一种使用一杂讯调变代理

半导体集成电路(IC)的结构测试，其包含例如从测试器装置将测试样式或测试状况扫描到所述半导体IC的内部电路。一时序边际可以在所述结构测试的期间加以测量。所述边际是根据在所述半导体IC的一测试信号路径以及一延迟的信号路径之间的比较的一特征...

本发明记载一种用于一多IC模块的输入/输出(I/O)感测器。该I/O感测器包括：延迟电路系统，其经组态以自该多IC模块的一IC的一互连部分接收一数据信号并生成一延迟数据信号，该延迟电路系统包含一可调整延迟线，该可调整延迟线经组态以使一输...