存储单元阵列,每对位线和负...
  • 本发明公开了一种关于定制系统与半定制逻辑的数据交互方法、装置及系统,所述方法应用于与半定制逻辑通信的定制系统,所述方法包括:在获取对所述半定制逻辑的访问命令后,根据所述访问命令确定数据的处理场景;当所述处理场景为实时处理场景,则以同步传...
  • 本发明提供了一种IO电路,包括热插拔检测电路、热插拔控制电路、终端电阻和IO基础功能电路,所述终端电阻与所述IO接触功能电路连接,所述IO基础电路用于实现输入输出功能,所述热插拔检测电路用于根据输入信号为所述热插拔控制电路提供电压,所述...
  • 本发明公开了过采样数据的恢复方法
  • 本发明公开了路由器输入仲裁方法
  • 本发明提供一种基于自适应动态数字电路的乘累加系统及其设计方法,包括:设计乘累加控制器;设计加法器的输入信号;将所述乘累加控制器与所述加法器和乘法器有机连接,以得到乘累加系统;设计指示信号,所述指示信号用于指示所述乘累加系统的最终输出值
  • 本发明提供了一种
  • 本发明公开了一种串行接口电路,该电路包括:偏置电路和
  • 本申请涉及存储器领域,公开了一种存储控制器内建自测试的系统,包括内建自测试控制器