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美商新思科技有限公司专利技术
美商新思科技有限公司共有215项专利
用于标识存储器的自我时间和断点的技术制造技术
本公开涉及用于标识存储器的自我时间和断点的技术。本公开的某些方面包括用于存储器处理的方法。该方法一般包括:经由一个或多个处理器,并且针对存储器的不同数量的每部分列中的每一者,基于位线信号在读取窗口期间的至少一个被计算的斜率确定读取信号,...
时钟及数据恢复电路内的相位混合器非线性补偿制造技术
一种在活动操作期间补偿时钟及数据恢复(CDR)系统内的相位混合器电路非线性的系统和方法。CDR系统包括补偿电路和相位累加电路。补偿电路基于第一补偿值生成第一补偿信号。相位累加电路接收第一补偿信号和相位累加器输入更新信号。相位累加电路将第...
用于定位约束的偏置原因减少制造技术
本公开涉及用于定位约束的偏置原因减少。在一个示例中,获得在仿真被测设计(DUT)期间确定的控制二进制序列(CBS)。仿真包括使用由覆盖偏置器偏置的约束随机刺激发生器(CRSG)。CBS包括第一使能位,该第一使能位对应于由CRSG求解并且...
用于针对侧信道攻击保护乘法操作的盲化对策制造技术
本公开的实施例涉及用于针对侧信道攻击保护乘法操作的盲化对策。某些方面指向用于执行盲化操作的装置和方法。方法一般包括:获得用于乘法操作的第一操作数和第二操作数;经由一个或多个处理器,对第一操作数执行一个或多个移位操作或位翻转操作以生成第一...
电路设计仿真的动态控制制造技术
本公开的实施例涉及电路设计仿真的动态控制。对电路设计进行仿真包括接收电路设计。电路设计被映射到集成电路(IC)设备上。此外,被映射到IC设备上的电路设计通过插入第一变化检测电路和第一同步电路被装备。第一同步电路被连接到第一变化检测电路,...
标识可以是下游等价性检查器的验证复杂性来源的RTL代码并生成推荐以改进等价性检查器的运行时间制造技术
本公开的实施例涉及标识可以是下游等价性检查器的验证复杂性来源的RTL代码并生成推荐以改进等价性检查器的运行时间。本公开的各方面涉及通过左移过程来改进等价性检查器的运行时性能,该左移过程使用RTL lint工具来标识可以是下游等价性检查器...
具有低硬件占用空间的快速波形捕获制造技术
一种在硬件仿真系统中生成电路设计的波形的方法包括:使用系统的第一块在每个k*d仿真周期捕获输入信号,其中k和d是整数并且k≥0且d>0(10);使用第一逻辑块在每个(k*d+i)周期捕获被确定为相对于前一仿真周期已经改变的每个输入...
将逻辑网表转换为分层寄生网表制造技术
一种用于生成存储器设备的网表的系统和方法包括接收逻辑网表文件以及针对存储器设备的放置信息,逻辑网表文件包括存储器实例。每个存储器实例包括叶单元。此外,基于该放置信息,确定第一存储器实例的叶单元中的第一叶单元的位置和第二叶单元的位置。基于...
用于硬件仿真辅助模拟的电路的均衡细分制造技术
本公开的各实施例涉及用于硬件仿真辅助模拟的电路的均衡细分。公开了使用由硬件仿真系统捕获的初级信号集合来模拟电路设计的技术。在为模拟做准备时,电路设计被划分为大小基本一致的分区。然后基于跨分区的信号来标识顺序依赖性。所述初级信号集合包括当...
验证由针对顺序蕴涵的断言描述的非重叠事务制造技术
提供了对由针对顺序蕴涵的断言描述的非重叠事务的验证。接收用于电路设计的针对顺序蕴涵的断言,顺序蕴涵限定非重叠事务,在非重叠事务中,在现有事务仍待决时,新事务不被允许。将该断言转换为机器可读形式的有限字上的确定性有限自动机,该确定性有限自...
堆叠管芯中的定时分析制造技术
本公开提供了用于分析电路设计的系统和方法。一种方法包括接收包括第一管芯和定位在第一管芯上的第二管芯的电路设计,以及由处理设备生成第一虚拟接口块,该第一虚拟接口块包括第一管芯的部分和定位为与第一管芯相邻的第一虚拟管芯。第一虚拟管芯的最靠近...
减少仿真或原型设计中时钟控制和触发器操作的性能开销制造技术
第一电路可以被接收,第一电路生成就绪信号,其中就绪信号被用于停止和恢复仿真系统中的时钟信号集合,其中该时钟信号集合从仿真系统中的第一时钟信号导出,其中第一电路包括至少一个电路元件,该至少一个电路元件由时钟信号集合中的第二时钟信号时钟控制...
用于嵌入式存储器的供电跟踪电路装置制造方法及图纸
用于存储器装置的跟踪电路装置包括反相器、电平移位器、延迟电路装置和逻辑门。反相器被配置为接收第一时钟信号并且生成反相时钟信号。电平移位器被配置为接收第一时钟信号和反相时钟信号,并且生成电平移位时钟信号。延迟电路装置被配置为接收电平移位时...
用以增加模拟电路缺陷检测覆盖范围的自动测试图案生成制造技术
提供了用以增加模拟电路缺陷检测覆盖范围的自动测试图案生成。通过应用一系列不同策略来生成测试图案,以测试模拟电路中的规定的缺陷。每个策略有效地确定模拟电路针对试验测试图案的标称响应和缺陷响应。标称响应是模拟电路在没有规定的缺陷的情况下的响...
嵌入式存储器透明的系统内内置自测试技术方案
一种存储器透明的系统内内置自测试可以包括:在一个或多个测试会话的一个或多个测试间隔上,对存储器单元的子集执行系统内测试。测试间隔可以包括:将存储器单元的子集的内容复制到(多个)寄存器,向存储器单元的子集写入测试数据(例如,模式的片段),...
用于晶体管设计的仿真的参数校准制造技术
提供了用于晶体管设计的仿真的参数校准。一种系统和方法生成用于晶体管设计的模型,并且使用该模型来仿真晶体管设计。获得晶体管设计的二维模型。基于二维模型来确定用于晶体管设计的沟道的密度梯度模型,以生成第一组参数。基于二维模型来确定用于晶体管...
使用特征图像进行三维掩模仿真中的掩模制造效应制造技术
表示光刻掩模的布局几何形状的特征图像被接收。通过将特征图像与对应的三维掩模(M3D)滤波器进行卷积,来计算各个特征图像的掩模函数(MF)贡献。M3D滤波器表示该特征图像的电磁散射效应。至少一个M3D滤波器还考虑了由光刻掩模的制造过程产生...
用于静态时序分析的具有图案匹配的延迟计算制造技术
本公开涉及用于静态时序分析的具有图案匹配的延迟计算。一种针对电路设计执行静态时序分析的方法,部分地包括:标识电路设计的、与设计图案匹配的多个逻辑块;确定与第一逻辑块相关联的多个电属性的值,第一逻辑块表示多个逻辑块中的每个逻辑块;以及在静...
用于2.5D或3D集成电路的电源路由制造技术
实施例涉及一种电子电路,该电子电路使用第一集成电路管芯、第二集成电路管芯和中介层被实现,该中介层将第一集成电路管芯连接到第二集成电路管芯。第一集成电路管芯实现第一电子电路。第一集成电路管芯包括在底表面上的第一组接触部、埋入式电源轨(BP...
光学电路设计中的光学路径追踪制造技术
光子集成电路(PIC)设计包括各种路径。在设计过程期间,PIC设计的路径的属性被确定,并且被用来对PIC设计进行分析。确定路径的属性包括:接收包括多个器件的PIC设计(510)。此外,多个器件中的第一器件的第一引脚与多个器件中的第二器件...
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