本发明涉及光学组件之间的光学耦合，且更特别地，涉及一种被配置用于至少一个微光学组件(50)的光学测试的光学探针(1)、用于产生光学探针(1)的方法、及用于至少一个微光学组件(50)的光学测试的方法。该光学探针(1)包括：‑探针头(10)...

本发明涉及光学组件之间的光学耦合，且更具体地，涉及一种被配置用于至少一个微光学组件（50）的光学测试的光学探针（1）、一种用于制造光学探针（1）的方法及一种用于至少一个微光学组件（50）的光学测试的方法。该光学探针（1）包括：‑探针头（...